• 223.52 KB
  • 2022-04-22 13:36:41 发布

GBT13694-2008α、β和γ平面标准源通用技术条件.pdf

  • 9页
  • 当前文档由用户上传发布,收益归属用户
  1. 1、本文档共5页,可阅读全部内容。
  2. 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
  3. 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  4. 文档侵权举报电话:19940600175。
'ICS27.120.99F51园目中华人民共和国国家标准GB/T13694--2008代替GB/T13694--1992a、肛和丫平面标准源通用技术条件Generalspecificationsfora,pand丫planarstandardsources2008-06-19发布2009—04—01实施宰瞀职紫瓣警糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会仅1” 刖昌GB/T13694--2008本标准代替GB/T136941992<(p,p平板标准源通用技术条件》。本标准与GB/T136941992相比主要有以下变化:a)标准名称改为《a、p和7平面标准源通用技术条件》;b)增加了8个术语和定义,更改2个术语和定义;c)增加了标准源新品种7个(驰Fe、238Pu、”9I、“1Am、盯Co、”7Cs、∞Co7标准源);d)增加了源的适用范围;e)增加了标准源的结构形式、核纯度检测方法、源效率和源底衬材料;f)增加了推荐使用的7标准源放射性核素及其过滤片的要求;g)修改了标准源的表面发射率推荐范围;h)增加了平面标准源活度的不确定;i)增加了标准源活性面尺寸和源底衬平面外形尺寸;j)增加了标准源的安全性和牢固性;k)增加了标准源说明书。本标准由中国核工业集团公司提出。本标准由全国核能标准化技术委员会归日。本标准起草单位:中国原子能科学研究院同位素研究所。本标准主要起草人:林辉、赵靖、杜俊英、倪敬宽。本标准所代替标准的历次版本情况为:GB/T136941992。 a、p和丫平面标准源通用技术条件GB/T13694--20081范围本标准规定了a且7平面标准源(以下简称“标准源”)的分级、技术要求、有效使用期、包装、运输等内容。本标准适用于检定校准放射性表面污染监测仪和校准放射性测量仪器和装置的平面标准源。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T7161非密封放射性物质识别和证书GB11806放射性物质安全运输规程GB/T12164用于校准剂量(率)仪及确定其能量响应的p参考辐射EJ/T804放射性同位素产品代号3术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1平面标准源planarstandardsource放射性物质牢固固定在源底衬上,其表面粒子发射率和活度是由国家基准或国家计量行政部门考核合格的标准装置、传递仪器测量给出的平面放射源。3.2表面发射率surfaceemissionrate单位时间内从标准源表面或标准源窗射出的特定类型和能量的粒子数。3.3源效率sourceefficiency标准源的某种粒子的表面发射率与源内单位时间产生或释放的同种粒子数之比(以百分数表示)。标准源效率定义见式(1)。3.4es一警×lOOYo式中:e,——标准源效率(%);q:。——标准源的表面发射率,单位为rain_1·(2xsr)~;A——标准源活度,单位为Bq。自吸收self_absorption源材料对标准源自身发射的辐射的吸收。 GB/T13694--20083.5饱和层厚度saturationlayerthickness由均匀物质构成的标准源的饱和层厚度是指与指定的粒子辐射在源介质中的最大射程相等的介质厚度。3.6薄源thinSotlrce放射性物质发出的有用辐射被其自身和保护层所吸收的部分可以忽略的一种放射源。3.7源底村backingplate制备标准源时使用的用于固定放射性物质的支撑体。3.8活性区activezone平面标准源内放射性物质所在的区域。3.9均匀性uniformity均匀性是表示放射性物质在标准源活性区分布的均匀程度。注:为了表达用单位面积发射率表示的某一源表面发射率的均匀性,可把标准源视为由相等面积的若干部分组成。均匀性为各单个部分测量值的标准偏差与整个源面积上各测量值的平均值之比。单个部分的面积应小于1000mm2。标准源的均匀性可以用在源和计数器之间加带孔板的办法测量。板上有适当孔径的孔(面积小于或等于1000mm2)。板的厚度要能足以吸收源发射的最大能量的粒子。均匀性用百分数表示。3.10不确定度uncertatinty表示由于测量误差的存在而对被测量值不能肯定的程度。注:不确定度按误差性质可分为系统不确定度和随机不确定度。从估计方法上可按估计其数值的不同方法归并成两类:A.多次重复测量用统计方法计算出的标准偏差;R用其他方法估计出近似的“标准偏差”。前者称为A类分量,后者称为B类分量。A类分量与B类分量均以“标准偏差”形式表示,用通常合成方差的方法,将其合成所得的“标准偏差”称为合成不确定度。如此所得的不确定度值具有概率的概念,即在此范围内不确定的概率为68.27%(按正态分布概率计算)。如果为了特殊用途,需要增加不确定度的置信程度,则需要将合成不确定度乘一置信因子,从而得到扩展不确定度,此时所乘因子通常必须说明。由于不确定度包括测量结果中无从进行修正的部分,它反映了测量结果中未能确定的量值范围。3.11过滤片filter过滤片是加在平面标准源活性表面之上一定厚度的某种金属薄片,用来吸收、过滤平面标准源中不希望出现的放射性粒子,以提高平面标准源活度和表面发射率的测量准确度。3.12溯源性traceability通过连续的比较链,证明测量结果能够与国家或国际认可的标准在不确定度可接受范围内一致的特性。4标准源的分级及其适用范围4.1一级标准源表面粒子发射率和活度由国家基准或法定计量部门通过考核合格认定的一级标准装置测量给出的源。4.2二级标准源表面粒子发射率和活度由法定计量部门通过考核合格的测量装置或测量仪器测量给出的源。4.3工作源表面粒子发射率和活度由法定计量部门通过考核合格的实验室计量传递仪器测量给出的源。2 GB/T13694--20084.4标准源的适用范围一级和二级标准源适用于对表面污染仪的定型检验和对表面污染监测仪常规校准。工作源用于现场校准表面污染监测仪。5标准源的技术要求5.1标准源的结构形式、核纯度、源效率和源底衬材料5.1.1标准源的结构标准源的结构形式分为:a)源是由某种放射性核素用电镀、电沉积或其他方法结合在源底衬材料的一个面上而构成。对n、p标准源而言,源的活性面要尽量薄,以减少源的自吸收。源底衬材料具有导电性,其厚度足以防止源的粒子辐射穿透源底衬背面。b)源的放射性核素均匀分布在厚度至少等于饱和层厚度的材料中。从表面污染监测的目的来说,源的活度是指其厚度等于饱和层厚度的一层材料中的放射性核素的活度。5.1.2标准源的核纯度标准源核素应有足够的核纯度,欲检验是否有不纯的p发射体是很困难的。如果它们伴有光子辐射,则可用高分辨率7谱仪(如HPGe谱仪)系统测量光子辐射,从而推断不纯p发射体的存在。也可采用GB/T12164推荐的方法,测量8最大剩余能量E。,来检验是否有不纯的p发射体的存在。例如放射性标准溶液中杂质含量应小于千分之一。5.1.3p标准源的效率p最大能量大于或等于0.4MeV的p源,其源效率应大于25%;p最大能量在0.15MeV~0.4MeV之间,源效率应大于5%。5.1.4源底衬材料源底衬材料为:a)a、p标准源源底衬材料及厚度要求见表1。b)对7标准源而言,源底衬材料应尽量减少对7射线的反散射。本标准推荐使用31TIITI厚的铝片作为源底衬材料,其质量厚度与标称值的偏差应小于±10%,质量厚度的均匀性应好于3%。c)7标准源要带有表5所规定的过滤片,一般情况下过滤片是整个源不可分割的一部分,不能任意拆卸。过滤片的边缘应超过活性面边缘至少10ITlIn,其质量厚度与表2给出的数值的偏差应小于土10%,质量厚度的均匀性应好于3%。5.2推荐使用的“、p标准源放射性核素及其源底衬的要求推荐使用的a、p标准源放射性核素主要为:——a标准源:“1Am;——p标准源:“C147Pm204TI90Sr+”Y、1傩Ru+”6Rb。推荐使用的a、p标准源核素特性及其源底衬见表1。表1推荐使用的a、B标准源放射性核素的特性推荐的源底村最小厚度半衰期最大能量源底衬质量厚度核素mmkeVmg·cm2铝不锈钢“C57301560.080.0322147Pm2.622250.13O.0435”4Tl3.78763O.7O.231803 GB/T13694--2008表1(续)推荐的源底衬最小厚度半衰期最大能量源底衬质量厚度核素mmkeVmg·cm一2铝不锈钢a6C13000007100.60.2017090Sr+90Y28.522743.11.18501。6Ru+106Rh1.0135404.81.71300“1Am432.655440.02O.0165.3推荐使用的T标准源放射性核素及其过滤片的要求推荐使用的丫标准源放射性核为:55Fe、2聃Pu、”9I、“1Am、钉Co、”7Cs60Co。推荐的7标准源核素特性和附加过滤片见表2。表2推荐的Y标准源核素特性和附加过滤片近似7平均能量4半衰期放射性核素过滤片6kev”Fe5.92.7无过滤片238Pu1687.732.5mg·cm。锆129I321.57×lO781mg·cm。铝241Am60432200mg·cm-2不锈钢57Co1240.74200mg·cm-2不锈钢137Cs60030.2800mg·cml不锈钢60Co12005.2781mg·cm_2铝8近似7平均能量等于(∑n。E。)/∑n。,此处啦是能量为E。的源所发射的光子数。b本标准中不锈钢组成为:72%Fe、18%Cr和10%Ni。5.4表面发射率范围标准源的表面发射率推荐范围见表3。表3推荐的表面发射率范围检定或校准的对象表面发射率范围表面污染监测仪(10‘~106)rain一1-(2Ksr)一1核探测仪器或装置(103~10‘)rain_1·(2xsr)15.5不确定度5.5.1tl、p标准源活度和表面粒子发射率的不确定度见表4。表4口、p标准源活度和表面发射率的不确定度标准不确定度标准源级别活度表面发射率一级标准源≤10%≤3%二级标准源≤10%≤6%工作源≤15%≤8%4 5.5.27标准源活度和表面发射率的不确定度见表5。表57标准源活度和表面发射率的不确定度GB/T13694--2008标准不确定度标准源级别话度表面发射率一级标准源≤10%二级标准源≤15%工作源给出标称值≤20%5.6标准源活性面和源底衬平面外形尺寸推荐的标准源活性面和源底衬平面外形尺寸见表6。表6推荐的标准源活性面和源底衬平面外形尺寸单位为毫米标准源刻度对象活性面尺寸/平面外形尺寸表面污染监测仪70×70/80×80、100×150/120×180核探测仪器或装置≠10/如O、妃5/N5、,550/"h05.7标准源的均匀性标准源的均匀性见表7。表7n、p、Y平面标准源表面发射率的均匀性源级别表面发射率的均匀性一级标准源≤10%二级标准源≤10%工作源≤15%5.8标准源的安全性和牢固性5.8.1安全性要求标准源的非活性面(包括正面、背面、侧面)表面污染值小于100Bq。5.8.2牢固性标准源活性面表面应光洁、平整,无起皮现象,无粉状物或其他可见的可脱落物。标准源从1米高度跌落至塑料地面,跌落3次,标准源表面发射率保持不变。注1;对活性面无保护层的标准源(裸源),要在标准源说明书中特别指出。注2:对于a、p标准源而言,标准源的活性区是脆弱的薄层,为防止跌落时碰伤活性面,允许把标准源放在一个防护套内进行跌落试验。5.9标准源的溯源性标准源的活度和表面发射率量值应有溯源性。6标准源的有效使用期标准源要根据下列因素确定合理适当的有效使用期a)标准源核素半衰期长短;b)标准源的牢固程度;c)使用环境的温度、湿度以及是否有腐蚀性气体}d)使用过程中是否可能受到机械损伤。 GB/T13694--20087标准源的包装、运输、贮存和代号标准源的包装、运输、贮存应满足GB11806的要求。标准源的识别应满足GB/T7161的要求。标准源代号按EJ/T804。8标准源的合格证书、说明书及标识8.1标准源合格证书标准源的合格证书应包括下列内容:a)标准源名称、级别、源编号;b)核素名称、半衰期、射线种类与能量:——对8发射体,要注明p粒子的最大能量‰。;——对7发射体,要注明计入表面发射率的7射线,(应该包括全部康普顿散射7的贡献)的平均能量(见表5);c)标准源的外形尺寸、活性面积;d)标准源的结构,包括过滤片和源底衬材料及厚度;e)在测定标准源的表面发射率时,标准源表面与探测器探头窗的距离;f)标准源的表面发射率及其不确定度和日期;g)相应于参考日期的标准源的活度或饱和层厚度内的活度;h)表面发射率的均匀性;i)标准源的牢固性检验;j)标准源的安全性检验;k)检验单位签章及签发日期。对一、二级标准源还应提供检定证书。8.2标准源说明书标准源说明书除了鉴定证书的内容之外,还应包括如下内容:a)源的有效使用期;b)源保存的环境条件;c)源的使用注意事项。8.3标准源的标识标准源的标识应包括如下内容:a)放射性核素;b)标准源编号;c)活度或表面发射率。 参考文献GB/T13694--2008[1]GB121281989用于校准表面污染监测仪的参考源p发射体和a发射体[2]GB/T12128.2—1999用于校准表面污染监测仪的参考源第二部分:能量低于0.15MeV的电子和能量低于1.5MeV的光子[3]GB15849密封放射源的泄漏检验方法[4]JJG478—1996《a、8、7表面污染仪》检定规程r5]ISO8769(1988)ReferencesourcesfortheCalibrationofsurfacecontaminationmonitors--Beta-emittersandalpha-emittersr6]ISO8769—2(1996)Refereneesourcesforthecalibrationofsurfacecontaminationmonitors--Part2'