EJT1039-1996核电厂核岛机械设备无损检测规范.pdf 79页

'H26EJ/T1039—1996核电厂核岛机械设备无损检验规范Codeonnon-destructivetestformechanicalequipmentsInnuclearislandofnuclearpowerplants1996-12-30发布1997-05-01实施中国核工业总公司发布附加说明：本标准由中国核工业总公司、核工业标准化研究所提出与归口。本标准由核工业无损检测中心负责起草。本标准主要起草人：毕炳荣、陈志源、王勇铭。前言核电厂核岛机械设备建造无损检验规范是在核电发展的形势下，根据法国RCC—M—93版第Ⅲ卷“检验方法”等效编制的。同时鉴于积累广东大亚湾两台90万千瓦核岛机械设备无损检验经验和ASME第Ⅲ卷、第Ⅴ卷及国标的对比研究，对其某个篇、章、条及其相关标准部分作了相应的适当修改和替换。该标准不仅促进我国核岛机械设备无损检验进展，以满足核岛机械设备无损检验和相关法律、法规的要求，而且对促进核电制造技术的进步，提高产品的质量、经济资产和标准化的水平，扩大对外贸易，加快与国际惯例接轨具有重要的作用。本规范与RCC—M第Ⅲ卷检验方法差异简述如下：1超声检验1）第3章，直接引用了国内相关的专业标准，以取代原文中NFA标准。2）RCC和ASME的验收标准，宽严程序是不一致的，而各自成一体系。本标准中的验收标准，主要参照RCC—M中的材料篇，焊接篇，也部分参照了ASME第Ⅴ卷，B分卷中有关内容。3）第六章验收标准中，RCC—M中采用Hd>2Hr等形式。本标准采用相对应的DAC±xdb形式。4）第5章10mm以下板材的检验参照国内核工业无损检测标准制定的。2射线照相检验1）象质计的选择在RCC—M标准中，一般采用六角板式孔型象质计，但对管焊缝（外径≤120mm）、角接焊缝和接管焊缝可使用线型象质计。因对这类焊缝，采用线型象质计，便于与工件贴紧。在本标准中，将RCC—M标准中的孔型象质计的孔径除以规定的换算系数，即为GB3323—87中的B级（线型象质计的线径），透照灵敏度与GB3323近似。故全部将孔型象质计换算成线型象质计。2）钢铸件验收标准1 在法国，多数按照法国铸造工业标准局技术建议书No.330（该相关验收标准暂缺）规定验收。也有按照ASTME446、E186、E280条文进行验收。本标准统一按照ASME—SE446、SE186、SE280有关条文进行验收。3液体渗透检验1）13.1.3.4特殊要求依据了RCC—M第Ⅴ卷F6423，且增加了氟元素的含量限制。2）13.1.5.5操作程序中的表19，参照了ZBJ04006—87，且满足RCC—M，图MC4149.1—4。3）13.2.1综合了RCC—M第Ⅱ卷M册材料检验的验收准则。13.2.2综合了RCC—M第Ⅳ卷S册焊接，1、2、3级焊缝的验收准则。4磁粉检验1）验收标准与液体渗透检验验收标准相同。2）16.2.2磁化条件，根据ASME第六章作了补充规定，同时也满足RCC—M规定。5管材制品涡流检验RCC—M，MC6000章涡流检验标准较完整，条文清楚，各种管材验收标准明确，且根据国内现有检验设备，均能满足该标准的要求，故对其全文采用。6其它检验方法1）第18章目视检验，18.2验收准则，依据RCC—M第Ⅱ卷M册。2）第20章检漏试验，综合了RCC—M与ASME第Ⅴ篇第10章的内容，本章中的20.1.7检漏方法即附录B，是完全等效于ASME第10章的附录。7无损检测人员的技术资格内容与基本要求既符合国标有关规定，也与RCC—M，MC8000一致。删去了MC8000中的临时检验员和外国制造商的特殊情况。1范围本标准规定了核电厂核岛机械设备无损检验的各项要求和方法。它们包括超声波检验、射线照相检验、液体渗透检验、磁粉检验、涡流检验、目视检验和泄漏检验。本标准适用于核电厂核岛机械设备的无损检验。2引用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T5618—85线型象质计GB/T5677—85铸钢件射线照相检验GB/T9445—88无损检测人员技术资格鉴定通则ZBJ04001—87A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法ZBY230—84A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件ZBY232—84超声检验用I号标准试块技术条件HAF0900—1992民用核承压设备安全监督管理规定HAF0902—1995民用核承压设备无损检验人员培训、考核和取证管理办法核总〔1993〕166号文核工业无损检验人员资格鉴定管理方法ASME—V—1995无损检验第一篇超声波检验3总则本标准适用于核岛机械设备的材料和焊缝金属的超声波检验。2 本标准规定了超声波检验的一般要求。3.1一般要求3.1.1检验人员资格从事超声波检验的人员应持有有效资格证书，该资格应符合第七篇的规定。3.1.2检验文件超声波检验，应按经认可的一套文件（如检验规程、工艺流程卡等）的规定实施，这些文件至少包括下述内容：——被检验焊缝类型或产品形式（铸件、锻件板材等）、形状、尺寸以及材料名称；——支持性文件；——应自哪几个表面和哪几个方向进行检验；——检验区域和表面情况；——检验技术：声波在材料中传播的波型和角度、耦合方式、扫查方向和范围；——检验设备：超声仪器的型号、换能器的类型、频率和尺寸，标准试块型号、对比试块的形状、尺寸、参考反射体形状、尺寸、位置；——系统的校正和标定；——需记录的数据；——相应验收标准。3.2超声波检验设备和器材3.2.1超声波仪器采用标称频率包含1～5MHz的脉冲反射式超声系统（如能证明具有相同的或更好的检验灵敏度，也可选用其它频率）。在示波屏满幅度的5%～80%范围内，垂直线性误差不大于5%。在示波屏水平刻度范围内，水平线性误差不大于2%。测试方法标准见ZBJ04001，超声系统技术要求见ZBY230。每台仪器在下述情况下进行校验：——设备验收时；——检修后；——每次持续使用开始或每3个月（二者中取短者）。3.2.2探头原则上探头的标称频率范围一般为：——横波2～5MHz；——纵波1～5MHz。压电晶片最大尺寸为30mm。在普通探头不适用的情况下可采用特种探头（双晶、折射纵波、聚焦、超小型等）。如检验表面较粗糙时建议使用带软保护膜探头，在系统校正时应带所使用的保护膜一起进行。3.2.3耦合介质应选用具有良好润湿特性的介质，如水、机油、水溶性耦合剂、黄油、甘油等。耦合介质不得在被检件上造成不允许的锈蚀，检验完毕后，任何情况下均应予以清除。在检验系统校正和实际检验时应采用同样耦合介质。3.2.4标准试块和对比试块3.2.4.1标准试块采用ZBY232规定的1号标准试块及相同功能的其它试块。3.2.4.2对比试块3 制作试块的材料可取自：a）被检件延长段或自其中割下的余料；b）与被检件具有相近的声学特性，相同产品形状及经相同热处理的材料。对比试块表面的粗糙度应能代表被检件表面的状态，当被检件表面比试块表面粗糙时应予补偿。对比试块的形状、尺寸及反射体形状、大小、位置由各具体章节作出规定，它应能适合于被检件整个检验区域。当采用底面回波法进行检测时，其对比试块厚度必须和工件厚度相当，其公差范围为：——工件厚度≤50mm为±20%；——工件厚度＞50mm为±10mm。3.3检验条件3.3.1表面准备被检件检验表面应无干扰超声波传播及妨碍超声探头移动的外来物质和表面不平整。表面粗糙度Ra不得超过12.5μm。妨碍超声检验的机加工，应在检验后进行。3.3.2探头的标定和时基线比例的调节斜探头波束的入射点和折射角的测定和时基比例线的调节按下列规定执行。a）铁素体材料采用3.2.4.1规定的标准试块。b）奥氏体钢和高镍钢采用3.2.4.2规定的对比试块。c）测得的角度偏差不得超过有关检验文件规定值的2°。d）通过调节时基线比例使示波屏上时基线原点右边刻度和探测距离成比例。上述操作应在每次检验前进行。3.3.3增益调节（灵敏度调节）利用响应脉冲来调节仪器的增益，该响应脉冲来自远离探头的那一面（底面四波）或来自人工反射体，调节时将“抑制”关闭，调节过程中应注意得到最佳信噪比。在每次检测开始前须调节增益，并在检测1小时后校验，每隔2小时或操作人员认为有漂移时和每次检则结束时都应校验。校验应是整个系统（包括仪器、探头、试块、高频电缆、耦合剂等）。在校验时，测得的漂移值不得大于±2dB，如超过-2dB，需将前一次校验后检测的工件重新检测。如超过+2dB需将前一次校验后检验所得数据重新评定。在所有的校验中重要的是要让超声波束垂直于横孔和凹槽的轴线以能得到最大的信号。在实验检验时用于校验的耦合剂（或基准试块表面）温度与用于实验检验的耦合剂温度（或工件表面）相关不应超过14℃，否则应对探头折射角、仪器增益重新标定和调节。3.3.3.1采用底面回波进行调节将探头放在工件的完好区域，使参考底面回波的波幅调到示波屏满幅度的80%左右，作为基准幅度。3.3.3.2采用对比试块调节——DAC（距离，幅度参数曲线）将直探头或斜探头置于能给出最高反射波幅度的反射体上方，将波幅调到示波屏满幅度的80%左右，然后测出其它反射体最高反射回波。将上述各测点连结，所作出的曲线便是距离幅度曲线，除被检测件厚度很薄外，作该曲线至少要3点连成。若某反射体回波幅度小于示波屏满幅度的20%，则分段绘制距离幅度曲线。表面补偿：如被检工件表面较对比试块表面粗糙时，应给予补偿。曲率补偿：如被检测工件的检测面曲率半径小于250mm时，必须采用曲率与被检件相同或相近（0.9～1.5倍）的对比试块，否则给予补偿。4 3.3.4扫查方法3.3.4.1探测的覆盖度通过探头在被检工件表面作左右和前后移动，使扫查遍及整个被检体积，相邻二次扫查之间应有一定的重叠，其范围至少应为探头（压电元件）垂直于扫查方向尺寸的10%。探头在被检部位的移动速度不得大于150mm/s（指手工扫查）因被检工件几何形状的限制，而扫查不到的部位，应在检验报告中注明。3.3.4.3检验灵敏度原则上为了便于发现缺陷，在信噪比许可情况下，尽量将灵敏度调到最高，如果发现缺陷并进行各项测定工作，则必须在规定的灵敏度下进行。3.3.4.4盲区记下一定检测条件下被检材料内的盲区长度，以此表示在相应灵敏度下，可检测的最近距离。3.4缺陷信号的测定3.4.1幅度测定按3.3.3.2规定采用距离幅度（DAC）曲线将缺陷区测得的最大幅度信号和同声程处DAC曲线进行比较，以DNA曲线的dB数表示缺陷的严重程度。3.4.2尺寸测定先将探头放在缺陷显示的最大回波处，然后根据缺陷的取向使探头在相互垂直的二个方向平行移动，直到回波衰减50%（-6dB）止，相互垂直二个方向上探头移动距离的乘积即显示缺陷区的面积。3.5检验报告检验报告应包括下列内容：——制造；——被检件的名称、编号、材质、加工状态及热处理情况；——检验标准和验收准则；——检验使用的设备和耦合剂；——检验技术；——灵敏度标定；——标有检验区域和检验方向，如有几何形状限制而不可检部位应予以注明；——缺陷的类型、尺寸、位置、当量大小；——必要的说明；——检验结果；——检验人员及资格等级；——负责检验单位；——检验日期、报告编号等。4铸件超声波检验本章适用于铁素体钢铸件，采用单探头纵波反射法超声波检验。4.1一般要求总则部分的内容均适用于本章，此外，补充下列条文。4.2检验条件4.2.1检验时机除非另有规定外，检验均在热处理以后进行。4.2.2被检区域被检区域和检验范围，按照合同或订货技术条件的规定执行。5 4.2.3扫查方法选择能扫查到整个被检区的扫查方式。应按3.3.4规定，注明盲区，除非采用的方法能避免盲区。4.2.4对比试块按3.2.4规定制作对比试块，采用直径φ6mm垂直于探测面的当量平底孔作人工反射体，其数量和位置必须使得能够探测到被检件整个厚度范围。第一个反射体与探测面的最大距离为25mm，最后一个反射体离探测面的距离等于最大的被检厚度，其误差为±20%。4.2.5DAC参考曲线厚度大于40mm，按3.3.3规定绘制曲线至少需要3个反射体；厚度小于等于40mm，只要求2个反射体。4.2.6缺陷显示的幅值按3.4规定进行测定。4.2.7缺陷显示的尺寸按3.4规定进行测定。4.3记录和验收以下情况必须作为可记录条件：——幅度大于或等于50%参考曲线幅度任一信号；——底面回波衰减幅度大于18dB的区域。2若具有回波幅度大于参考曲线幅度，且面积等于或大小1000mm的缺陷均不予验收。5板材超声波检验本章适用于检测厚度大于或等于6mm碳钢奥氏体钢和合金钢板材的超声波检验。5.1一般要求总则部分的内容均适用于本章，此外，另补充下列条文。5.2检验条件5.2.1检验时机除非另有规定外，检验均在热处理以后进行。5.2.2被检区域被检区域和检验范围，按有关技术条件的规定。5.2.3扫查方法应沿标称中心距为225mm的垂直格子线连续进行扫查，或者按照订货单位或制造厂要求，标称中心距离可改成100mm、75mm钢板表面100%连续扫查等。对每个记录缺陷，应以记录缺陷为中心的一个300mm见方区域内作100%检验。所有的检验方向应是垂直和平行于主要轧制方向。5.2.4对比试块作斜射法检验时其对比试块应按3.2.4规定制作，用于校正的人工反射体为切槽，其几何形状应由订货单位和制造厂商定，其深度为3%板材厚度，槽的长度为25.0mm，槽的宽度不超过深度的2倍。5.2.5探头厚度小于10mm的板材用双晶探头检验。直射波探头通常为10～30mm直径。斜射波探头的长和宽有效尺寸范围为12～25mm。斜射法推荐使用在被检钢材中折射角为45°探头。可采用其它尺寸、角度、类型的探头作补充检测和评定。所采用的频率如下：6 工件厚度小于等于150mm采用2.5～5MHz。工件厚度大于150mm小于等于300mm采用2～3MHz。工件厚度大于300mm采用1～2MHz。5.2.6检验灵敏度双晶直探头检验按3.3.3底面回波法再提高10dB调节。单直探头检验按3.3.3底面回波法调节。斜射波探头检验按3.2.4、3.3.3规定采用对比试块调节。5.2.7缺陷显示的尺寸应采用下述方法确定缺陷的边界：移动探头使其离开缺陷的中心，直至反射信号衰减50%时，在钢板上标出对应于探头中心点，重复上述操作以测出边界。如果2个相邻的缺陷的分离距离小于或等于其中较小缺陷的长度时，则可认为是面积等于二者之和的一个缺陷。5.3记录和验收下述情况应作记录：a）所有能引起底波消失的区域；b）缺陷第1次反射波幅度等于或大于50%DAC参考曲线幅度；c）若发现可能是危险性缺陷，则不论缺陷回波幅度高低均应记录。对于有白点、裂纹等危险性缺陷者不予验收。斜射法检验时，所有波幅高度达到或超过100%DAC参考曲线幅度的缺陷信号，除非这些缺陷用直射法复验证明是分层性缺陷，则按直射法检验验收。直射法检验时，任何一个或多个缺陷引起底面反射波全部消失（5%以下）；并且缺陷区域不能被1个75mm或板厚一半的直径圆（取大值）所包围。两个或两个以上的缺陷，其最小间距小于较大缺陷最大直径，并且这些缺陷又不能被一个75mm或板厚一半的直径圆所包围。6锻件超声波检验根据超声波检验时的不同特点，可将锻件按其外形分成如下四类：a）Ⅰ型类似平行六面体的锻件或圆柱形或圆锥形或圆台形锻件，这些锻件可能带有内径比外径小得多的通孔，被检件可以是轴类和螺栓用料。b）Ⅱ型被检验件一个方向的尺寸远小于另外二个方向的尺寸，这一类又分为二种。ⅡA型锻件：例如用于蒸汽发生器的管板、堆芯支承件和控制棒导管。ⅡB型锻件：辅助系统热交换器管板、封头和法兰，压力壳法兰和堆内构件法兰除外。c）Ⅲ型环形或管形的空心锻件，如筒节、支管接头、反应堆压力容器法兰和堆内构件。d）Ⅳ型用模锻或冲压法锻成的形状复杂的锻件，如直接锻造或模锻的阀门、锥形管嘴等。不同类型的锻件按下述Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ项选一项进行检验。6.1Ⅰ型锻件6.1.1范围本节阐述了对Ⅰ型锻件，按合同或订货技术条件要求需作超声检验时的规定。6.1.2一般要求总则部分的内容均适用本章，此外另补充下列条文。6.1.3检验条件6.1.3.1检验时机除非另有规定外，原则上检验应安排在最终热处理之后，而在槽、孔、台阶等加工之前，7 即锻件还处于简单的几何形状的状态时进行。此时锻件的检测面，应与工件背面保持平行，如果热处理后的锻件形状不适宜于超声检测，则也可以在热处理前进行，但热处理后，仍需对锻件作全面检测。6.1.3.2被检区域被检区域和检验范围，按合同和订货技术条件的规定。6.1.3.3扫查方法只有那些尺寸（最小部分）大于等于50mm的锻件需要检验。检验一般采用纵波直射声束进行扫查。对于工件最小尺寸为50～100mm的圆柱形锻件进行径向扫查，而平行六面体锻件从两个垂直方向进行扫查。对于最小尺寸大于等于100mm的圆柱形锻件沿径向和轴向进行扫查，而平行六面体锻件沿三个垂直方向进行扫查。仅当声束衰减和可能的波型转换不影响缺陷的判定时圆柱形锻件可自两端进行轴向扫查，而平行六面体可在长度方向扫查。6.1.3.4检验灵敏度采用对比试块法调节检验灵敏度。6.1.3.5对比试块见Ⅲ型锻件6.2Ⅱ型锻件6.2.1范围本节阐述了对ⅡA型和ⅡB型锻件，按合同或订货技术条件需作超声检验时的规定。6.2.2一般要求总则部分内容均适用本条，此外另补充下列条文。6.2.3检验条件6.2.3.1检验时机除非另有规定外，原则上检验应安排在最终热处理之后，而在槽、孔、台阶等加工之前即锻件还处于比较简单的几何形状的状态下进行，此时锻件的检测面应与工件背面保持平行。如果热处理后的锻件形状不适合于超声检测，则也可以在热处理之前进行，但热处理后，仍需对锻件作全面检测。6.2.3.2被检区域被检区域和检验范围按合同或订货技术条件的规定。6.2.3.3扫查方法对于ⅡA型锻件在轴向采用纵波直射声束扫查，并且：——碳钢和低合金钢锻件两面都检验；——奥氏体不锈钢锻件，如果材料透声性足以保证自一个面上达到对整个厚度范围的扫查，则只需作单面扫查，否则就必须作正反两面扫查。对于ⅡB型锻件采用纵波直射声束作单面扫查。6.2.3.4检验灵敏度采用对比试块调节检验灵敏度。6.2.3.5对比试块见Ⅲ型锻件6.3Ⅲ型锻件6.3.1范围本条阐述了对Ⅲ型锻件，按合同和订货技术条件要求需作超声检验时的规定。6.3.2一般要求总则部分的内容均适用本条，此外另补充下列条文。8 6.3.3检验条件6.3.3.1检验时机除非另有规定，原则上检验应安排在最终热处理之后，而在槽、孔、台阶等加工之前，即锻件还处于比较简单的几何形状的状态时进行。此时，锻件的检测面应与背面保持平行，如果热处理后的锻件形状不适合于超声检验，则也可以在热处理前进行，但热处理后，仍需对锻件作100%检验。6.3.3.2被检区域被检区域和检验范围，按合同或订货技术条件的规定。6.3.3.3扫查方法利用纵波直射声束进行下列方向检测：——沿圆柱面作径向扫查；——轴向扫查，此方向扫查应在声衰减和可能发生的波型转换不影响对缺陷判别的情况下进行。当工件的内外径比d/D大于等于0.6时，应作横波斜射声束检验。沿着圆柱面作相对两个圆周方向的扫查，必要时，增加圆柱面上作相对两个轴线方向的检查，原则上采用35°～70°折射角的探头，推荐使用折射角45°探头。6.3.3.4检验灵敏度采用对比试块调节检验灵敏度。6.3.3.5对比试块对比试块除了满足3.2.4规定外，还补充下述要求。a）几何形状原则上对比试块应为直角、平行六面体，但下述情况可以例外，此时对比试块应具有与被检验件相同的曲率半径。——工件的曲率半径≤100mm；——工件的曲率半径≤250mm，而所用探头的最大尺寸＞15mm。试块宽度约60mm，厚度小于100mm的试块宽度可小于60mm，但在调节灵敏度时应无边缘干扰回波。试块的长度由使用的声程确定，能够检测到各反射体，试块的厚度为：——进行全声程检测时，等于工件厚度，其厚度公差为±5mm；——进行半声程检测时等于或大于工件厚度。b）人工反射体——纵波直射声束检验：碳钢和低合金钢锻件，反射体为Φ3平底孔。不锈钢锻件，反射体为平底孔，其尺寸大小与工件厚度有关的如下。工件厚度小于75mm为Φ3工件厚度大于等于75mm小于250mm为Φ5工件厚度大于等于250mm为Φ8——横波斜射声束检验：人工反射体是平行于试块检测面的槽或横孔，而加工于试块的宽度方向，厚度等于（小于）100mm的工件，应开二个纵向槽，槽按表1制作。分别处于检测面和其反面，厚度大于100mm的锻件至少在厚度方向分开钻三个Φ2mm的横孔，能以此绘制出相当于工件厚度的距离波幅曲线。如果从两个面进行检验则被检验区域的重迭部分必须大于被检工件厚度的10%。表1人工反射件尺寸工件厚度mmT≤2020＜T≤5050＜T≤100槽的长度mm≥50≥50≥50槽的宽度mm≤1≤1≤19 槽的深度mm厚度5%11.5最小值为0.16.4Ⅳ型锻件6.4.1范围本条阐述了对Ⅳ型锻件，按合同或订货技术条件要求需作超声检测时的规定。6.4.2一般要求总则部分内容均适用本条，此外另补充下列条文。6.4.3检验条件6.4.3.1检验时机锻件在加工过程中，作超声检验的时机详见合同或订货技术条件。6.4.3.2检验区域被检区域和检验范围，按合同或订货技术条件的规定。6.4.3.3扫查方法采用纵波直射声束在垂直于工件表面的方向进行检测。如有可能，应在相互垂直的方向上进行检验。6.4.3.4检验灵敏度采用对比试块调节检验灵敏度。6.4.3.5对比试块见Ⅲ型锻件。6.5记录和验收应记录一定检测条件下被检材料的盲区深度。下述情况应予以记录：a）如果回波幅度大于等于50%DAC参考曲线幅度；b）如果底面回波衰减幅度大于18dB。除非另有规定，下述情况予以拒收：a）如果底面回收衰减幅度大于或等于24dB；b）如果回波幅度大于或等于DAC参考曲线幅度。7管材超声波检验本章规定了用于无缝钢管的横波接触式或液浸式的检测方法，它适用于由碳钢、奥氏体不锈钢、镍基合金钢等制成的无缝钢管及无填充料的轧材焊接钢管，但不适用于：a）直接从锻制及穿孔而成的管材；b）直接从芯棒锻成的管材；c）厚壁管；d）铸造管。7.1一般要求总则部分内容均适用于本章，此外另补充下述条文。7.2检验条件7.2.1检验时机管件作超声波检验时的状态，按合同或订货技术条件规定。7.2.2被检区域被检区域及检验范围按合同或订货技术条件规定，如采用自动化检测，则应注明管子二端部无法实施检测的区域长度。7.2.3扫查方法从外圆柱面沿圆周向和（或）轴向作二次方向相反的扫查，根据被检管材的厚度折射角度应在30°～70°范围内选择。10 7.2.4对比样管对比样管应有合适的长度，并应从与被检材料有相同的直径、壁厚、材质、和表面粗糙度及热处理的长管上制取。对比样管内外表面的轴向和周向上分别制备矩形槽或60°V型槽，各槽之间的间隔应足够大，以避免产生干扰和造成解释上困难。槽的长度I纵小于等于50mm，I周小于等于25mm。对比样管的厚度（S）与槽的深度（t）间关系如下：a）铁素体钢的槽的深度是管壁厚的5%，最小值为0.2mm，最大值为1mm。b）奥氏体不锈钢和高镍合金钢，槽的深度应为：——1级管和任何级别的热交换器管：壁厚的3%，最小为0.1mm，最大为1mm。——不用于热交换器的2级、3级管：壁厚的5%，最小为0.1mm，最大为1mm。当槽的深度大于0.2mm时公差应在深度的±15%以内，或在±0.05mm以内，取二者中较大者。当槽的深度小于等于0.2mm时公差在±0.03mm以内。槽的宽度应尽可能的小，至多不可超过深度的2倍。用于蒸汽发生器的高镍合金管为矩形槽，槽的宽度不超过0.1mm。7.3检验设备可以采用手工检测或借助自动化设备进行检测。7.3.1手工检测如无条件进行液浸检测时，可采用手工检测，探头与管材表面应保持良好接触，应在管子的周向和轴向，从两个相反方向各探一次。7.3.2自动检测使用的检验设备能使深头相对于管子作螺旋运动，这种运动可以是管子的移动和探头夹持器的转动，或是管子的转动和探头夹持器的移动进行组合或者别的组合形式。必须确保螺旋形运动检测区的覆盖面达到20%，探头和管子的相对位置精确而无漂移现象。检验装置必须具有自动分选系统和一个自动记录仪，从而确切显示缺陷在管子上的位置。7.4检验灵敏度采用对比试块法调节检验灵敏度。适当调节仪器和探头的装置，应使来自内外表面切槽的反射产生清晰可辨的反射信号。并尽可能使二者的幅度近乎相等，若有差别时选用其中较小者作为参考基准。如果不能使内外切槽的反射信号幅度接近，则也可按内外切槽的信号分别确定参考基准。7.5自动检验设备的校正检验设备在静态调节检验灵敏度后，尚需将对比样管以生产检验时的速度，穿过检验设备，从而进行动态调节检验灵敏度。在下述情况下都必须进行动态灵敏度校验：——在作任何的检验操作之前；——一批钢管检验完毕；——连续检测作业中，至少每隔3h。任何时候，设备在对比管的内外表面切槽上显示不出清晰而明确的参考基准，或反射波幅的漂移大于-2dB，就应参照7.5条重新调节灵敏度，对上次调节后所检测的管子，再作检测。如漂移大于+2dB应对上项调节所检测的管子重新评价。11 7.6记录和验收回波幅度大于或等于50%DAC参考曲线幅度的任一信号，都需作记录。回波幅度大于参考曲线幅度的任一信号时均不予以验收。8全焊透焊缝超声波检验本章规定了厚度大于等于10mm焊件的全焊透对接焊缝和角焊缝的超声波检验。本章不适用于铸钢、奥氏体不锈钢焊缝的超声波检验。8.1一般要求总则部分内容均适用本章，此外另补充下述条文。8.2检验条件8.2.1检验时机在制造过程中，对焊缝作超声波检验的时机，参见合同或订货技术条件。8.2.2检验区域被检区域和检验范围，按合同或订货技术条件的规定。被检区域应包括焊缝金属和邻近的母材金属。8.2.3表面准备按3.3.1规定，清理检验扫查面，表面粗糙度不应超过6.3μm。8.2.3.1对接焊缝12 图1插入式接管焊缝示图对厚度大于50mm的焊缝应采用适用的机械方法平整内外表面，厚度小于等于50mm的对接焊缝，如果只能自单面实施检测，则此面的焊缝表面必须被平整。8.2.3.2角焊缝a）T型接管焊缝焊缝表面和被检件表面应均匀过渡，不得出现沟槽。b）外贴式接管焊缝焊缝外表面应与被焊件表面均匀过渡，不得出现沟槽，焊缝内表面应采用适当机械方法予以平整。c）插入式接管焊缝（图1）焊缝内外表面均应与被焊件均匀过渡，不得出现沟槽。8.2.4扫查方法8.2.4.1对接焊缝开始斜射声束检测之前，应对焊缝邻近的母材金属采用直射声束进行扫查，以探明有可能会影响斜射声束检验结果辨认的分层或其它种类缺陷，对这些反射体的位置和区域作记录。采用横波斜射声束探头从垂直与平行于焊缝轴线的方向对所检测的体积进行扫查，如有可能，上述检测每次都应从焊缝的两面和焊缝的两侧的两个相对方向进行。a）对1级焊缝采取1～14方向的检测见图2、图3（12个方向用横波斜射声束，两个方向用纵波直射声束），用横波斜射声束扫射时，根据焊缝厚度和几何形状，选择折射角在35°～70°之间，如果须用两个不同折射角的横波斜射声束检验时，这两个折射角的标称值至少相差15°。b）对Ⅱ级和Ⅲ级焊缝仅需采取较少检测方向，可取消图示1、3、5、7或2、4、6、8方向。如果在检测的实施中，由于受被检件结构条件的限制，无法在焊缝的两侧或焊缝的内外表面进行检测，可以代之以单侧或单面的全声程检测。13 图2焊缝内纵向缺陷检测当被检件表面覆盖有不锈钢或高镍合金时可以只从无覆盖的一面进行，如图所示1～4、9、10、13或5～8、11、12、14。由于探头盲区而未检测到的区域采用浅盲区探头进行补检，浅盲区探头的折射角应大于或等于初检时最大折射角。图3焊缝内横向缺陷检测8.2.4.2Ⅰ级角焊缝探测方式应在结构条件及几何形状允许的条件下，使检测遍及整个被检区域，检测方向如图4所示。横波斜射声束折射角可在35°～70°的范围内选择，选择原则是：使声束与焊缝坡口面保持垂直。而必须采用二个不同折射角的横波声束时，二个角度至少相差15°。由于受结构条件限制，或表面覆盖有不锈钢或高镍合金堆焊层时，对横波斜射声束可以只要求从一面进行检测。14 图4Ⅰ级角焊缝检测方向8.2.5对比试块对比试块应符合3.2.4要求及下列补充条文。8.2.5.1几何形状对比试块通常为直角平行六面体，试块长度由使用的检测声程确定。试块厚度由被检材料的厚度确定，试块宽度约60mm，如被检材料厚度小于100mm时，试块宽度可小于60mm，但在调节时，必须无边缘干扰现象产生。对比试块和被检材料的检测面表面补偿见3.3.3。8.2.5.2人工反射体人工反射体为Φ2圆柱形横孔，加工在试块宽度方向，平行于检测面。反射孔位置，由被检材料厚度确定，通常第1个孔距离扫查面10mm，而后各孔间距离分别为：——试块厚度小于等于50mm时，为10mm；——试块厚度在50~100mm时，为20mm；——试块厚度大于100mm时，为30mm。所有反射体距对比试块二端至少20mm。8.2.6检验灵敏度采用对比试块法调节检验灵敏度。8.2.7缺陷信号的测定按下列各项表示缺陷信号。a）位置缺陷的位置以获得的最大幅度的反射回波的位置来表示，其表达方式可以是：1）纵坐标——缺陷沿焊缝方向上离基准点的距离；2）横坐标——缺陷离焊缝中心线的垂直距离；3）深度坐标——缺陷离扫查面的垂直距离。b）幅度按3.4.2规定与距离——波幅曲线即（DAC）作比较。c）尺寸按3.4.2规定测定缺陷尺寸，凡尺寸小于下列数值时，判定为点状缺陷。——深度距扫查面小于等于100mm时，测定指示长度为10mm；——深度距扫查面大于100mm时，测定指示长度为深度的10%。d）体积型和非体积型对超过50%DAC参考曲线的信号，应注意其是否具有裂纹，未熔合和未焊透类危险性缺陷特征，为了区分体积型或非体积型缺陷显示，应采取改变探测角度，增加检测面，观察动态波型和结合焊接工艺等情况综合考虑。按下述方法测量其定向反射特征：即探测到一个反射体后，通过更细致的扫查，以确定这个反射体的位置和探头的位置及入射方向，在该位置可得到最大回波信号，然后使探头绕反射体旋转（不是探头绕自身轴线旋转），原则上对于非体积型缺陷，当探头旋转10°左右，最大回波幅度可下降6dB以上。8.2.8单个缺陷和相邻缺陷的累计法8.2.8.1单个缺陷由二种不同的探测方法（不同的角度和方向）探测到二个缺陷，如同时满足下述二个条件，可视为同一个缺陷：15 ——二个缺陷在扫查面上的投影中心的距离小于最大深度的10%；——二个缺陷在焊缝横截面上的投影中心的距离小于最大深度的10%。如满足上述二个条件的缺陷，则由较小的深度和较高的幅度及较大的尺寸来表征该缺陷。8.2.8.2分开的缺陷如同时符合下述二个条件，则分开的缺陷可以累计：——缺陷在探测面上的投影距离小于或等于较小缺陷长度的6倍，或其中一个为点状缺陷，投影距离小于等于20mm；——在焊缝横截面上，缺陷的投影距离小于或等于20mm者。累计缺陷显示的幅度，为分开缺陷显示中较大的一个幅度，其尺寸是相距最远的缺陷端点间的距离。8.3修补区检测修补区域作超声检测的条件与焊补前的规定和条件相同。8.4记录和验收任何一个反射波幅度等于或大于DAC参数曲线幅度的50%，应作记录。具有下列缺陷的焊缝为不合格：——所有非体积型显示的焊缝；——所有体积型的显示但其长度达到表2，表3所示的焊缝。表2工件厚度大于50mm缺陷反射波最大振幅Hd与参考与单一缺陷或缺陷群有关的曲线幅度Hr（或DAC）的比较值缺陷显示的最大允许长度Hd＞DAC+6dB不合格DAC+3dB＜Ｈd≤DAC+6dB20mmDAC＜Hd≤DAC+3dB30mmDAC-6dB≤Hd≤DAC60mm表3工件厚度小于50mm缺陷反射波最大振幅Hd与参考与单一缺陷或缺陷群有关的曲线幅度Hr（或DAC）的比较值缺陷显示的最大允许长度Hd＞DAC+3dB不合格DAC+3dB≥Ｈd＞DAC20mmDAC-2dB＜Hd≤DAC30mmDAC-6dB≤Hd≤DAC-2dB60mm9隔离层、堆焊层及复合层超声波检验标准适用于施焊厚度超过2mm的不锈钢和高镍合金钢的堆焊隔离层、堆焊层及复合层的超声波检验。9.1一般要求总则部分内容均适用于本章，此外另补充下述条文。9.2检验条件9.2.1检验时机隔离层、堆焊层和复合层加工到哪个阶段进行检验，参见合同或订货技术条件。9.2.2检验区域被检区域和检验范围，按合同或订货技术条件的规定。9.2.3表面准备按3.3.1规定清理表面。可保留堆焊层和隔离层上的凹痕，如果其外形有碍于和探头的接触，并妨碍探头移动，16 须将凹痕磨去确保充分耦合。如果有下列特征之一，方可认为充分耦合：——自工件背面反射回波；——超声波穿过母材产生本底噪声。9.2.4扫查方法被检区域包括整个堆焊层、隔离层以及至少4mm厚度的母材。采用直探头或双直探头探测堆焊层和堆焊隔离层内的缺陷和探测堆焊层、隔离层和母材结合处的缺陷和复合层复合情况，双斜探头探测堆焊层、隔离层内和母材内的缺陷。9.2.5对比试块按3.3.1规定和下述要求确定对比试块。9.2.5.1特性和几何形状对比试块上的熔敷层应当采取与被检件相同的焊接工艺，其表面状态应能代表被检件表面，熔敷层厚度应与被检件相同，其形状是直角平行六面体。复合层试块须用其本身母材制作。9.2.5.2人工反射体a）堆焊层自无堆焊层表面开始钻Φ19mm平底孔，这些孔要垂直钻到堆焊层和母材结合处。平行于堆焊层面钻一些Φ2mm横孔，包括堆焊层和母材结合处。b）隔离层人工反射体为Φ3.2mm的平底孔，从无堆焊隔离层的面上垂直于堆焊隔离层面钻入。第1个平底孔离检测面5mm，以后各孔之间相距深度小于5mm，直到距检测面为15mm，这些孔的距离差为小于10mm，最后一个平底圆孔须位于隔离焊层和母材结合处。孔离试块边缘至少20mm。平行于检查表面，钻一些Φ2mm横孔。c）复合层从检测面的背面反射超声波。9.3缺陷信号测定9.3.1堆焊层9.3.1.1幅度测定堆焊层内缺陷显示值应与Φ2mm孔相比较后评定，结合处的缺陷显示值应与Φ19mm平底孔比较后评定。9.3.1.2尺寸测定见3.4。9.3.1.3相邻缺陷的累计法相邻缺陷的累计法如下：a）堆焊层内缺陷如果满足下列二条件，则分开的缺陷可以累计。——在扫查面上缺陷的投影距离小于或等于较小缺陷长度的6倍，或其中一个为点状缺陷，投影距离小于等于20mm；——在焊缝的横截面上，缺陷的投影距离小于或等于20mm。上述缺陷累计时，由最大的缺陷显示幅度标征，其尺寸为相距最远的缺陷显示端点间距离。b）结合面上不连续的缺陷累计法如果缺陷间的距离小于或等于较小缺陷长度，则可以累计。累计后的缺陷用下述标征，17 由最大的缺陷显示幅度标征，其面积等于原缺陷显示面积之和。9.3.2隔离层9.3.2.1幅度测定见3.4DAC参考曲线法比较测定。9.3.2.2尺寸测定见3.4。9.3.3复合层9.3.3.1幅度评定见3.4，如底面回波衰减18dB以上定为熔敷不良。9.3.3.2尺寸测定取底波衰减12dB来测定大小。9.4焊缝区修补后的检验焊缝区修补后的超声检验条件相同于修补前。9.5记录和验收9.5.1隔离层必须记录所有幅度大于或等于参考曲线幅度50%的显示。所有非体积型缺陷是不合格的。长度大于表4，表5，根据Hd/Hr比较值所确定的数值的所有体积型缺陷是不合格的。表4工件厚度大于50mm缺陷反射波最大振幅Hd与参考与单一缺陷或缺陷群有关的曲线幅度Hr（或DAC）的比较值缺陷显示的最大允许长度Hd＞DAC+6dB不合格DAC+3dB＜Ｈd≤DAC+6dB20mmDAC＜Hd≤DAC+3dB30mmDAC-6dB≤Hd≤DAC60mm表5工件厚度小于50mm缺陷反射波最大振幅Hd与参考与单一缺陷或缺陷群有关的曲线幅度Hr（或DAC）的比较值缺陷显示的最大允许长度Hd＞DAC+3dB不合格DAC+3dB≥Ｈd＞DAC20mmDAC-2dB＜Hd≤DAC30mmDAC-6dB≤Hd≤DAC-2dB60mm9.5.2堆焊层和复合层任何一个或一组体积型缺陷显示，如果Hd>DAC-6dB，并且长度等于或大于100mm是不合格的。对于蒸汽发生器管板堆焊层，如果缺陷显示长度大于等于50mm，则为不合格。堆焊层结合面具有下列情况为不合格：a）等于或大于基准反射体的任何未熔合；b）如连续未熔合区域的总的表面积等于或大于堆焊层总表面积的“某个数值”。1级焊缝“某个数值”定为3%；2级焊缝“某个数值”定为5%。第二篇射线照相检验10总则本章适用于核岛设备的铸件和焊缝金属材料的χ、γ射线照相检验。本章规定了射线照相检验的一般要求。10.1一般要求18 10.1.1检验人员资格射线检验人员必须具有射线照相检验有效资格证书、其资格应符合第七篇的要求。10.1.2射线照相检验文件所有的射线照相检验必须按经认可的一套文件要求（包括检验规程、工艺流程和检验细则单）实施。这些文件至少包括下列内容：——被检件的类型（形状、尺寸、范围和使用的材料）；——由规范提及的有关章条和其它可采用的等效文件；——检验设备：射线源（类型和大小）、胶片、增感屏、滤光板、遮挡板、象质计、定位标志、胶片处理和观察设备等；——检验条件：检验区域和表面状态等；——检验方法：胶片暗袋组成、象质计型号、位置和数量、标志类型和曝光条件（射线源或射线照相装置与检验区域的相对位置）；——胶片处理要求；——可使用胶片型号；——底片观察说明（双片观察或单片观察）；——底片质量要求：几何不清晰度、光学密度、图象质量等；——验收标准。10.1.3参考底片当首次运用一项检验规程时，应按照制造厂提供的检验规程摄片，以验证使用的方法能保证获得所要求的照相质量。凡改变下列参数的一项或几项，则检验文件必须进行修改：——射线性质；——透照方式；——胶片型号；——增感屏和滤光板种类；——胶片处理方法。如有重大修改，则必须重新摄制一套参考底片。这些参考底片可单独摄制，也可以从验收的底片中选取。单独摄制的底片应由制造厂保存，以供有关零件制造期间使用。选用验收样件的底片，也由制造厂保存，直至交付买方（如有合同规定的话）。上述两种参考底片应加以标记。10.2射线照相检验设备10.2.1射线源可以使用两种射线源：——X射线发生器、直线加速器和电子回旋加速器产生的X射线；——由铱-192、钴-60、铥-170源产生的γ射线。10.2.2胶片胶片应与金属增感屏配合使用。不管采用χ射线或γ射线曝光，按其感光度S可分为五种类型，详见表6。S与曝光量X的关系由（1）式表示：10−2S=X…………………………………………（1）式中：X——规定以达到光学密度为2.0时的曝光量，单位为C/kg。对于分类的胶片，采用人工显影。显影温度20℃±0.3℃，显影时间为5min，误差±19 5s。表6胶片类型及其感光度胶片类型感光度等效胶片1S＜6柯达R；阿克法D２26≤S＜10杜邦45；柯达M；富士50；阿克法D3；上海45*）；310≤S＜20杜邦55；柯达MX-T；阿克法D4；天津V*）；杜邦65；杜邦70；杜邦75；柯达AX-C；阿克法D5；阿克法D7；天津新Ⅲ；420≤S＜50公元E7；阿尔梅D7；科域D7；上海A7—Ⅱ550≤S阿克法D10*）因胶片表面质量，不允许用于规范1、2级设备射线照相检验制造厂必须保证交付的底片与规定的感光度相符合，且不得使用超过保存期的胶片。胶片使用前，必须按制造商要求的温度和湿度予以保存。避免任何电离辐射的照射。胶片在暗室处理后，应按10.2.9要求予以保存。10.2.3增感屏按10.2.2规定胶片使用金属增感屏。增感屏必须光洁、无任何划痕。10.2.4滤光板滤光板由铅板制成，它装在被检件和暗盒（袋）之间，亦可装在暗盒（袋）内。滤光板的厚度应为0.5、1、1.5和2mm。在0.5~1.5mm厚的滤光板一个角上钻一个直径为3mm的孔，在2mm厚的滤光板一个角上钻两个直径为3mm的孔。建议在滤光板上作适当的标志，以便在评片发生疑问时查证原因。10.2.5遮挡板遮挡板由一层或多层铅板组成，它紧贴于暗盒（袋）后部，也可以装在暗盒（袋）内。其厚度至少为2mm。在其一个角上钻两个直径为5mm的孔，以便核对照相时是否装上了遮挡板。10.2.6象质计象质计只用来确定底片质量，而不能用于评定缺陷的大小。本章规定使用线型象质计，也可以使用与其等效的其它象质计。线型象质计的型号和规格应符合GB/T5618的规定。10.2.7识别标志和定位标志为辨别底片，应使用铅制识别标志和定位标志。其厚度根据被检件的厚度来确定。10.2.8观察设备10.2.8.1光学密度计光学密度计用来测定参考底片的光学密度，其读数精度为±0.1。首次使用光学密度计必须进行校验，以后每六个月至少校验一次。在达到热稳定后，用第一或第二光学密度标准片进行校验。在测定光学密度值的范围内，至少要标定8个光学密度区。10.2.8.2光学密度参考标准底片和光学密度参考底片光学密度参考标准底片和光学密度参考底片有效期：a）光学密度参考标准底片（第一标准底片）标准底片的光学密度是在物理测量实验室用光学方法测定的。要特别注意底片的保存和使用条件。标准底片的有效性期限不超过3a。b）光学密度参考底片（第二标准底片）光学密度参考底片的光学密度是与光学密度参考标准底片对比测定的。光学密度参考底片应每年校对一次。10.2.8.3观片灯20 观片灯用来观察底片（单片或双片观察），它应有能观察底片最大光学密度为4.5的最大亮度且观察的漫射光亮度可调。对不需要观察或透光量过强的部分应采用适当的遮光板以屏蔽强光。10.2.9底片保存底片保存取决于显影的质量和底片归档条件。胶片处理后，应按制造商的规定和下列要求保存。10.2.9.1底片封装为使底片避光封存，应将底片夹于隔片纸之间或用折叠纸包装置于纸袋或精装纸盒内。用胶封装纸袋口时，避免胶与底片接触。用纸袋或纸板箱存放底片，须使底片直立着放置，以避免底片堆积受压。10.2.9.2存档柜封装底片的纸袋或纸板箱应贮藏在存档柜内。存档柜应能耐火且不得散发出有危害贮藏文件的气体。10.2.9.3档案室档案室应保持整洁并备有防水、防火和防虫咬的措施。10.2.9.4环境要求保存底片的温度、湿度和光照的要求如下：——底片贮存温度应小于或等于24℃，偶尔在短时间内，可允许最高温度为32℃。——规定相对湿度为30%~50%，偶尔在短时间内，可允许湿度上升到60%。——底片应避光，须保存在存档柜内。10.2.9.5底片档案参考底片、产品最终透照底片和返修透照底片应当归档保存10.3检验条件10.3.1表面准备工件表面应无氧化物、异物或任何有碍射线照相底片评定的不规则状态。表面可经加工、打磨、喷砂、喷丸清理或不经加工处理。第11章和第12章规定了必要时的表面清理。10.3.2射线源的选择射线源应根据工件的壁厚和被检区的厚度来选择，见表7。表7根据总的壁厚选择射线源mm铸件射线源焊接接头待焊区其它区域400kV以下的X射线70以下70以下70以下1）铱-192120以下120以下120以下1）钴-6070~20070~20050~2002）直线加速器5.5MeV≥100≥60≥602）2）直线加速器8MeV≥100≥100≥100回旋加速器≥100≥100≥1001）用铱192源，一次透照时间不超过18h。用钴60源，一次透照时间不超过24h。2）可适当降低限定值。10.3.3几何条件10.3.3.1几何不清晰度a）定义使用下式计算几何不清晰度：d⋅TUg=F−T……………………………………………（2）21 式中：Ug——几何不清晰度，mm；d——射线源尺寸，mm；T——被检验区入射表面和装有胶片暗盒（袋）之间的距离，mm；F——射线源与胶片之间的距离，mm。X射线源有效焦点尺寸计算见附录C2图4。如果γ射线源为圆柱体，则其焦点尺寸“d”为：——单向辐射（见附录C2图1和图2）1）如果圆柱体的轴线与胶片面平行，则“d”为圆柱体的高度“h”；2）如果圆柱体的轴线与胶片面垂直，则“d”为圆柱体的直径“Φ”。——多向辐射（见附录C2图3）“h”或“Φ”两值中选其中较大的值为“d”。b）几何不清晰度数值1）一般情况按照上述（2）式计算得到的几何不清晰度数值不应超过表8中所列的数值。表8几何不清晰度最大值mm铸件射线源焊接接头待焊区其它区X射线400kV以下或铱-1920.300.400.50钴-600.600.601.0直线加速器或回旋加速器1.01.01.02）特殊情况当采用全景曝光或采用内部偏心透照时，如果根据工业标准使用源的最小尺寸或对于工业使用来说，用“外源曝光”代替上述曝光方法，将导致不可接受的操作与曝光时间，可允许达到表9所列的几何不清晰度数值。3）检验奥氏体或奥氏体——铁素体不锈钢制成的插入式焊接接管的特殊情况采用铱-192源进行“内源曝光”，将其置于接管轴线上，用以检验接管与母管连接焊缝。对于公称直径在250mm以下的接管，几何不清晰度最大值为0.6mm；对于公称直径大于或等于250mm的接管，几何不清晰度最大允许值为0.90mm。表9几何不清晰度允许值mm铸件射线源厚度（T）焊接接头待焊区其它区铱-192任意厚度0.600.600.60T≤1000.800.801.0钴-60T＞1000.900.901.010.3.3.2射线源尺寸射线源的高度和直径以及X射线机和加速器的焦点尺寸，应由射线源或设备的供货商提供。10.3.3.3胶片与工件的距离曝光期间，胶片必须与工件贴紧，除非其它的布置能使被检验区域得到更好的底片图象。10.3.3.4透照厚度比焊缝和铸件透照厚度比为K值，见图5和（3）式：T′K=T…………………………………………（3）式中：T——母材厚度，mm；T′——射线束斜向透照最大厚度，mm。22 a）焊缝透照厚度比的规定1）环缝：1级，K≤1.06；2、3级，K≤1.1。2）纵缝：1级，K≤1.01；2、3级，K≤1.03。b）铸件透照厚度比的规定一般K≤1.1，也可用多层胶片法扩大透照厚度比的范围。图5焊缝和铸件透照厚度比示意图10.3.4射线照相胶片和射线源相对位置10.3.4.1单壁透照对于被检件采用单壁透照时，可采用下面三种曝光技术的一种方法：a）单个曝光或局部曝光一个或几个暗盒（袋）同时曝光，将暗盒和射线源置于被检验件的两边。b）单件全景曝光该技术只适用于环形或接近环形的工件，所有的暗盒（袋）同时曝光。检验时，射线源必须置于被检验件的轴线上，射线束轴线与被检区表面尽量垂直。c）偏心射线源曝光该技术只适用于环形或接近环形的工件，一个或几个暗盒（袋）同时曝光。射线源置于被检件的内侧，在被检件的轴线和照相区的对壁之间。射线束的轴线应垂直于被检区的表面。10.3.4.2双壁透照这种曝光技术只适用于空心件。射线必须穿透被检件的双壁。暗盒（袋）总是置于离射线源最远的壁上。通常，射线源与胶片的距离、评定（单壁或双壁检验）区域由几何不清晰度值确定。对于焊缝的特殊情况，评定区域取决于焊缝的轮廓（椭圆或平面投影）。如几何不清晰度满足了要求，还要测定底片评定区域的光密度是否达到要求。如作整体检验，则对所要检验的范围分段进行多次曝光。10.3.4.3多件全景透照可以采用单壁或双壁透照，一次曝光就能同时完成置于射线源周围的若干零件的透照。10.3.5象质计的选用、放置和数量10.3.5.1象质计的选用应按表12或表13规定的图象质量要求选择象质计。要求能显示的线径不应当是所用象质计中的最小线径，除非这个线径为0.1mm。10.3.5.2象质计的放置23 线型象质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区的一端（被检区长度的1/4部位）。钢丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直，细钢丝置于外侧。当射线源一侧无法旋转象质计时，也可放在胶片一侧的工件表面上，紧靠象质计放置一个铅字“F”。如将象质计置于胶片侧，则在照相底片上显示出的象质计线径应比象质计置于源侧显示出的规定象质计线径（见10.5.2）低1级。检验铸件时，象质计的放置见11.2.5.3的规定。10.3.5.3象质计的数量a）除了下述b、c、d规定之外，每张射线照片上都应有一个象质计。象个象质计只能代表一个有效检验范围。b）在同一暗盒（袋）中叠放两张速度相同或不同的胶片，以扩大一次透照可检验的厚度范围时，在被检件不同厚度的表面上放置相应规格的象质计。c）以周向360°曝光检验环焊缝或圆筒铸件时，每隔90°放置一个象质计。当与环焊缝相连的纵缝部分与环焊缝同时进行射线照相检验时，在离射线源最远的纵缝端部应另外放置象质计。d）如将γ射线源置于球形容器中心位置，对几何条件相同的焊缝作全景曝光时，则在一条焊缝的360°圆周上应至少放三个间隔相等的象质计，而其他各条焊缝上各放置一个象质计。10.3.6暗盒（袋）组成10.3.6.1胶片a）单层胶片法，使用单层胶片。b）双层胶片法，将两张相同的胶片装在同一个暗盒（袋）内。c）多层胶片法，在同一暗盒（袋）内，相对于不同感光度的双层胶片叠置一张或几张胶片。10.3.6.2增感屏a）电压小于100kV的X射线，使用单层胶片技术，不强求使用增感屏。b）电压不小于100kV和不大于400kV的X射线，使用双层胶片技术，暗盒（袋）应包括：——铅制前屏，厚度在0.05~0.15mm之间；——铅制中屏，厚度在2×0.05～2×0.1mm之间；中屏的每层厚度应小于前屏的厚度。——铅制后屏，厚度在0.05～0.2mm之间。注1检验厚度小于30mm时，当用双层胶片技术时，不强求使用中屏。2检验厚度小于30mm时，可以使用单层胶片技术，但应按上述确定的厚度，使用前屏和后屏。c）γ射线源应使用双层胶片技术，暗盒（袋）包括：——铅制前屏，标称厚度0.20～0.25mm；——铅制中屏，标称厚度2×0.1mm；——铅制后屏，标称厚度0.20~0.25mm。注1也可以使用除铅以外的其它金属制成的增感屏，其类型和厚度通过比较试验予以证实。2用钴60进行射线照相检验时，可以使用厚度为0.25mm的不锈钢增感屏。d）直线加速器和回旋加速器应采用双层胶片技术，胶片暗盒（袋）包括：——铅制前、后屏，标称厚度1～1.6mm；——铅制中屏（视情况选择），标称厚度2×0.1mm。注：可使用不锈钢增感屏。10.3.7滤光板24 10.3.7.1电压＜400kV的X射线不强求使用滤光板。10.3.7.2γ射线源除非另有规定外，应使用铅制滤光板的厚度列于表10中。表10根据透照厚度选择滤光板的厚度透照厚度（mm）滤光板厚度（铅）（mm）T≤400.540＜T≤60160＜T≤801.5或2（用于碳钢或低合金钢）、2（用于不锈钢）T＞80210.3.7.3直线加速器和回旋加速器不强求使用滤光板。10.3.8遮挡板当有大量背散射线时（例如靠近金属或混凝土壁）应使用遮挡板，在其背后放一厚度为1.5～2.5mm的铅制字母“B”，以证实遮挡板是否有效。如在同样条件下作重复性透照时，只需验证第一次透照的有效性。10.3.9底片标志底片标志系统应随时使射线照相底片与被检区相对应，且不得妨碍底片被检区域的评定。10.3.9.1被检件上的识别标志在大多数情况下，以被检件上的钢印标记的标志作为基准点，以便日后能够准确地识别照相位置。如因材料性质和使用条件限制而不能打上钢印标记的标志，可采用透照部位的简图或用其它有效的方法标记。10.3.9.2底片上的识别标志射线照相底片标志是用数字和字母显示在底片被检区以外的部位。与被检件钢印标志相对应的铅制标志，应在底片上显示出来，以使底片与被检区相对应。工件经一次修补后，在修补区的照相底片上除了上述标志外，还应增加一个字母“R1”标志；如经二次修补，则以R2标志表示。10.3.9.3曝光次数和胶片搭接曝光次数和胶片搭接应能透照到被检区的整个体积。10.4射线照相胶片的处理和检验10.4.1射线照相胶片的处理应按制造商推荐的程序和下列规定对胶片进行手工或自动处理机处理。10.4.1.1手工处理显影、定影和冲洗的温度和时间在表11中作了规定。可采用新型配方的其它处理工艺，但使用的条件必须提供买方认可。表11射线照相胶片手工处理条件显影定影冲洗温度20±1℃最低19℃最低15℃时间5~8min最短10min最短30min附加要求：——使用前，新配的显影液和定影液应使用曝光过的胶片进行时效试验。——不使用时，采取保护措施以防止显影液和定影液蒸发和氧化。25 2——显影液在规定条件下使用和保存：每升显影液大约处理0.5m的胶片后，必须更换，或自其使用之日起，不得超过2个月。——一旦胶片从显影液中取出，就放入流动水槽中浸泡2min左右，再放入定影液中定影。——用于处理胶片的水应清洁、无悬浮颗粒且尽可能过滤。——可使用湿润剂以防止胶片在干燥期间形成水迹。10.4.1.2自动处理按照处理机制造商的要求。显影温度和显影时间分别不得超过25℃和3min。要特别注意，确保胶片卷筒定期清洗。注1人工或自动处理须在胶片曝光后8h之内完成，最迟不得超过24h。2应采取措施以确保显影过的胶片无化学、机械或其它污损的缺陷。如损伤不严重，只影响同一暗盒（袋）内的一张底片，则这张底片不必重新透照。3原则上，胶片必须与其相配备的配方进行显影。但有比较试验提供正当理由，也可使用其它的配方进行显影。10.4.2灰雾度灰雾度是指未经曝光直接显影定影处理过的胶片总光学密度（乳胶+片基）。胶片的灰雾度不得超过0.3。至少每六个月一次从一批生产条件相同且未经曝光的胶片中抽取一个样品，在经与胶片相配备的显影液、定影液处理后，在底片上测定灰雾度，以核查胶片是否按照10.2.2规定保存。10.4.3射线照相底片检验10.4.3.1评片应在专用评片室内进行。评片室内的光线应暗淡，但不要全暗，室内照明用光不得在底片表面产生反射。10.4.3.2对观片灯的要求见10.2.8.3的规定。对不需要观察或透光量过强的部分应采用适当的遮光板以屏蔽强光，使底片光照面积缩小到所要观察的最小范围。10.4.3.3除非另有规定外，采用双片技术曝光的底片，必须双片同时观察。10.5射线照相底片的质量10.5.1光学密度底片的光学密度必须用光学密度计测定。除非另有规定外，对于单片观察，光学密度至少为2.0，最大光学密度为4.0；双片曝光并作迭合观察时，双片的光学密度必须大于2.7，最大光学密度为4.5。此外，当采用双片观察时，在评定区内于每张底片相同点所测得的光学密度差不得超过0.5。10.5.2图象质量使用象质计记录的图象质量必须满足表12和表13中相对应被检厚度的象质计线径。表12焊接件厚度T（mm）象质指数象质计可见线径（mm）T≤3160.1003＜T≤6150.1256＜T≤10140.1610＜T≤16130.2016＜T≤25120.2525＜T≤32110.3232＜T≤40100.4040＜T≤8090.5080＜T≤12580.63125＜T≤16070.8026 160＜T≤20061.00200＜T≤25051.25250＜T≤32041.60320＜T≤40032.00表13铸件厚度T（mm）象质指数象质计可见线径（mm）T≤10130.2010＜T≤16120.2516＜T≤25110.3225＜T≤40100.4040＜T≤6390.5063＜T≤10080.63100＜T≤16070.80160＜T≤20061.00200＜T≤25051.25250＜T≤32041.60320＜T≤40032.00400＜T≤50022.50500＜T≤65013.20T＞650（5）4.0010.5.2.1焊接件被检焊接件的厚度与象质计可见线径的对应关系如下：a）1、2、3级焊缝的实施方法1级焊缝按照表12对应于被检件厚度的横行内查出象质指数及其线径。2、3级焊缝按照表12对应于被检件厚度，向下移动一行，查出象质指数及其线径。b）透照外径小于等于120mm的管焊缝或用高能射线（大于1MeV）透照角接焊缝和接管焊缝。接表12对应于被检件厚度，向下移动一行查出象质指数及其线径。另外，在双壁透照情况下，图象质量按照12.2.6的规定确定。c）特殊焊缝按表12对应于被检件厚度，向上移动一行取象质指数及其线径。10.5.2.2铸件按照表13对应于被检件厚度的横行内查出象质指数及其线径。10.6检验报告检验报告应包括下列内容：——制造厂、订货单和设备的标志；——零件、焊缝或被检区域的标志，包括钢号的标志；——所用检验文件的名称；——检验时间；——射线照相区域的厚度；——射线源的类型与其焦点尺寸；——胶片型号；——增感屏与滤光板的型号、数量和厚度；——象质计的型号；——射线源和被检验区的相对位置，以及射线源和胶片间的距离；——透照时间；——胶片处理条件；27 ——象质计最小可见线径；——检验结果的评定；——操作人员和评片人员的姓名和资格；——承担检验任务的分承包商的名称（必要时）；——检验日期和检验员的签名。11钢铸件射线照相检验本章适用于需经射线照相检验的1、2、3级铸件。11.1一般要求第10章规定的一般要求在此均适用，此外，再补充下列要求。11.2检验条件11.2.1检验时间除非另有规定外，铸件应在所要求的消除应力热处理后进行检验。11.2.2被检验区除泵、阀的不可检测区之处，1、2级铸件应进行100%检验，核安全3级铸件只检验待焊端部，待焊端部宽度至少为壁厚三倍且不超过75mm。11.2.3表面清理必须按10.3.1的规定实施。可通过喷丸、喷砂、磨削或机加工进行表面清理。焊补区应采用磨削方法清理表面。11.2.4胶片类型铸件射线照相检验所使用的胶片，在表14中作了规定。11.2.5特殊检验条件11.2.5.1滤光板在表10中规定的铱-192和钴-60所采用的滤光板，除了待焊区和经焊补的较大凹坑，以及技术规范中的规定外，不强求使用滤光板。表14射线照相区与胶片类型射线照相区胶片类型3）任意厚度的待焊区和其焊补区3型以内1）T＜400mm4型以内其它区1）T≥400mm5型以内3）T＜200mm3型以内焊补区2）T≥200mm4型以内1）当采用多层胶片技术时，与最大可评区相对应的双层胶片为4型以内胶片。当最大可评定区不能确定时，该区域很可能存在缺陷，应采用双层胶片透照。2）厚度大于400mm的焊补区，可用5型胶片，但图象质量必须满足表13的要求。3）当采用400kV以下的X射线透照，可用4型以内的胶片，且应遵照10.3.2的规定。11.2.5.2透照方式和胶片的评定a）厚度不变的铸件由双片进行评定。b）厚度变化的铸件1）双片透照底片上评定区的总光学密度在2.7和4.2（或4.5）之间，应采用双片评定。部分双片光学密度大于4.2（或4.5），可作单片评定，单片的光学密度应在2和4.2（或4.5）之间。2）多片透照当铸件的厚度差别显著时，可用两张以上胶片。胶片暗盒（袋）内至少装一组感光速度28 相同的双片，在下述确定的光学密度条件下尽可能扩大被检区的范围：——感光速度相同的双片，根据双片透照，可用单片或双片评定。——补充片分别观察，或与感光速度接近的底片重叠观察，评定区的光学密度应在2.0和4.5之间，对反差最小的胶片，最小光学密度为1.0。11.2.5.3象质计a）分段透照象质计的选择详见表13。当透照厚度有变化时，对整个被检区域提供双片观察（总光学密度大于2.7，小于4.5），尽可能将象质计放置在透照光学密度最淡的区域上。在其他情况下，采用两只象质计，尽可能将其放在被透照区的端部与边缘。b）全景透照分段透照的要求也适用于全景透照区域的检验。11.2.5.4毛坯铸件的射线照相a）待焊接管铸件分为两类：特殊用途和多用途的铸件。1）非标准铸件（特殊用途的铸件）这类铸件相当于正式被鉴定的部件。铸造厂已知图6和图7中所规定的h值。图6圆筒形接管示意图29 图7不同厚度的接管示意图2）多用途铸件这类铸件包括公称直径小于或等于250mm的阀壳铸件，其对应不同额定压力值应符合设计规范的规定。检验时，毛坯铸件圆筒截面最大厚度（图8）应等于相应阀设计压力的最厚管壁T加上图8规定的厚度余量。铸造厂应根据设计规范确定厚度T。图8毛坯铸件的圆筒段长度和厚度余量值示意图30 3）毛坯铸件的圆筒段长度和厚度余量值不同厚度的接管、毛坯铸件应包括长度为L的圆筒段。非标准铸件和多用途铸件的公称直径ND≤250mm时，L≥1.5T（或1.5h）；ND＞250mm时，L≥T（或h）。不管哪种情况，对管子对接焊缝进行射线照相检验，被检验区的范围不得超过75mm。毛坯铸件圆筒截面最大容许的厚度应等于T（或h）加上下列规定的厚度余量：——ND≤150mm的铸件为8mm。——150mm＜ND≤250mm的铸件为12mm。——250mm＜ND≤450mm的铸件为16mm。——ND＞450mm的铸件为22mm。4）几何不清晰度的计算几何不清晰度按（2）式进行计算。单壁透照时，考虑的厚度为毛坯铸件圆筒截面的厚度。双壁透照时，考虑的厚度为毛坯铸件圆筒截面的外径。5）图象质量图象质量应达到表13的要求。采用单壁透照时，考虑的厚度为T或h。采用双壁透照时，考虑的厚度为2T或2h。6）底片的评定在毛坯铸件圆筒部分的整个长度上，应采用双片技术（用同型号的两张胶片）透照与评定。b）其它区域检验时，对于最大余量厚度没有特别规定。但透照余量厚度的区域，不得影响探出缺陷的类型与大小。11.2.5.5铸件边缘效应的区域如铸件长度余量和几何形状不能完全避免边缘效应时，应采用适当方法（如用补偿材料、补偿件、遮挡板和滤光板）加以避免。11.2.5.6小直径泵与阀第一种情况：公称直径ND＜100mm的铸件。整个铸件（壳体、底座、法兰和待焊接管）按10.3.4.2规定的“双壁透照”法透照。第二种情况：公称直径在100mm和150mm之间的铸件。除待焊接管外，对整个铸件按10.3.4.2规定的“双壁透照”法透照。对待焊接管按10.3.4.1规定的“单壁透照”法透照。采用双壁透照法时：——象质计置于射线束中心线上的射线源一侧；——几何不清晰度按（2）式计算。式中的T为铸件射线照相部位的外径；——根据射线穿透的壁厚确定图象质量。11.3射线照相检验区域铸钢件射线照相检验区域是在理论上属于100%检验而实践中不能实现此类检验的铸件上所划分的透照区和不能进行透照的区域。这些铸件包含阀座和阀体连接部位，泵壳的接管与泵体连接部位。因其几何形状、厚度或厚度变化而不能采用常规检验方法；或使其不能满足底片质量要求（几何不清晰度、光学密度等），或者要花费大量的操作时间。上述情况如图9和图10所示。检验时应标注出最小透照区域和不能进行透照的区域。31 图9阀类最小的被检验区的典型例子（剖面线区域）图10泵类最小被检验区域典型的例子（剖面线区域）32 11.4焊补区的检验所用的胶片类型应按表6的规定选择。焊补后，包括热影响区，可用适当的标志将其位置标出，只评定底片标出区的部位（如没有标志，则要评定整张底片）。所需要的射线照相检验：——较大打磨区（较深凹坑），所要求的图象质量见表12，应用该表时，采用的厚度为修补区的垂直壁厚；——其它情况，图象质量应满足表13的要求；——当胶片放置在焊补区表面一侧时，以打磨区深度作为计算几何不清晰度的厚度，最大几何不清晰度值见表8和表9“待焊区”一栏里的规定。11.5验收标准除非另有规定，铸件按照ASMEV中SE—186、SE—280、SE—446标准参考射线照片，或按GB/T5677标准进行分级验收。11.5.11级设备铸件的验收标准如下：a）阀门类——铸件中不得存在任何裂缝、热裂和嵌入物；——接管或阀体端部待焊区按缺陷严重程度1级验收；——接管段或阀体以及其他部位按缺陷严重程度2级验收。b）其他铸件——铸件中不得存在任何裂缝、热裂和嵌入物；——焊接坡口部位按缺陷严重程度1级验收；——铸件的其他部位按缺陷严重程度2级验收；11.5.22级设备铸件的验收标准如下：a）阀门类——铸件中不得存在任何裂缝、热裂和嵌入物；——接管或阀体端部待焊区按缺陷严重程度1级验收；——接管段或阀体部位按缺陷严重程度2级验收；——铸件的其他部位按缺陷严重程度3级验收。b）其他铸件——铸件中不得存在任何裂缝、热裂和嵌入物；——焊接坡口部位按缺陷严重程度1级验收；——铸件的其他部位按缺陷严重程度3级验收。11.5.33级设备铸件的验收标准如下：a）阀门类——铸件中不得存在任何裂缝、热裂和嵌入物；——接管或阀体端部待焊区按缺陷严重程度1级验收；——接管段或阀体部位按缺陷严重程度2级验收。b）其他铸件——铸件中不得存在任何裂缝、热裂和嵌入物；——焊接坡口部位按缺陷严重程度1级验收。12焊缝射线照相检验本章适用于同质或异质的全焊透对接焊缝或角接焊缝射线照相检验。12.1一般要求第10章规定的所有一般要求，在此均适用，此外补充下列条文。33 12.2检验条件12.2.1检验时机除非工艺规程或合同中另有规定，射线照相检验可在焊后热处理之前实施。12.2.2检验区域检验区域包括焊缝金属和距离为下列值的相邻母材。对坡口而言，距实际坡口边缘的距离或在补焊时距清理沟槽的距离：a）对于T≤30mm时，至少为5mm；b）对于T＞30mm时，至少为10mm；12.2.3表面准备表面准备按10.3.1规定执行。表面准备范围即本章12.2.2规定的检验区域。检验区域的表面不得妨碍摄片有效的评定。12.2.3.1对接焊缝厚度大于50mm的焊缝，应采用合适的机械方法，将焊缝外表面或/和可接近的内表面加工到与母材齐平。用钨极惰性气体保护焊施焊的第一层焊道及其不规则状态对评片无妨碍时，不必将其内表面加工到与母材平整。厚度等于或小于50mm的焊缝，其表面应与焊接件表面均匀过度，不得有咬边。此外，用药皮焊条在水平、垂直方向施焊的焊缝，应磨去纵向沟槽和表面缺陷。对于其它位置的焊缝，必要时，可用砂轮打磨，以利评片。12.2.3.2插入式角接焊缝对焊缝可接近的内表面应磨平。对焊缝外表面，焊道与焊接件的表面应均匀过度，不得存在严重的咬边。12.2.4胶片类型根据情况，可采用以下类型的胶片：——采用加速器和钴-60透照：用1型和2型胶片。厚度超过300mm，可用3型胶片；——用铱-192透照：除1级对接焊缝要求用1型和2型胶片外，1至3型胶片均可使用；——用X射线和铥-170透照：1至4型胶片均可使用。注：对于电渣焊焊缝，可使用1～3型胶片。12.2.5射线照相胶片和射线源的相对位置12.2.5.1管子对接焊缝根据管径，可以划分为：a）Φ外径＜90mm1）垂直透照法与椭圆透照法。采用双壁透照，射线源远离管件。——至少在互呈90°方向透照两次：1）当比值Φ/T≤10采用垂直透照法；当比值Φ/T＞10采用垂直透照法或椭圆透照法。垂直透照法——射线源置于管件外侧焊缝平面上方。椭圆透照法——射线源相对偏离焊缝平面，其形成的影象呈椭圆显示，如图12所示，即0＜X≤15mm（X=焊缝图象边与边距离）。如管子壁厚不超过5mm的窄焊缝。X允许最大值为20mm。——几何不清晰度公式中采用的T为透照管的外径。——将象质计所要达到的线径放置在射线束轴线上，如图11所示。一级焊缝应采用双片观察。当双片的黑度达到4.5时，可根据12.2.5.2b规定，采用单1）Φ=管子外径（mm），T=管壁厚度（mm）。34 片观察。2）双壁单透照、射线源贴近管壁如图13b所示，将射线源置于管子的外壁上，正对胶片对面。几何不清晰度按照（2）式进行计算。图象质量由透照厚度（被评定壁厚）确定。分段摄片的光学密度应满足10.5.1的规定。b）90mm≤Φ外径≤170mm1）比值Φ/T≤5如能将射线源放入管内，如图13a所示，将其置于胶片正对面的管子内壁上。如不能将射线源放入管内，如图13b所示，将其置于胶片正对面的管子外壁上。2）比值Φ/T＞5如能将射线源放入管内，并满足几何不清晰度要求，则按下述方法放置：——将射线源置于焊缝截面中心（管轴线上）位置；——按图13a所示，射线源贴在胶片下对面的管子内壁处。如不能将射线源放入管内，则按下述方法放置：——如图13b所示，将射线源贴在胶片正对面的管子外壁上。至少作等间距透照4次。——如图13c所示，将射线源置于管焊缝外侧上方，与焊缝处在同一平面内，对焊缝分段单壁透照。c）Φ外径＞170mm可将射线源直接放进管内或用导源管放进管内，最好将其置于管子的中心位置。如不能将射线源放入管内，将其放在管外进行透照。12.2.5.2对接焊缝射线源放在焊缝中心截面上，或放在坡口面上方，并应满足以下要求：a）双片观察所有底片必须评定。对于被检区域须用双片观察，底片的光学密度必须符合10.5.1的规定。b）单片观察如双片的最低光学密度在2.7～3.5之间，而双片对应于被检区的某些部分的光学密度又大于4.5时，则可按10.5.1的规定，采用单片观察，须观察两张底片。12.2.5.3全焊透角接焊缝12.2.5.3.1贴合式接管焊缝胶片置于接管内,紧贴被检管壁上；射线源放在管外,置于偏离焊缝坡口轴线0°～＋10°，如图14a所示。放在胶片后面的铅制遮挡板的厚度至少为6mm。12.2.5.3.2插入式接管焊缝胶片置于主管道或设备的内部或外部，见图14b和14c。胶片置于管内时，射线源放在与接管母线呈20°～30°的轴线上。胶片置于管外时，为满足几何不清晰度的要求，将射线源置于接管轴线上。注1：用主平面计算几何不清晰度：——主管轴线与接管轴线垂直构成的截面，即主管纵向截面。在任何情况下，计算几何不清晰度所考虑的射线源尺寸应是射线源直径或高度中较大者，被检件入射表面和装有胶片暗盒（袋）之间的距离规定如下：x+ya=2x和y见图14e。所要考虑的距离应是两者（直角部位或边缘部位）中较大者。35 如焊缝的厚度不同，允许底片的光学密度在2.7和4.5之间，采用单片透照。如此法不行，可采用下列两种方法之一进行透照：——用装有不同型号的双片进行一次透照；——根据需要进行多次透照。注2：焊缝透照最大厚度大于100mm，见图14d。用铱源进行射线照相检验时，射线源置于接管的轴线上，对阴影线的区域，要达到图象质量和光学密度的要求。制造厂应确定一种定位方法，并用图示和说明选用的理由。为保证上述区域的透照，还要考虑到可能发生的各种偏差，允许留有一定的余地（图中方格部位），以使底片上显示的定位标志确定在被检件表面的位置。12.2.6象质计12.2.6.1象质计的选择应满足如下要求：a）象质计的选择见10.3.5.1规定。b）管子对接焊缝的双壁照相情况：——如作双壁评定，则象质指数由透照厚度等于两倍壁厚确定；——如作单壁评定，则象质指数由透照厚度等于被评定的壁厚确定。12.2.6.2象质计的旋转线型象质计应按10.3.5.2规定放置。对于外径＜90mm的管子对接焊缝射线照相，还可以选用专用象质计。象质计应放在射线源侧的焊缝表面上，且与工件表面紧贴，金属丝垂直横跨焊缝表面正中（射线束轴线上）。采用R10系列象质计时，应将需要显示的线编号钢丝对准定位中心标志处。对于角接焊缝，将象质计置于能够投影到的被检验区上。如果这个区域较宽，尽可能将象质计置于透照区的最厚处。12.2.6.3象质计影象的识别当选用R10系列象质计时，观察到应显示的线编号钢丝影象；当选用专用象质计时，应至少观察到一根以上的钢丝影象。12.2.6.4象质计的数量见10.3.5.3的规定。12.2.7特殊情况12.2.7.1焊道之间的射线照相检验根据焊缝厚度规定检验条件并考虑下列特殊状态：——可保留熔焊毛面；——被检区域限定以焊道为中心的部位。12.2.7.2隔离层与母材交界面的射线照相检验由于不同金属对射线的吸收差别，或采用下列规定：a）奥氏体不锈钢隔离层射线源置于隔离层与母材界面的延伸面上。b）含高镍合金的隔离层这类界面的射线照相检验须用一个检验规程列入主要参数（透照角度，特殊的照相图象，光学密度等）。检验前，应将此规程提交买方。12.2.7.3用立焊法施焊的电渣焊缝图象质量图象质量应符合表12的规定。12.2.7.4插套焊缝的射线照相检验此种检验采用双片法，并应满足以下要求：a）胶片与射线源的相对位置36 对于各种焊件（单焊件和套管焊件），射线源置于焊缝与套管连接的面上，射线源与胶片的距离至少为套管外径的10倍。b）透照次数——1、2级焊缝：相互呈90°透照两次。——3级焊缝：只透照一次。c）图象质量用单片观察时，在贴紧焊缝的接管中心线处测得的光学密度必须大于3。象质计放在射线源一侧且横跨焊缝，可用单片和（或）双片评定。在底片上显示出的象质计线径仅作参考。12.3检验区标志不能在底片上确定检验区域时，象打磨光的对接焊缝检验一样，应标记被检区域的界线。铅制定位标志或标志带应置于离原始坡口边缘至少10mm处，放置的标志不得妨碍对底片评定区的评定。12.4修补区的检验修补区的射线照相检验与修补前规定的检验条件相同。照相检验底片必须带有修补标志R（见10.3.9.2的规定）。图11象质计的位置图12椭圆透照法37 图13双壁单透照方法图14全焊透角接焊缝射线检验方法38 续图14全焊透角接焊缝射线检验方法12.5验收标准39 12.5.11级焊缝具有下列任何一种缺陷的焊缝均为不合格：a）任何裂纹、未熔合、未焊透、咬边。b）最大尺寸L大于或等于表15中规定值的任何气孔。表15壁厚与气孔尺寸的对应关系壁厚（T）mm气孔尺寸（L）mmT＜4.5T/34.5＜T≤61.56＜T≤10210＜T≤252.525＜T≤503T＞504c）在12T或150mm两值中较小的长度内，任一线状气孔的累积长度或蜂窝状气孔直径的总和大于T。如果两个气孔之间的间距小于其中最大气孔直径的6倍，则可把这两个气孔视作一个线状（或蜂窝孔）气孔。d）最大尺寸L等于或大于表16规定值的任何单个夹渣（杂）。表16壁厚与夹渣尺寸的对应关系壁厚（T）mm单个夹渣长度（L）mmT＜61.56＜T≤10310＜T≤60T/3T＞6020如果两个夹渣之间的间距小于其中最小缺陷尺寸的6倍，则可把这两个夹渣看作同一个缺陷，其长度为这两个夹渣（杂）尺寸之和。e）在12T的长度内，排列成直线的夹渣（杂），其累积的长度超过T。如果两个夹渣（杂）物之间的间距小于较长者的6倍，则把这两个夹渣（杂）物看作同一个缺陷，其长度为这两个夹渣（杂）尺寸之和。12.5.22级焊缝具有下列任何一种缺陷的焊缝均为不合格：a）任何裂纹、未溶合、未焊透、咬边。在底片评定时发现的所有咬边都应作目视检查。如存在咬边，则应将其打磨掉，或必要时，进行补焊。b）所有直径大于6mm或T/3两值中较小者的气孔。c）在12T或150mm两值中较小的长度内，任一组直径总和大于T的线状排列（或蜂窝状）的气孔。如果两个相邻气孔之间的间距小于其中较大气孔直径的6倍，则可把这两个气孔视作为一个线状排列（或蜂窝状）的气孔。d）所有孤立的单个夹渣，如果它的最大尺寸L大于或等于表17规定的值。表172级焊缝壁厚与单个夹渣长度的对应关系壁厚（T）mm单个夹渣长度（L）mmT≤18618＜T≤60T/3T＞6020e）在12T长度内，夹渣（杂）物总长大于T。如果两个夹渣（杂）物之间的距离小于两者中较大长度的6倍，则把这两个夹渣（杂）40 物视作为同一个缺陷，其长度为这两个夹渣（杂）尺寸之和。12.5.33级焊缝具有下列任何一种缺陷的焊缝均为不合格：a）任何形状的裂纹、未熔合、未焊透、咬边。在底片评定时发现的所有咬边都应作目视检查。如存在这些咬边，则应将其打磨掉，或必要时，进行补焊。b）任何直径大于6mm和T/3两值中较小者的气孔。c）在12T和150mm两值较小长度内，任一组直径总和大于T的线状（或蜂窝状）气孔。如果两个气孔之间的间距小于其中最大气孔直径的6倍，则将这两个气孔视作为线状（或蜂窝状）气孔。d）所有孤立的单个夹渣，最大尺寸L大于或等于表18中规定值：表183级焊缝壁厚与单个夹渣长度的对应关系壁厚（T）mm单个夹渣长度（L）mmT≤969＜T≤302T/3T＞3020e）在12T长度内，夹渣（杂）物的总长大于2T。如果两个夹渣（杂）物之间的距离小于两者中较长的6倍，则可将这两个夹渣（杂）物视作为同一个缺陷，其长度为这两个夹渣（杂）尺寸之和。12.5.4插套焊接接头具有下列缺陷的接头均为不合格：a）蜂窝状气孔；b）尺寸大于或等于1.5mm的任何气孔与夹渣；c）任何裂纹、未溶合、未焊透。插套底部间隙和接管的塌陷量应符合设计技术条件的规定。第三篇液体渗透检验13液体渗透检验本章规定了核用材料、零部件及焊缝液体渗透检验的一般要求。13.1一般要求13.1.1检验人员资格液体渗透检验人员必须具有液体渗透检验有效资格证书，其资格应符合第七篇的要求。13.1.2检验文件液体渗透检验应按经认可的一套文件（如检验规程和工艺流程卡等）的规定实施。这些文件必须满足合同或订货技术条件的要求，至少包括以下内容：——被检件的类型及材料名称；——参照有关设计规范和其它可适用的技术条件；——检验器材：清洁及渗透用试剂与设备；——检验条件：被检区域和表面条件；——检验技术：渗透方法、检验参数（被检件温度、渗透时间等）；——验收准则。13.1.3渗透检验材料渗透材料是指包括检验过程中所使用的渗透剂、溶剂或清洗剂、显像剂等。渗透材料应配套使用，不同型号的渗透材料不能相互混用。13.1.3.1清洗剂常用的符合使用要求的各种清洗剂或溶剂：醋酸乙脂、丙酮、异丙醇、乙醇等。41 13.1.3.2渗透剂符合使用要求的渗透剂有：a）着色渗透剂水洗型、后乳化型和溶剂清洗型。b）荧光渗透剂水洗型、后乳化型和溶剂清洗型。13.1.3.3显像剂符合使用要求的显像剂有干式显像剂、湿式显像剂和快干式显像剂。13.1.3.4其他检验奥氏体不锈钢、钛或镍基合金时，渗透材料中的卤素和硫的含量极限规定为：氟元素小于100ppm；氯元素小于200ppm；硫元素小于200ppm。13.1.4检验条件13.1.4.1检验时机零部件在何种状态下进行检验，详见合同或订货技术条件的规定。13.1.4.2检验区域检验区域及面积，详见合同或订货技术条件的规定。如有必要，检验表面可分成若干区域进行，根据检验过程的时间长短，确定区域大小。13.1.4.3表面准备被检表面必须干净、干燥和无油渍，并无任何可能影响剩余渗透剂的清除及对显示迹痕作正确判断的杂质或不平整现象。除铸造坯件外，渗透检验前，不得进行喷砂和喷丸处理。对被检件作局部检验时，表面准备区域至少应从检验表面向四周扩展25mm。磨削和机加工表面的粗糙度（Ra）不能大于6.3μm，经过喷丸的铸造坯件不能大于12.5μm，粗糙度按第19章评定。13.1.4.4检验温度在整个检验过程中，渗透剂和被验件的表面温度一般规定在10~50℃的范围内，若无法满足这一温度的条件时，则应按照附录A（标准的附录）规定的要求作对比试验。13.1.5检验方法13.1.5.1施敷渗透剂a）施敷方法渗透剂的施敷可根据被检件的数量、尺寸、形状以及渗透剂的种类，选用不同的方法，常用的施敷方法有：——用喷枪或喷罐喷涂；——用毛笔或刷子刷涂；——浸渍法。b）渗透时间渗透剂的渗透时间为10～20min，某些特殊渗透剂可按使用说明所规定的渗透时间，在整个渗透时间内，被检表面必须完全为渗透剂覆盖，并保持湿润状态。13.1.5.2清除剩余渗透剂经过规定的渗透时间后，残留在被检件表面上的渗透剂应清除干净。根据不同的渗透剂采用不同的清除方法，但要避免过度清洗，以免缺陷中的渗透剂被清除掉，影响检验灵敏度。a）水洗型渗透剂水洗型渗透剂的清除不需要乳化处理，可直接采用喷水的方法，清洗程度及速度取决于水压、水温和冲洗时间等因素，一般水压应低于300kPa，水温应不高于50℃。b）后乳化型渗透剂后乳化型渗透剂的清除应先作乳化处理，然后按13.1.5.2a）规定的方法除去这些混合42 物。乳化时间应根据被检件表面粗糙度以及所要探测的缺陷类型严格控制。除了通过实际试验确定的时间外，原则上油基乳化剂不应超过2min，水基乳化剂不应超过5min。c）溶剂清洗型渗透剂溶剂清洗型渗透剂的清除，应先用干燥、清洁且不起毛的布或吸湿纸擦去被检件表面的剩余渗透剂，直至绝大部分的剩余渗透剂被除去。再用溶剂润湿的布或吸湿纸轻擦，以除去残留的渗透剂痕迹。为了避免将缺陷中的渗透剂清除掉，要注意防止使用过多的溶剂。13.1.5.3干燥剩余渗透剂清除后应作干燥处理。水洗型或后乳化型，可以用清洁的吸水材料将表面吸干，也可以用温度不得超过40℃循环流动热风吹干。溶剂清洗型可采用正常蒸发使表面干燥。使用湿式显像剂时，剩余渗透剂清除后，不强求干燥处理。13.1.5.4显像施敷显像剂应在被检件表面干燥后立即进行。显像剂应薄而均匀地覆盖于整个被检表面。对于着色渗透剂，只可应用湿式或快干显像剂。对于荧光渗透剂，则可应用各种显像剂。湿式显像剂可用于湿表面，也可用于干表面，施敷前，显像剂必须充分搅拌，用浸渍、涂刷、喷涂或其它方法施加，干燥时间可利用热空气来缩短，但工件的表面温度不应超过50℃，不允许采用吸干法。快干式显像剂只能用于干表面，应使用喷涂法施加，在不能用喷涂法时，可使用涂刷法，自然干燥。13.1.5.5操作程序本章所述各种方法的操作程序见表19。表19操作程序所使用的渗透剂操作程序和显像剂表面准备渗透乳化清洗去除干燥显像干燥观察后清洗种类水洗型荧光渗透○———○————○—————-○——○—————○———○剂-干式显像剂水洗型荧光渗透剂或水洗型着色○———○————○————————○——-○——○——-○渗透剂-湿式显像剂水洗型荧光渗透剂或水洗型着色○———○————○—————-○——○—————○——-○渗透剂-快干式显像剂后乳化型荧光渗透剂-干式显像○———○——○——○————-○——○—————○——-○剂后乳化型荧光渗透剂-湿式显像○———○——○——○———————○——○——○———○剂后乳化型荧光渗透剂-快干式显○———○——○——○————○——○—————○———○像剂溶剂去除型荧光渗透剂-干式显○———○—————○————○————————○———○像剂溶剂去除型荧光○———○———————○—————○——○——○———○渗透剂或溶剂去43 除型着色渗透剂-湿式显像剂溶剂去除型荧光渗透剂或溶剂去○———○———————○—————○—————○———○除型着色渗透剂-快干式显像剂后乳化型着色渗透剂-湿式显像○———○——○——○———————○——○——○———○剂后乳化型着色渗透剂-快干式显○———○——○——○————○——○—————○———○像剂13.1.6显示观察显示迹痕的观察应在施加显像剂后7~30min内进行，并对其作出最终评判，如果显示迹痕的大小不发生变化，则可超出上述规定的时间。如被检区域的表面较大，以致不能在规定的时间内检查完，则应分段进行检验。荧光渗透剂的显示迹痕应在暗区用经过滤光的紫外线（黑光灯）进行观察。观察检验前，应开启灯使灯泡预热不少于5min，被检表面的黑光照度应不低于970lx（勒克司）。为了保证照射到被检表面的黑光强度，在连续使用中至少每隔8小时和每隔30天对黑光灯的黑光强度测定一次。着色渗透剂的显示迹痕可在自然光或人工光线下观察，为了保证在观察和评定显示的迹痕时有足够的灵敏度，被检表面光照度应不低于350lx。13.1.7迹痕评定显示迹痕可分为相关显示和非相关显示。如果能判定显示是非相关显示，可不必考虑。相关显示可分为：a）线性显示，长度为宽度三倍或三倍以上的显示迹痕；b）非线性显示，除线性显示之外的其它显示迹痕。13.1.8后清洗检验结束后，为了防止残留的显像剂腐蚀被检件表面或影响其使用，应清除残留的显像剂。13.1.9检验报告检验报告应包括下列内容：——制造厂、订货单和设备的名称及识别号；——零件或焊缝的标志，包括类别（铁素体或奥氏体钢）和制造工艺（锻造、轧制、铸造、隔离焊或堆焊等）；——使用检验文件的名称；——检验时间；——表面处理（方法、清洗）；——渗透材料的类型（商标、型号和生产厂商）；——检验工艺（渗透剂施敷的方法、渗透时间、温度和照明要求）；——评定结果，包括用示意图说明的不可接受的缺陷显示的位置和尺寸。对于铸件，只提供主要的凹坑图表；——检验人员的姓名和资格；——承担检验任务的分承包商的名称（如果有）；——检验日期和检验人员签名。13.2验收标准44 13.2.1材料及制品13.2.1.1铸件除有关设计规范或技术条件中有特殊规定外，铸件（1级设备除外）零件或制品应按下列要求验收：a）尺寸大于2mm的相关显示应予记录。b）产生下述迹痕的相关显示应予拒收，除非这些显示被清除或修补：1）线性显示；2）尺寸大于5mm的非线性显示；3）3个或3个以上成直线排列的显示，其边缘间距小于3mm；24）在100cm的矩形表面有10个或10个以上密集性迹痕，该矩形表面应选自迹痕最严重的部位，且长边不超过20cm。13.2.1.2其它材料及制品其它材料指轧制或锻造的棒材、板材、管材和锻件等。除有关设计规范或技术条件中有特殊规定外，这些材料应按下列要求验收：a）尺寸等于或大于1mm的相关显示应予记录。b）产生下述迹痕的相关显示应予拒收，除非这些缺陷被清除或修补；1）线性显示；2）尺寸大于3mm的非线性显示；3）3个或3个以上边缘间距小于3mm的排列成行的显示迹痕；24）在100cm的矩形表面有5个或5个以上的密集性迹痕，该矩形表面应选自迹痕最严重的部位，且其长边不超过20cm。c）对于“O”形环的承压表面，尺寸大于1mm的显示迹痕应予清除或修补。13.2.2待焊表面及焊缝13.2.2.1待焊表面除有关设计规范或技术条件中有特殊规定外，待焊表面（包括焊缝坡口）应按表20的规定验收。表20待焊表面的验收要求材料待堆焊表面坡口除特殊规定外，只考虑大于2mm的显示下列显示应拒收：下列显示应拒收：a）线性显示；a）线性显示；铸b）非线性显示尺寸大于5mm；b）非线性显示尺寸大于4mm；c）3个或3个以上显示排成一条直线，并且其c）与待堆焊表面c）相同；间距小于3mm；d）与待堆焊表面d）相同。2件d）以迹痕最严重的部位，取一个100cm的矩形，且其长边不超过20cm，对于1级焊缝显示的数量为5个或5个以上，对于2级焊缝为8个或8个以上。除特殊规定外，只考虑大于1mm的显示下列显示应拒收：下列显示应拒收：a）线性显示；a）线性显示；轧b）非线性显示尺寸大于3mm；b）非线性显示尺寸大于4mm；件c）3个或3个以上显示排成一条直线，并且其c）与待堆焊表面c）相同；或间距小于3mm；d）与待堆焊表面d）相同。锻2d）以迹痕最严重的部位，取一个100cm的矩形，件且其长边不超过20cm，对于1级焊缝显示的数量为5个或5个以上，对于2级焊缝为12个或12个以上。45 13.2.2.2焊缝除有关设计规范或技术条件有特殊规定外，1、2和3级焊缝应按下列要求验收：a）尺寸大于2mm的相关显示应予记录。b）产生下述迹痕的相关显示应予拒收，除非这些显示被清除或修补：1）线性显示；2）最大尺寸大于4mm的非线性显示；3）3个或3个以上成直线排列的显示，其边缘间距小于3mm；24）以迹痕显示最严重的部位，取一个100cm的矩形，且其长边不超过20cm，密集显示的个数为：——对于1级焊缝：5个或5个以上；——对于2级焊缝：8个或8个以上；——对于3级焊缝：12个或12个以上。13.2.2.3特殊焊缝特殊焊缝包括密封焊缝和热交换器管板上管子焊缝，其验收要求规定如下：a）密封焊缝1）焊接前，待焊坡口边缘不允许有任何相关显示，在坡口的邻近区域，其宽度等于焊缝名义厚度但不超过5mm，不允许有尺寸大于1.5mm的显示以及两相邻间距小于3mm，尺寸小于或等于1.5mm的显示；2）如果第一焊道未采用填充金属，在焊完第一条焊缝后，焊缝金属中不允许有任何相关显示；3）最终焊缝金属表面不允许有任何相关显示，在焊缝金属的邻近区域，其宽度等于焊缝名义厚度但不超过5mm，不允许有尺寸大于1.5mm的显示以及两相邻间距小于3mm，尺寸小于或等1.5mm的显示。b）热交换器管板上管子焊缝1）在钻孔区内，不允许有任何尺寸大于1.5mm的相关显示，以及两显示的间距小于3mm，尺寸小于或等于1.5mm的显示；2）焊缝金属上不允许有任何相关显示；3）在焊缝金属的邻近区域，其宽度等于焊缝名义厚度，但不超过5mm，不允许有尺寸大于1.5mm的显示以及两相邻间距小于3mm，尺寸小于或等于1.5mm的显示。第四篇磁粉检验14总则本章规定了核用材料、零部件及焊缝磁粉检验的一般要求。本章所述的磁粉检验是指“连续法”磁粉检验技术即在被检件上通以电流或磁场的同时施加探测介质进行检验的方法。14.1一般要求14.1.1检验人员资格磁粉检验人员必须具有磁粉检验有效资格证书，其资格应符合第21章的要求。14.1.2检验文件磁粉检验应按经认可的一套文件（如检验规程和工艺流程卡等）的规定实施。这些文件必须满足有关设计规范或技术条件的要求，至少包括以下内容：——被检件的类型：如锻件、铸件、焊缝坡口和焊缝表面等；——参照有关设计规范和其它可适用的技术条件；——检验设备：电流发生器、磁化装置（电极、电磁轭、磁化线圈等），所使用的探测介质、磁场强度指示器和退磁装置（如需要）等；46 ——检验条件：被检表面的状态和热加工时被检件的温度；——检验工艺：磁化方法、磁化介质特性（干式或湿式）、对比试样（如采用）、被检区域、检验参数（表面格子图、工序、电流类型、磁化电流、电极或磁极间距，线圈匝数）及退磁方法（如需要）；——验收准则。14.1.3磁粉检验设备14.1.3.1通电磁化装置使用的电流发生器应能在低压下输出较强的电流，电流可以是交流电、半波整流电和全波整流电。电流发生器应配有测量磁化电流的电流表，该电流表应能精确地显示电流输出数值（峰值、平均值或有效值电流强度），双电流发生器必须分别带两个电流表。通电磁化装置上应有操作者伸手可及的继电开关，能随时接通和切断磁化电流。磁化电流引入被检件的电极应由良好的导电和导热材料制成，且截面较大。电极可以带或不带绝缘套，并应符合第14.1.5.4的要求。14.1.3.2通磁磁化装置通磁磁化装置有：a）固定式电磁轭；b）手提式电磁轭（极距可调式或固定式）；c）磁化线圈；d）永久磁铁。这些装置可使用交流电、整流电或直流电作磁化动力源。14.1.3.3固定式磁化装置这种磁化装置应能同时具有上述两种磁化装置的功能。14.1.3.4设备校验磁化装置上的电流表及其它重要部件至少每6个月校验一次。当磁化装置进行重要电气修理后和停止使用6个月或更长时间，则应在第一次使用前进行校验。电流表应用符合国家标准的测试仪表校验其精度，电流表上的读数和测试仪表所示的实际电流值不应有大于满刻度±10%的偏差。14.1.3.5探测介质探测介质分为：a）干磁粉干磁粉应是铁磁性氧化铁材料制成，能完全被磁铁吸附。磁粉可不经专门处理直接用于被检件表面进行检验，干磁粉使用后通常不回收，若要回收重复使用，必须对其性能和灵敏度作试验，以确保检验效果。b）磁悬液磁悬液是将磁粉与载液（通常指符合一定要求的水介质或油介质）按一定比例混合配制而成的。使用时必须使磁粉保持悬浮状态，磁悬液所使用的磁粉粒度一般较干磁粉细。磁悬液的浓度应根据制造厂推荐的数值，并不低于2g/L。c）荧光磁粉磁粉经荧光色素处理后，在使用时应用黑光灯进行观察，荧光磁粉的磁悬液浓度应不低于0.5g/L。14.1.3.6干磁粉喷洒装置干磁粉喷洒装置应能喷出均匀的雾状干磁粉，并有足够的力量吹掉多余的磁粉而不干扰已形成的磁痕。14.1.3.7磁场指示器47 磁场指示器（如图15所示）是由8块尺寸相同的低碳钢和非磁性填充材料钎焊成的八角形盘，盘的表面覆有铜层。磁场指示器用于指示被检件表面的磁通强度或磁场强度合适程度。14.1.4检验条件14.1.4.1检验时间部件在何种状态下进行检验，见有关设计规范或技术条件的具体规定。14.1.4.2被检区域被检区域及检验范围见有关设计规范或技术条件的具体规定。14.1.4.3表面准备被检表面必须干净，没有任何影响铁磁性微粒均匀分布和对磁痕作出正确判定的不规则现象。必要的时候，被检件表面可涂上一层极细的带颜料的涂层，以提高反差，检验完毕后应将该涂层除去。14.1.5检验方法14.1.5.1磁化方法根据被检件的几何形状、重量、表面状态、材料种类以及估计的探测缺陷深度和取向等选择磁化方法。如果被检材料可能有裂缝，则只能采用通磁磁化法。14.1.5.2探测介质探测介质的选择除应考虑被检件表面状态的情况外，还应考虑被检件表面温度并满足表21的规定。表21探测介质与表面温度的关系温度允许使用的探测介质≤50℃50~100℃100~300℃磁悬液×带有机颜料的干磁粉××无颜料或带无机颜料的干磁粉×××14.1.5.3磁化特征校验将磁场指示器放置在被检区的表面，磁场指示器的所有拼接缝除平行于磁力线外都清晰可见。14.1.5.4注意事项磁化应注意以下事项：a）电缆应尽可能短，并应避免盘绕；b）电极或电磁铁的磁极端部应具有合适的几何形状，并保持干净；c）电极与被检件接触部分的材料必须不沾污被检件，并有足够尺寸以免引起零件表面局部发热；d）电极应尽可能垂直于被检件的表面；e）只有当被检件与电极触头接触良好时，才能接通或断开磁化电流；f）通电磁化磁粉检验后，被检件表面的电极触点部位必须打磨，并用目视检验。对于1级部件或有疑问的其它部件应采用液体渗透检验或通磁法磁粉检验作补充检验。如果在焊接期间作磁粉检验则无需作此检验。14.1.5.5探测介质的施敷磁粉应在被检件磁化的同时施敷，磁粉施敷完毕后至少3s才能停止磁化。14.1.5.6磁痕观察磁痕的观察必须在磁痕形成后立即进行。48 采用干磁粉时，在施敷磁粉的同时观察磁痕。采用非荧光磁悬液时，在磁化过程中或磁化结束后观察磁痕。被检件观察区的表面照明亮度不低于350lx。采用荧光磁粉时，必须在暗的地方进行检验，并在黑光灯下观察检验表面。观察之前，应先开启黑光灯，使其预热，且黑光灯的亮度应达到最大。检验人员在观察之前应在暗处至少5min，使其眼睛适应局部2照明。在对表面观察时，黑光灯的黑光强度至少为8W/m（观察距离不小于300mm）。14.1.6磁痕判定磁粉检验形成的各种磁痕是漏磁场产生的结果，磁痕显示可分为相关显示和非相关显示，相关显示是由缺陷引起的，非相关显示是伪磁痕。非相关显示可能由下列因素造成：——试件的几何形状不规则；——表面过于粗糙；——材质边界（磁导率的变化）；——磁场强度过大；——沾污；——剩磁等。如果能判定是非相关显示，可不必考虑。相关显示可分为：——线性显示：长度为宽度三倍或三倍以上的磁痕显示；——非线性显示：除线性显示之外的其它磁痕显示。14.1.7后清理检验结束后，用合适的方法将残余磁粉清除干净。14.1.8退磁若有关的设计规范或技术条件有退磁要求，则应在检验结束后进行退磁。14.1.9检验报告检验报告应包括下列内容：——制造厂、订货单和设备的名称及识别号；——被检件名称并注明加工方式（锻、轧、铸）或被检焊缝的焊接方式；——使用检验文件的名称；——检验时间；——表面处理（方法，清洗）；——所用检验设备的名称和型号；——采用的磁化方法；——检验顺序；——探测介质的类型和颜色；——磁化参数（电流种类、电流强度、磁场指示器）；——在加温条件下检验时的零件温度；——照明类型（日光、灯光、黑光）；——检验结果，包括标出的不允许存在的磁痕位置及其尺寸的示意图。铸件只需提供主要的凹坑图表；——检验人员的姓名及资格；——承担检验的分承包商的名称（如果有）；——检验日期及检验人员签名。14.2验收标准14.2.1材料及制品49 14.2.1.1铸件除有关设计规范或技术条件中有特殊规定外，铸件（1级设备除外）零件或制品应按下列要求验收：a）尺寸大于2mm的相关显示应予记录；b）产生下述迹痕的相关显示应予拒收，除非这些显示被清除或修补：1）线性显示；2）尺寸大于5mm的非线性显示；3）3个或3个以上成直线排列的显示，其边缘间距小于3mm，或间距为3～6mm，总长度超过20mm的显示。另外，两个分开的显示，如果它们的间距小于较小者长度的两倍，则应视为一个显示，该显示的长度应等于两显示的长度之和加上两者的间距。c）对于长度为2～5mm非线性显示应作为液体渗透检验复检，超过下列规定者应予拒收：1）最大尺寸等于或大于5mm的非线性显示；2）长度等于或大于2mm的线性显示。14.2.1.2其它材料及制品其它材料指轧制或锻造的棒材、板材、管材和锻件等，除有关设计规范或技术条件中有特殊规定外，这些材料应按下列要求验收：a）尺寸等于或大于1mm的相关显示应予记录。b）产生下述磁痕的相关显示应予拒收，除非这些显示被清除或修补：1）线性显示；2）尺寸大于3mm的非线性显示；3）3个或3个以上成直线排列的显示，其边缘间距小于3mm，或间距为3～6mm，总长度超过15mm的显示。另外，两个分开的显示，如果它们的间距小于较小者长度的两倍，则应视为一个显示，该显示的长度应等于两显示的长度之和加上两者的间距。14.2.2待焊表面及焊缝14.2.2.1待焊表面除有关设计规范或技术条件中有特殊规定外，待焊表面（包括焊缝坡口）应按表22的规定验收。表22待焊表面的验收要求材料待堆焊表面坡口除特殊规定外，只考虑大于2mm的显示下列显示应拒收：下列显示应拒收：铸a）线性显示；a）线性显示；b）非线性显示大于5mm；b）非线性显示大于4mm；c）3个或3个以上的显示排成一条直线，并且其c）与待堆焊表面c）相同。件间距小于3mm，或间距为3~6mm时，显示的分布长度，对于1级焊缝超过20mm，对于2级焊缝超过30mm。除特殊规定外，只考虑大于1mm的显示下列显示应拒收：下列显示应拒收：轧a）线性显示；a）线性显示；件b）非线性显示大于3mm；b）非线性显示大于2mm；或c）3个或3个以上的显示排成一行，间距小于c）与待堆焊表面c）相同。锻3mm，或当显示间距为3~6mm时，对于1级焊缝件显示分布长度超过15mm，对于2级焊缝超过20mm。注：当两个显示的间距小于其中较小显示长度的两倍时，则这两个显示被视为1个显示。14.2.2.2焊缝50 除有关设计规范或技术条件有特殊规定外，1、2或3级焊缝应按下列要求验收：a）尺寸大于2mm的相关显示应予记录。b）产生下述迹痕的相关显示应予拒收，除非这些显示被清除或修补；1）线性显示；2）最大尺寸大于4mm的非线性显示；3）3个或3个以上成直线排列的显示，其边缘间距小于3mm；4）或者间距在3～6mm之间，其总长度超过；——对于1级焊缝为20mm；——对于2级焊缝为30mm；——对于3级焊缝为40mm。另外，两个分开的显示，如果它们的间距小于较小者长度的两倍，则应视为一个显示，该显示的长度应等于两显示长度之和加上两者的间距。图15磁场指示器15便携式触头通电磁化磁粉检验本章规定了便携式触头通电磁化的磁粉检验具体实施方法。本章所述的方法不适用于要求不损伤表面状态和加工精度的部件。15.1一般要求51 第14章中的一般要求均适用于本章，并补充下列条文要求。15.2检验条件15.2.1磁化电流强度磁化电流强度按表23选择。表23磁化电流强度电流类型测得电流强度极间距电流值I测量仪表类型（A/cm）交流电有效值40~50铁磁电流表配有整流器电流表数字式-实际有效值电流表半波整流平均值25~32可调指针电流表全波整流平均值36~45可调指针电流表15.2.2磁化方向每个被检区域至少应进行两次磁化，两次磁化的方向应近似垂直，以检测不同方向的缺陷。15.2.3检验区域的覆盖所有的检验应在所要求的磁化特征（见14.1.5.3）条件下有足够的覆盖，以保证100%的检测。15.2.4触头间距每次磁化，触头的间距应限制在80mm至200mm内，磁化宽度有效范围约为两触头间距的一半。16通磁磁化磁粉检验本章规定了通磁磁化磁粉检验具体实施方法。16.1一般要求第14章的一般要求均适用于本章，并补充下列要求。16.2检验条件16.2.1磁化方法磁化方法分以下三种：a）线圈或电缆磁化法——电流通过绕在被检部件的部分外表面的线圈或电缆（见图16）；b）中心导体法——电流通过一根穿过被检部件中心的导体（见图17）；c）磁轭法——通过便携式或固定式电磁轭感应磁化（见图18）。16.2.2磁化条件16.2.2.1线圈或电缆磁化法52 图16线圈或电缆磁化法图17中心导体法53 图18磁轭法线圈或电缆磁化法在被检件中感应产生纵向磁场，该方法所要求的磁场强度是以被检件长度L和直径D为基础。对较长部件应分段进行检验，且规定每段不超过450mm。对非圆柱形部件，D取最大横截面的对角线。按下述方法确定磁化条件：a）L/D≥4的部件，磁化电流按下述公式计算安—匝数：3500NI=(±10%)(L/D)+2………………………………（4）b）2＜L/D＜4的部件，磁化电流应按下述公式计算安—匝数：4500NI=(±10%)L/D………………………………（5）（4）、（5）式中：N——匝数；I——所使用线圈或电缆中的电流值。c）如果因尺寸或形状不适合a）或b）时，其磁化条件（安一匝数）应按14.1.5.3的要求确定。16.2.2.2中心导体法中心导体法是用来检验环形或空心圆柱体部件的内外表面。在检验大直径的空心圆柱体时，导体应旋转在靠近圆柱体的内表面，顺次检验圆柱体的整体圆周，并按14.1.3.7规定的磁场指示器，确定每一次导体位置所能检验的弧长范围。磁化电流应采用直流或整流电流，并按下述原则确定：a）外径等于或小于125mm，每mm直径需28～35A；b）外径大于125～250mm，每mm直径需20～28A；c）外径大于250～380mm，每mm直径需12～20A；d）外径大于380mm，每mm直径需13A；e）对于几何形状非圆形的部件，应以垂直于电流方向的最大横截面对角线的毫米数按上述计算来确定。54 16.2.2.3电磁轭对电磁轭的要求如下：a）提升力电磁轭的磁化力应至少每年或在磁轭损伤后校检一次。交流电磁轭在最大磁极间距时，应至少有45N提升力；直流电磁轭或永久磁轭、在最大磁极间距时，应至少有175N的提升力。b）检验区域的覆盖检验应在所规定的磁化特征14.1.5.3条件下有足够的覆盖，以保证100%的检测。c）磁化方向每个被检区域至少应进行两次磁化，两次磁化的方向应近似垂直，以保证探测不同方向的缺陷。d）磁极间距电磁轭磁极间距应限制在50mm至200mm内，有效检测区边缘至磁极的距离应不小于25mm，宽度有效范围约为两磁极间距的一半。第五篇管材制品涡流检验17管材制品涡流检验本章适用于外径＜65mm，0.75mm≤壁厚＜3mm的管材涡流检验。本章规定了核电厂核岛机械设备所用管材制品涡流检验的一般要求。17.1一般要求17.1.1检验人员资格涡流检验应由取得涡流检验资格证书的人员实施，其资格应符合第七篇的要求。17.1.2涡流检验文件管材制品涡流检验应按经认可的一套文件（检验规程、记录单和报告单）规定实施。其具体规定必须满足合同或订货技术条件的要求，至少包括以下内容：a）被检件的类型，尺寸及材料名称；b）参照有关设计规范或技术条件；c）检验设备：1）涡流检验仪器；2）检测线圈；3）自动检测装置；4）记录仪；5）对比样管等。d）检验条件：被检区域，表面状态；e）检验规程：1）激励电流频率；2）鉴相器的相位调整。f）验收标准。17.1.3涡流检验设备17.1.3.1涡流检验仪器涡流检验仪器应能向探头线圈（内插式线圈或环绕式线圈）输出正弦电流，频率范围至少为1～100kHz。测量电桥应按差分方式进行工作。仪器应具有灵敏度调节器和一个可在0°～360°之间调整相位的鉴相器。检测仪器应能连接记录仪（图象或磁带）和可配备一个磁饱和装置。55 17.1.3.2检测线圈检测线圈（在管材内部检验时，用内插式线圈，在管材外部检验时，用环绕式线圈）应包含一个或几个差动式线圈。17.1.3.3自动检验装置所用装置应能使检测线圈与被检管材作恒速（+10%）相对运动。该装置应带有自动分选系统和记录仪。使用记录仪时，在任何时刻都能使记录的信号与管材实际位置相对应。17.1.3.4对比样管对比样管的直径、标称壁厚、冶金和表面状态应与被检管材相一致。对比缺陷是由径向的圆柱孔组成。一般情况下，这些孔的数量、位置和尺寸在17.1.3.4a）中作了规定；对于不锈钢或高镍合金钢的蒸汽发生器管，在17.1.3.4b）中作了规定。对于热交换器管在17.1.3.4c）中作了规定。孔径和深度公差为相应标称尺寸的±5%。孔的形状和尺寸可通过适当的方法（如塞规）进行验证。对对比样管有如下规定：a）一般管材的对比样管对比样管上有三个孔，穿过管壁一侧。在径向的三个孔分别位于三条相互呈120°的轴线上。各孔间距或孔与管端的最小距离为300mm。按管壁厚变化的最大孔径见表24。表24对比样管的孔径mm管壁厚T钻孔最大直径0.75≤T＜10.81≤T＜212≤T＜31.2b）不锈钢或高镍合金钢蒸汽发生器的对比样管对比样管有一个从外表面起钻的平底孔。该孔距管端至少为300mm且其孔径与它的深度相同。按管壁厚变化的最大孔径见表25。表25对比样管的孔径mm管壁厚T钻孔最大直径0.75≤T＜10.61≤T＜1.50.75c）热交换器管的对比样管（蒸汽发生器管除外）对比样管上有三个孔，每个孔通过管材的单壁，且在坐标轴上相互呈120°角。孔距管材的两端及孔与孔之间的距离至少为300mm。以管壁厚度为函数的最大孔径见表26。表26对比样管的孔径mm管壁厚T管子标称直径钻孔最大直径Φ≤200.60.75≤T＜1Φ＞200.7Φ≤200.7T≥1Φ＞200.817.1.4检验条件17.1.4.1检验时间56 管材在生产过程中哪个阶段进行检验，见合同或订货技术条件的规定。17.1.4.2被检区域被检区域及检验范围见合同或订货技术条件的规定。在使用自动检验装置时，如管材两端按本章检测方法检测不到的长度，则必须加以说明。17.1.4.3表面准备管材表面应无涂层、疏松氧化皮和所有干扰涡流环流或影响检测线圈与管材相对运动的杂质和表面不规则状态。除非另有规定外，表面最大粗糙度Ra不超过6.3μm。粗糙度按第六篇的“表面状态测定”确定。17.1.4.4检验仪器的调整所选频率使涡流渗透的深度至少等于管材的厚度。鉴相器的相位选择应以达到最佳信噪比为准。以对比孔中最低幅度信号调整灵敏度。校准的检验条件必须与管材实际检验条件相同。17.1.4.5仪器调整的校验每次检验开始和结束时，都要对仪器的灵敏度进行校验，并且至少每两小时校验一次。校验时，幅度漂移不得大于±10%。在校验过程中，如发现仪器不稳定，则自上次校验以来的所有被检管材必须在仪器重新调整后再作检验。17.1.5检验报告检验报告应包括下列内容：——制造厂标志，订单号及设备型号；——被检管子的标志，包括种类、尺寸和制造工序；——引用文件的名称；——检验时间；——所用设备的类型、商标及牌号；——仪器校准和调整的条件；——管子两端部不可检验段的长度；——检验结果评定；——检验人员的姓名及其资格；——承担检验任务的分承包商的名称（必要时）；——检验日期和检验员签名。17.1.6验收标准除非另有规定外，应按下列要求验收：a）普通管和热交换器管（蒸汽发生器管材除外）拒收大于或等于对比样管上三个人工孔中最低响应值的管材。b）不锈钢或高镍合金钢蒸汽发生管拒收大于或等于对比样管上平底孔信号幅度的管材。第六篇其它检验方法18目视检验本章规定了核用材料、零部件及焊缝表面目视检验的一般要求。18.1一般要求18.1.1检验人员资格目视检验人员可由无损检验人员或对被检件的加工或制造具有丰富经验的人员承担。57 18.1.2检验文件目视检验应按经认可的一套文件（如检验规程和工艺流程卡等）的规定实施。这些文件必须满足有关的设计规范或技术条件的要求，至少包括以下内容：——被检件的类型、形状及尺寸；——参照有关设计规范和其它可适用的技术条件；——检验条件：被检区域、表面状态、直接或间接检验方法；——检验设备：放大镜、内窥镜等；——验收准则。18.1.3检验设备18.1.3.1直接目视检验直接目视检验可用放大倍数6倍以下的放大镜进行检验，必要的地方可借助于反光镜来改善观察的角度。18.1.3.2间接目视检验无法直接观察的区域，可使用反光镜、内窥镜、光导纤维、照相机、复膜或（和）其它合适的方法和仪器进行检验。18.1.3.3对比试样可使用制造厂提供的与被检件进行目视检验比较的对比试样。18.1.4检验条件18.1.4.1检验时间部件在何种状态下进行检验，按有关设计规范或技术条件的具体规定。18.1.4.2被检区域被检区域及检验范围按有关设计规范或技术条件的具体规定。18.1.5检验实施18.1.5.1表面要求检验区域应无任何影响检验观察和评定的杂物。18.1.5.2直接目视检验检验人员应能充分靠近，使眼睛与被检表面不超过600mm距离，与被检表面所成的视角不小于30°。被检表面至少要有160lx的光照强度，而对于一些异常区域的研究则至少要有540lx的光照强度。日光或灯光必须能在灰色参考背景上分辨出一条0.8mm宽的黑线。灰色参考背景的反射率约为18%，这种参考片可由胶片制造厂提供。18.1.5.3间接目视检验检验时可借助18.1.3.2所述的设备，这些设备的分辨能力至少应和直接目视检验相当。18.1.5.4视力要求从事目视检验的人员，应每年做一次视力检查，以保证有正常的或是经过校正的近距离视力，从而能读出用于近距离视力标准对数视力表上的各标准J—1字母，也可以采用与此相应的其它方法。18.1.6检验报告检验报告应包括下列内容：——制造厂、订货单和设备的名称及识别号；——被检件名称、代号以及材料牌号；——采用的目视检验文件的名称及编号；——检验时间；58 ——使用的设备；——检验结果评定；——检验人员的姓名及资格；——承担检验的分承包商的名称（如果有）；——检验日期及检验人员签名。18.2验收准则18.2.1轧制或锻造棒材制品应完好无损，不允许有发纹、裂缝、折痕或其它有害缺陷存在。18.2.2板材钢板表面应平整而均匀，无波纹、划痕、折叠、裂纹、磨损及其它有害缺陷。18.2.3管材钢管表面不应有轧制或拉拔痕迹、纵向划痕、发纹、气孔、砂眼、波纹及其他有害缺陷。18.2.4锻件锻件表面应完好无损，不允许有发纹、裂缝、沟纹、折痕或其它有害缺陷。18.2.5铸件（1级设备除外）铸件表面应完好无损，不允许有缩孔、裂纹、气孔和夹杂物或其它有害缺陷。19表面状态测定本章规定了用与对比试样作目视比较的方法来测定表面状态的一般要求。表面状态可通过与对比试样作目视比较和触感，或用电子探测仪器和光学仪器测定。19.1检验装置19.1.1一般描述19.1.1.1目视粗糙度对比试样目视粗糙度对比试样是在不同的产品或制造工艺中制取完全反映实际表面形貌的复制品。根据各种工艺方法，试样粗糙可以是分级或不分级。19.1.1.2其它目视粗糙度试样试样由制造者按被检件的表面状态制作。19.1.2表示方法19.1.2.1用粗糙度值表示的试样代表机加工、研磨或喷丸件的试样，其外表面的等级用Ra值表示。19.1.2.2不用粗糙度值表示的试样这样试样可代表各种加工方法，不同等级的表面状态，或代表被检表面状态。19.2检验要求19.2.1检验时机确定表面状态的检验时机，按合同或订货技术条件的具体规定。19.2.2检验区域检验区域及相应检验面积，按合同或订货技术条件的具体规定。19.2.3检验条件19.2.3.1清洁度所有被检表面必须干燥，清洁，无油渍、油脂、涂层以及任何可能影响被检件表面与对比试样作比较的杂质。19.2.3.2照明被检表面的光照强度不应低于350lx。19.2.3.3操作注意事项用某种给定加工方法制造的部件，应用相同方法加工的对比试样与其比较。59 应尽可能用目视和触觉法评定粗糙度。19.2.4评定用下述方法评定部件的表面状态：——与粗糙度等级或与对比试样比较评定表面状态；——用单一对比试样时，与要求的表面状态或粗糙度比较进行评定。20泄漏试验本章规定了核设备或部件汇漏检验的各种方法和要求，这些试验方法可用来确定泄漏的位置或泄漏率的规定。20.1一般要求20.1.1试验人员资格泄漏试验人员应经培训与考核，经资格鉴定并取得相应证书。20.1.2试验文件检漏应按经认可的文件（如检验规程等）的规定实施。这些文件必须满足有关设计规范或技术条件的要求，至少包括以下内容：——被试验件：形状、尺寸，试验区域，容积和被检件名称；——参照有关设计规范和其它可适用的技术条件；——试验设备和制品：检测仪、泵、压力表、真空计等装置和标准漏孔、元踪气体等所用物料；——试验要求：试验时间、被检零件的表面清洁，采用的试验方法；——试验步骤；——清洗方法（必要时）；——验收准则；——试验人员资格。注：上述的任何一种方法使用之前，制造商必须确保泄漏检验使用的流体（气体、液体）不损害被检件表面。20.1.3初始条件压力容器或回路系统须在要求的水压或气压试验合格后才能进行泄漏试验。压力容器未经设计计算不得抽真空。20.1.4试验准备20.1.4.1清洁度受试验部位的表面应当无油、油脂、油漆以及其它有可能妨碍试验的污物。如果是采用液体来清洁部件或是在泄漏检验前曾进行过液压试验或液压气动试验，则部件在试验前应充分干燥。20.1.4.2堵孔所有的开孔应用塞子、盖板、密封脂、粘合剂或其它能在试验后易于全部除去的合适材料加以密封。如果规定要作卤素二极管检漏仪探头试验，则密封材料不应含有卤素。20.1.4.3温度被检件在试验时的最低金属温度，应按照附录B（标准的附录）或设计规范对受压零部件作液压、液压气动或气压等试验的规定。检验时的最低或最高温度不应超过所采用泄漏试验方法所允许的温度。20.1.4.4压力/真空（压力极限）除非附录B或有关设计规范里有规定，需作压力泄漏试验的部件，不应在超过设计压力25%的压力情况下作试验。20.1.5试验设备60 20.1.5.1压力表对压力表的要求如下：a）压力表量程当泄漏试验采用刻度指示式和记录式压力表时，它们的刻度范围最好是预期最大压力的两倍，在任何情况下其量程不得小于最大压力的1.5倍，也不应大于4倍。但这些量程范围的限度不限于刻度指示和记录的真空计。附录中所列其它类型压力表的量程要求应按照该附录B的规定。b）压力表位置当部件需进行压力/真空泄漏试验时，刻度指示的压力表应与部件相连通，或从远端与部件相连接，使操作者能在部件连续增压、抽空、试验和降压或排气的全过程中易于观察到这些压力表，以控制增压/抽空。对于规定需用一个或多个压力表的大型容器或系统，推荐采用一种记录式压力表，以替代两个或更多个指示式压力表中的某一个。c）当附录B要求将用其它类型压力表时，它们可以取代刻度指示或记录式压力表而单独使用，或者联合使用。20.1.6校准要求20.1.6.1压力/真空表所有使用的刻度指示和记录式压力表，应以标准静重测试器、经校准的标准表、或水银柱等进行校准。在使用中，除了在附录B中另有规定以外，每年至少重新校准一次。所有使用的压力表，其测得的结果应能符合制造厂商所列的精度，并且在任何时候由于某种原因认为它们可能有差错时，应重新校准。当附录B要求采用刻度指示式或记录式以外的压力表时，它们应按该附录B或有关设计规范的要求进行校准。20.1.6.2温度测量装置当附录B要求温度测量时，测量装置应按照该附录的要求进行校准。20.1.6.3泄漏标准漏孔对泄漏标准漏孔作如下规定：a）渗透型泄漏标准漏孔-7该标准漏孔是经过熔制的玻璃或石英并经过校准的渗透型漏孔。它应具有漏孔1×10~1-113×10Pa·m/s，的氦泄漏率。b）毛细管型泄漏标准漏孔-5这种标准漏孔是经过一个管子并经过校准的卤素或氦毛细管型漏孔。它应具有1×10~1-63×10Pa·m/s，或更小的泄漏率。20.1.7检漏方法检漏方法详见附录B（标准的附录）。20.1.8评定除非有关设计规范另有规定，应采用本章中为每一种试验方法所规定的标准。所用方法的计算泄漏率的补充公式见本标准的附录B。20.1.9试验报告试验报告至少应包括下列内容：——制造厂、被检设备的名称及标识号；——零件、焊缝或被检区标志；——试验规程编号；——试验日期；——试验设备：检漏仪、标准漏孔、压力表（制造厂、型号、量度、编号）；61 ——表面清理（表面状态和清洁度的要求）；——试验条件，尤其是标定和校准，压力、温度、示踪气体的浓度；——评定结果；——检验人员姓名及其资格；——承担试验任务的分承包商的名称（如果有）；——试验日期和试验人员签名。第七篇无损检测人员的技术资格21无损检测人员的技术资格本章规定了超声、射线照相、渗透、磁粉和涡流检验人员的资格等级、职责和资格证书颁发的基本原则。本章规定了从事核工业产品、零部件、结构件、原材料、在役设备质量和安全监督检查的无损检验人员应符合HAF0900、HAF0902和核总[1993]166号文的要求。21.1技术资格证书的颁发21.1.1按GB/T9445规定，凡“经资格鉴定合格的人员，由考试委员会上报主管部门颁发“无损检测人员技术资格证书”。只有取得技术资格证书的无损检测人员，才能从事与所持证书等级及方法相适应的无损检验工作”。21.1.2按GB/T9445规定，凡参加“通用考试”成绩合格及资格鉴定合格者，由考试委员会申报主管部门颁发“通用技术资格证书”。此证书在各工业部门可得到承认。若被鉴定人员从一个工业部门调到另一个工业部门工作，新的工作部门应承认其“通用考试”的成绩，及“通用技术资格”。21.1.3按HAF0902和核总[1993]166号文中作出的具体规定，凡从事核级产品、原材料、在役设备质量和安全监督检查的专业无损检测人员，还必须经过核工业部门的特殊考试与资格鉴定后，由核工业无损检测人员资格鉴定考试委员会申报中国核工业总公司，颁发核工业部门技术资格证书。21.2技术资格鉴定的方法范围本规定适用于从事超声、射线照相、磁粉、渗透、涡流五种无损检测方法的人员。21.3技术资格等级划分及技术职责21.3.1技术资格等级划分无损检测人员的技术资格分为三个等级，Ⅲ级为最高级、Ⅱ级为中级、Ⅰ级为最低级。资格鉴定按不同的等级和方法分别进行。21.3.2各级无损检测人员的技术职责21.3.2.1Ⅰ级无损检测人员应具有在Ⅱ级或Ⅲ级人员监督、指导下，根据技术说明书进行无损检测的能力；应能调正和使用仪器设备，进行检验操作；记录检验结果；根据标准对检验结果进行初步等级评定。21.3.2.2Ⅱ级检测人员应能根据确定的工艺，编制检验文件；安装和校准仪器、设备；具体实施无损检测工作；根据法规标准或规范，解释和评定检验结果；撰写、签发检验结果的报告；熟悉无损检验方法的适用范围和局限性；培训和指导Ⅰ级人员和尚未取证的人员。21.3.2.3Ⅲ级无损检测人员对确定无损检测技术和工艺、贯彻法规、标准、规范等负全部责任；全面监督、管理无损检测工作的进行；根据法规、标准和规范，解释和评定检验结果，应能设计特殊的无损检验方法、技术和工艺；在没有验收标准可供引用时，协助有关技术部门制定验收标准；应具备材料、结构和生产工艺方面的实际知识和一般地熟悉其他无损检验方法；并能培训Ⅰ级和Ⅱ级人员。21.4证书颁发条件21.4.1报考人员的资格62 报考人员应具备一定的学历、培训经历和实践经历，以保证他们对所报考的无损检验方法、原理、技术、工艺能充分理解和熟练应用。21.4.2培训报考人员在报考时，应提供在该种报考方法接受培训课程的结业证书，以备考试组织审定该报考人员的培训经历。21.4.3考试对每一种无损检验方法的考试内容都包括“基础知识”、“方法智能”以及“实践能力”三个方面。对从事核级无损检测人员的考试应由两种考试系列组成，即“通用考试”与“核工业部门考试”。“通用考试”的水准在各工业部门之间应是一致的。“通用考试”和“核工业部门考试”的总评应分开进行，分别颁发相应的证书。21.4.4有效期证书有效期从发证日期起至多五年。到达第一个有效期满时，可由考试委员会对持证人进行复查。查核合格者，可延长一次有效期。当第二次有效期到期时，持证人应向考试委员会申请更新鉴定，鉴定合格者，给予新的有效期证明。附录A（标准的附录）非正常温度时的对比试验方法A1概述当液体渗透检验不能在正常温度范围内（10~50℃）进行时，则要对用其它温度检验的方法作比较鉴定。为此，要使用一个带有淬火裂纹的铝试块（见图A1）。A2对比试块的使用a）如果需要鉴定的温度低于10℃的液体渗透检验方法，则要等试块和所使用的材料都冷却到预定的检验温度之后，才将准备采用的方法用于“B”试块，并对试块“A”采用原先已经证明是适合于这一温度范围的检验方法，比较“A”和“B”两试块裂纹的显示迹痕。b）如果需要采用的检验温度高于50℃，则在整个检验过程中需将试块“B”保持在这一温度作检验。然后比较“A”和“B”两试块裂纹的显示迹痕。c）上述两种情况，如果在需要采用的条件下得到的迹痕基本上和在10~50℃范围检验时所得到的相同，则可以认为该准备采用的方法已经鉴定是可用的。63 液体渗透对比试块注：所给出的尺寸系供参考，并非严格的规定图A1铝合金对比试块d）当温度低于10℃时，方法的鉴定可从实际检验温度至10℃范围内进行。e）当温度超过15℃时，应确定出温度的上下限，并限在温度下进行方法的鉴定。f）当采用着色渗透剂时，允许对正常温度和非正常温度使用单个对比试块，并用照相方法进行比较。A3对比试块的保存a）对比试块使用后必须彻底清洗，以清除显示迹痕的缺陷中所残留的渗透剂。b）清洗后，为了防止对比试块沾污，应将其置于装有50%丙酮及50%另一种适当溶剂混合液的密闭容器中，或用其它防污的方法保存。附录B（标准的附录）泄漏试验的几种方法B1气泡试验——直接加压法B1.1适用范围气泡泄漏检验直接加压法的目的是：以使用溶液或浸入液体的方法，使泄漏气体通过液体时形成气泡，从而检出加压部件的泄漏位置。64 B1.2一般要求B1.2.1试验材料B1.2.1.1气体附另有规定，试验气体通常是空气，但是也可采用惰性气体。注：当采用惰性气体时应考虑空气缺氧的安全问题。B1.2.1.2起泡溶液形成气泡的溶液应在被试验的部位形成一层不破的薄膜，而且所形成的气泡不会因空气的干燥作用或低的表面张力而迅速破裂。家用的肥皂或洗涤剂不许用来代替气泡检验的溶液。形成气泡的溶液应能适应试验条件的温度。B1.2.1.3浸没池浸没池内采用水或其它相容的溶液，这类溶液应能适应试验条件的温度。B1.3试验B1.3.1试验规程B1.3.1.1保压时间在试验前应至少保持压力15min。B1.3.1.2表面温度作为一项标准，需试验部件的表面温度在试验的全过程中应不低于5℃，也不高于50℃。只要试验时的温度能保持在5~50℃的范围内，允许局部加热或冷却。当实际情况不能符合上述温度范围时，如果能达到同样的效果，也可采用其它的温度。B1.3.1.3溶液涂敷将起泡溶液涂敷到被检件的表面。可以采用流布、喷射或涂刷的方法施加在检验区域。应尽量减少溶液由于施加不当所产生气泡的数量，以免掩蔽由泄漏所引起的气泡。B1.3.1.4浸入溶池需关注的表面应低于溶池的液面之下，并应处于易于观察的位置。B1.3.1.5照明和助视器当进行试验时，应按照本规范第18.1.5.2的要求使用。B1.3.1.6泄漏的显示材料表面上有连续的气泡出现，就表示被试验区域中存在穿透性针孔的泄漏通道。B1.4试验评定B1.4.1除非有关设计规范另有规定，若未观察到被试验的区域有连续的气泡形成，则可验收。B1.4.2当观察到有泄漏时，应标出泄漏的位置，然后将部件降压，按有关设计规范的要求返修泄漏处。所有经返修的区域，应按本附录的要求重新试验。B1.5试验后的清洗试验之后，为了确保产品的使用性能，还要求进行表面清洗。B2气泡试验——真空罩法B2.1适用范围气泡泄漏检验真空罩法的目的是：检出不能直接加压的压力界面上泄漏的位置。其方法是在界面的局部区域的两侧造成一个压力差，使施加于压力界面这一局部区域的溶液，因有泄漏的气体通过溶液而形成气泡。B2.2一般要求B2.2.1试验材料B2.2.1.1起泡溶液形成气泡的溶液应在被检验的部位形成一层不破的薄膜，而且所形成的气泡不会因空气65 的干燥作用或低的表面张力而迅速破裂。溶液中所包含的气泡数量应尽量少，以免引起辨认原有的气泡和泄漏所引起的气泡的混淆。起泡溶液应能适应试验条件的温度。清洁用的肥皂或洗涤剂不能用作气泡试验的溶液。B2.2.2试验设备B2.2.2.1真空罩使用的真空罩应具有适当的尺寸（例如152mm宽、735mm长）和在开口底面对侧上有一窗口。开口底面的边缘应装有适当的密封垫圈，能与试验表面密封。还应配备适当的连接头、阀门、照明以及测量用的真空计。真空计的量程应为0~100kPa。此处不受第20.1.5.1.a）压力计量程限度要求的限制。B2.2.2.2真空来源罩内所要求的真空可用任何适当的方法获得（例如空气喷吸器、真空泵或电动机带动的抽气装置等）。真空计应能指示出低于大气压至最小13kPa的局部真空度或者在本规范有关内容所要求的局部真空度。B2.3试验规程B2.3.1表面温度作为一项标准，需试验部件的表面温度在试验的全过程中应不低于5℃，也不高于50℃。只要试验时的温度能保持在5~50℃的范围内，允许局部加热或冷却。在不能符合上述温度范围时，如果能达到同样的效果，也可采用其它的温度。B2.3.2施加溶液在放置真空罩前，应将起泡溶液施加到被试验的表面上。可用流布、喷涂或涂刷的方法施加在试验表面上。B2.3.3真空罩的放置真空罩应放置在涂有溶液部分试验表面上，然后将罩内抽空至所要求的局部真空。B2.3.4保压（真空）在试验中，所要求的局部真空（压力差）至少应保持10s。B2.3.5真空罩的覆盖每一相邻区的试验，真空罩的放置应至少有50mm的覆盖。B2.3.6照明和助视器当进行试验时，应采用本规范第18.1.5.2的各项要求。B2.3.7泄漏的显示材料或焊缝表面上有连续的气泡出现，就表示被试验区域中有穿透性针孔的泄漏。B2.4试验评定B2.4.1除非有关设计规范另有规定，若未观察到被试验的区域有连续的气泡形成，则可验收。B2.4.2当观察到有泄漏时，应标出泄漏的位置，然后将部件降压，按有关设计规范的要求返修泄漏处。所有经返修的区域，应按本附录的要求重新试验。B2.5试验后的清洗试验后，为了确保产品的使用性能，要求进行表面清洗。B3卤素二极管检漏仪探头试验B3.1适用范围这种方法的基本原理是加热铂元件（阳极）和离子收集板（阴极）。卤素的蒸汽被阳极电离、离子被集聚到阴极上，在一个电表上显示出与离子流成正比的电流。这是唯一可以采用的仪器类型。检漏仪有高的灵敏度，能探测出从一个密封体或从分隔两个压力不同区域的隔板上的很小开口处、从较低压力一侧漏出的卤素气流；或者测出存在于任何混合气体中的66 卤素气体。卤素二极管检漏仪探头检验法是一种半定量的方法，用以探测泄漏并确定其位置，但不能作定量用。B3.2一般要求B3.2.1试验材料B3.2.1.1示踪气体采用二氯二氟甲烷（冷冻剂-12）、CCl2F2为示踪气体。也可以采用表C1所列的其它气体。表C1示踪气体商业名称化学名称化学符号冷冻剂-1三氯一氟甲烷CCl3F冷冻剂-2二氯一氟甲烷CHCl2F冷冻剂-22一氯二氟甲烷CHClF2冷冻剂-114二氯四氟乙烷C2Cl2F4亚甲基氟化物二氯甲烷CH2Cl3B3.2.2试验设备B3.2.2.1仪器应采用加热阳极的卤素检漏仪，并采用下述一种或几种信号装置以指示泄漏：a）仪表试验仪器上的毫安表、或探头或二者；b）音响装置能发出声响的扬声器或耳机；c）指示灯能发出可见光的指示灯。B3.2.2.2毛细管型校准泄漏标准按20.1.6.3b）的毛细管型卤素泄漏标准漏孔。使用100%冷冻剂-12或任何列于表C1的其它气体作为示踪物。B3.2.3仪器校准B3.2.3.1标准泄漏大小在B3.2.2.2中叙述的用于B3.2.3.2含有100%卤素浓度的毛细管型泄漏标准的最大泄漏率Q应按下式计算：4实际的百分比试验浓度Q=1×10×100……………………（B1）实际百分比试验浓度是指用于试验的卤素浓度（见B3.3.1.2）。B3.2.3.2预热在用B3.2.3.1的毛细管型检漏标准校准之前，二极管检漏仪应先通电预热，预热的最少时间应按仪器制造厂的规定。B3.2.3.3校准校准仪器时应将探头嘴在B3.2.3.1的毛细管型泄漏标准的针孔上扫查。扫查时，探头嘴与毛细管泄漏标准的距离应保持在3mm以内。扫查速率应不超过能检出从毛细管泄漏标准的泄漏（Q）时的速率。在这个扫查速率下，记录仪表的偏转或音响报警或指示灯的调节。B3.2.3.4校准频率和灵敏度除非设计规范另有规定，二级管检漏仪的灵敏度在试验前和试验后，以及中间每间隔不超过2h，均应作一次测定。在任何一次校准核查中，如果仪表偏转、音响报警或指示灯表明检漏仪不能检出B3.2.3.1校准标准的泄漏，则仪器应重新校准，并且从上一次合格的校准核查以后所有试验的部位均应重作试验。B3.3试验B3.3.1试验规程67 B3.3.1.1试验场所试验场所应无可能干扰试验或得出错误结果的污染物。需试验的部件，如有可能应防止有拔风，或者处于不会因通风而使所要求的灵敏度降低的场所。B3.3.1.2示踪气体浓度除非在设计规范中另有规定，卤素示踪气体的浓度在试验压力下，应约为10%体积浓度。B3.3.1.3保压时间试验以前，试验压力应至少先保持30min。在下述情况下，如果能证明卤素气体会立即扩散，则最小的允许保压时间也可以短于上述规定：a）对于开口的部件，采用特殊的临时装置（例如抽气罩）试验短的部件；b）在用卤素气体进行首次加压以前，部件已经部分抽空。B3.3.1.4扫查距离在B3.3.1.3要求的保压时间以后，检漏仪探头嘴应在试验表面上部通过，扫查时探头嘴与试验表面的距离应保持在3.2mm以内。如果校准时采用较此更小的距离，则试验扫查时的距离不应超过该距离。B.3.3.1.5扫查速度最大的扫查速率应按B3.2.3.3确定。B3.3.1.6扫查方向试验扫查应从汇漏检验部件的最上部开始，然后渐次向下。B3.3.1.7泄漏检出泄漏的显示和检出将按照B3.2.2.1a）、b）或c）中的任何一种。B3.3.2应用下述为两种可以应用的实例（也可用于其它类型的应用）。B3.3.2.1管子试验当试验热交换器管子管壁的泄漏时，检漏仪探头嘴应插入每一管端内，并保持在经过验证而确定的一段时间。试验扫查应从管板管列的最上部分开始，然后渐次往下扫查。B3.3.2.2管子—管板接头试验管子—管板接头试验可采用胶囊包的方法。胶囊包可以漏头式，小端与探头嘴相连，大端置于管子—管板接头之上。如果采用胶囊包，标准的响应时间应这样确定：将胶囊包置于毛细管校准泄漏标准的针孔上部，并记录出现仪器响应所需的时间。B3.4试验评定-53B3.4.1除非有关设计规范另有规定，若检出的漏率不超过1×10Pa·m/s的允许漏率，则该被检的区域可验收。B3.4.2当检测出不能验收的泄漏时，应对泄漏的位置作出标记，然后将部件降压，并对泄漏按有关设计规范的要求返修。返修以后，所有经过返修的区域应按照本附录的要求重新检验。B4氦质谱仪式验——嗅吸探头法B4.1适用范围本方法叙述用氦质谱仪检测加压部件的微量示踪氦气。检漏仪有高的灵敏度，能探测出在一个密闭体或分隔二个压力不同区域的隔板上的一个小开口处、从较低压力一侧漏出的氦气流，或者测出存在于任何混合气体中的氦气。嗅吸探头法是一种半定量的方法，用以探测泄漏并确定其位置，不能作定量用。B4.2一般要求B4.2.1试验设备B4.2.1.1仪器68 应采用能够传感和测量微量氦气的氦质谱检漏仪，并采用下述一种或几种信号装置来指示泄漏：a）仪表仪器上的或附接于仪器上的毫安表；b）音响装置能发出可闻信号的扬声器或耳机；c）指示灯能发出可见光的指示灯。B4.2.1.2辅助设备a）稳压器当供电线路有电压波动时，应在仪器上接一个稳压器。b）嗅吸探头所有需检查的部位应以嗅吸探头（嗅探器）扫查。探头用一般波纹管与仪器相连接。为了缩短响应和净化时间，除非检验装置是特殊设计能用较长的软管获得短的响应和净化时间，软管的长度约为4570mm。c）校准标准漏孔校准标准漏孔可以是按20.1.6.3a）和b）的渗透或毛细管型标准漏孔。采用标准漏孔的类型应根据仪器或设备灵敏度要求而定。或者按有关设计规范的规定。B4.2.2仪器校准B4.2.2.1预热在用已经校准的标准漏孔进行校准之前，仪器应先通电预热。预热的最少时间应按照仪器制造厂的规定。B4.2.2.2校准仪器应按照仪器制造厂的规定用20.1.6.3a）所述的渗透型标准漏孔进行校准。B4.2.2.3灵敏度-103仪器的灵敏度至少应为1×10Pa·m/s/每刻度（一个刻度是指示出真实泄漏的最小可读信号在仪表上选定的单位。经选定作为一个刻度的仪表单位，对于仪器和系统二者的校准-103应该相同）。如果仪器在任何的校准中其灵敏度低于1×10Pa·m/s/每刻度，则仪器应重新调整、净化或修理，并且重新标准，直至达到这一灵敏度。B4.2.3系统校准B4.2.3.1标准泄漏大小在B4.2.1.2c）中叙述的用于B4.2.3.2含有100%的氦浓度的毛细管泄漏标准，其最大泄漏率Q应按下式计算：4实际百分比检验浓度Q=1×10×100…………………………（B2）实际百分比试验浓度是指试验的氦浓度（见B4.3.1.2）。B4.2.3.2校准在将B4.2.1.2b）的嗅吸探头与仪器连接后，进行试验前的系统校准时，应将嗅吸探头嘴在B4.2.3.1毛细管泄漏标准的针孔上扫查。扫查时，探头嘴与毛细管泄漏标准应保持在3mm以内，对试验系统的扫查速率不应超过能检出从毛细管泄漏标准的泄漏（Q）的速率，而此泄漏标准的氦示踪气体浓度应是100%。如果校准泄漏标准的氦气源系模拟实际试验浓-53度，则扫查速率应不超过能探测出1×10Pa·m/s实际允许泄漏的速率。B4.2.3.3响应时间在系统校准时，应观察出现一个指示信号以及使仪器输出达到稳定所需要的时间。通常希望响应时间能尽可能短，以减少确定泄漏位置所需的时间。B4.2.3.4净化时间仪器所检出的输出信号降低到示踪气体停止向试验系统施加时所指示信号的37%所需69 要的时间，通常希望这个净化时间能尽可能短。B4.2.3.5校准频率和认可除非设计规范另有规定，检测系统的灵敏度应在试验前和试验后，以及中间每间隔不超过2h，均作一次测定。在任何一次校准核查中，如果仪表偏转、间响报警或指示灯表明系统不能检出B4.2.3.2所述的泄漏，则仪器应重新校准，并且从上一次合格的校准核查以后所有试验的部位均应重新试验。B4.3试验B4.3.1试验规程B4.3.1.1试验场所需试验的部件，如有可能，应防止拔风，或者处于不会因通风而使试验所要求的灵敏度降低的场所。B4.3.1.2示踪气体的浓度除非设计规范另有规定，氦示踪气体的浓度在试验压力下，应大约为10%体积浓度。B4.3.1.3保压时间试验之前，试验压力应至少先保持30min。如果在下述情况下氦气会立刻扩散，则最小的允许保压时间也可短于上述的规定：a）对于开口的部件，采用特殊的临时性装置（例如：抽气罩）试验短的部件。b）在用氦气进行首次加压以前，部件已经部分抽空。B4.3.1.4扫查距离在B4.3.1.3要求的保压时间以后，嗅吸探头嘴应在试验表面的上部通过。扫查时探头嘴与试验表面的距离应保持在3mm以内。如果系统校准时采用较此更小的距离，则试验扫查时的距离不应超过该距离。B4.3.1.5扫查速率最大的扫查速率应按B4.2.3.2确定。B4.3.1.6扫查方向试验扫查应从泄漏试验部件的最下部位开始，然后渐次向上。B4.3.1.7泄漏检出泄漏的显示或检出将按照B4.2.1.1a）、b）或c）中的任何一种。B4.3.2应用下述是可以应用的二个实例（也可用于其他类型的应用）。B4.3.2.1管子试验当试验热交换器管子管壁的泄漏时，嗅吸探头嘴应插入每一管端内，并保持在经过验证而确定的一段时间。试验扫查应从管板管列的最低部分开始，然后渐次向上扫查。B4.3.2.2管子—管板接头试验管子—管板接头试验可采用胶囊包的方法。胶囊包可为漏斗式，小端与探头嘴相连，大端置于管子—管板接头之上。如果采用胶囊包，标准的响应时间应这样确定：将胶囊包置于毛细管型校准泄漏标准的针孔上部，并记录出现仪器响应所需的时间。B4.4试验评定53B4.4.1除非有关设计规范另有规定，若检出的漏率不超过1×10Pa·m/s的允许漏率，则该被试验的区域应可验收。B4.4.2当检测出不能验收的泄漏时，应对泄漏的位置作出标记，然后将部件降压，并对泄漏处按有关设计规范的要求返修。返修以后，对经过返修的区域应按照本附录的要求重新试验。B5氦质谱仪检漏——示踪探头和护罩法70 B5.1适用范围本方法叙述使用氦质谱仪检测和测量抽空部件内的微量氦气。当使用示踪探头法时，检漏仪要有高的灵敏度，能探测出从一些微小开口的较高压力一侧，流经抽空的密封体或分隔二个压力不同区域隔板的氦气流，并确定泄漏位置，这是一种半定量的方法，不能作定量用。当使用护罩法时，检漏仪应有高的灵敏度，能检出并测量所有被罩的、从一些微小开口的较高压力一侧，流经抽空密封体或分隔二个压力不同区域隔板的总氦气流。这是一种定量测量的方法。B5.2一般要求B5.2.1试验设备B5.2.1.1仪器应采用能够传感和测量微量氦气的氦质谱检漏仪，并采用下述一种或几种信号装置来指示泄漏：a）仪表（示踪探头和护罩法）仪器上的或附接于仪器上的毫安表；b）音响装置（示踪探头法）能发出可闻信号的扬声器或耳机；c）指示灯（示踪探头法）能发出可见光的指示灯。B5.2.1.2辅助设备a）稳压器当电源电压波动时，应接一个稳压器。b）辅助泵系统当检测设备需要使用辅助真空泵系统时，系统的绝对压力和泵速应能使检测灵敏度和响应时间达到要求。c）多向接头能正确连结仪器真空计、辅助泵、校准泄漏标准漏孔和试验部件的管子和阀门。d）示踪探头与100%氦气源连接，另一端使用一个有细小开口的阀门，用以调节氦气流。e）护罩任何适当的罩子或容器，例如带有进气管的塑料袋。f）真空计真空计的量程应能测量被抽空系统进行试验时的绝对压力。用于大系统的真空计的位置应尽可能远离泵系统的进气口。B5.2.1.3校准泄漏标准漏孔校准泄漏标准漏孔可以是20.1.6.3a）、b）所述的渗透型或毛细管型标准漏孔。按仪器灵敏度要求或按设计规范规定选用标准泄漏漏孔的类型。B5.2.2仪器校准B5.2.2.1预热用校准的泄漏标准进行校准之前，仪器应先通电预热。预热的最少时间按仪器制造厂的规定。B5.2.2.2校准仪器应按照仪器制造厂的规定，用20.1.6.3a）所述的渗透型标准漏孔进行校准。B5.2.2.3灵敏度71 -103仪器的灵敏度至少应为1×10Pa·m/s/每刻度（每刻度是能指示出真实泄漏的最小可读信号在仪表上选定的单位。选定每个刻度作为仪表的单位，对于仪器和系统二者的校准应-103该相同）。如果仪器在任何的校准中其灵敏度低于1×10Pa·m/s/每刻度，则仪器应重新调整、净化或修理，并且重新校准，直至达到灵敏度要求。B5.2.3系统校准B5.2.3.1示踪探头法将第20.1.6.3b）所述的毛细管型已校准的泄漏标准漏孔与部件相连接，并尽可能远离检漏仪器与部件的连接处。在校准检测系统时，已校准的泄漏标准漏孔应打开。a）校准将部件抽空至足以允许氦质谱仪与系统相连接的绝对压力。为了校准检漏系统，应将示踪探头嘴扫查B5.2.1.3所述毛细管泄漏标准漏孔。探头嘴与毛细管泄漏标准漏孔间的距离应保持在6.4mm之内。对于从100%氦气的示踪探头中流出的一个已知漏率，扫查速率不应-63超过能够检出通过已校准泄漏标准漏孔进入系统的氦气泄漏（Q）为1×10Pa·m/s时的扫查速率。如果从示踪探头输出的漏率降低，则必须重新进行系统校准以确定新的扫查速率。b）正常扫查在部件被抽空至足以允许氦质谱仪与系统相连的绝对压力的情况下，扫查速率应由示踪探头扫过毛细管泄漏标准的漏孔确定。这个扫查速率不能超过能够检出B5.2.3.1a）所述泄漏率的扫查速率。c）响应时间在系统校准时，在仪器上观察到指示信号从出现到稳定所需的时间称为响应时间。这个时间越短越好，以减少确定泄漏位置所需的时间。d）净化时间仪器所检出的输出信号降低到示踪气体停止向试验系统施加时指示值的37%所经过的时间。通常希望这个净化时间尽可能短。e）校准频率和灵敏度除非设计规范另有规定，检测系统的灵敏度应在试验前和试验后，以及中间每间隔不超过2h，均作一次测定。在任何一次校准检查中，如果仪表偏转、音响报警或指示灯表明系-93统不能检出1×10Pa·m/s的泄漏，则仪器应重新校准，并且从上次合格的校准以后所有试验的部位应重新试验。B5.2.3.2护罩法1）将20.1.6.2a）具有100%氦气的已经校准的泄漏（CL）标准与部件相连接，并尽可能远离仪器与部件的连接处。在校准检测系统时，经校准的泄漏标准漏孔应保持开启，直至确定响应时间为止。a）抽空将部件抽空至足以允许氦质谱仪与系统相连的绝对压力。经过校准的泄漏标准漏孔应向系统开放。经校准泄漏标准漏孔应保持开启、直至仪器信号达到稳定，响应时间得到确定。b）响应时间经过校准的泄漏标准漏孔向部件开启的时间，以及输出信号的增大达到稳定的时间应予以记录。两个读数之间所经历的时间称响应时间。记录稳定的仪器读数刻度M1。2）c）本底读数本底读数刻度M2是在测定响应时间后确定的。校准泄漏标准准漏孔向检测系统关闭。当仪器读数达到稳定时，记录仪器的读数。1）3CL——是已校准的泄漏率Pa·m/s。2）本底读数——系统本底噪声，其符号和定义见B7.2。72 d）初始校准初始的测试系统灵敏度S1应按下式计算：CL3S1=Pa•m/sM1−M2/每刻度…………………………（B3）当泄漏检测装置的布置（即采用辅助泵而旁路至辅助泵的氦气流分配有所变化时）或者经校准的泄漏有变动，就应重新进行校准。在完成初始的系统灵敏度校准后，经校准的泄漏标准漏孔应与系统隔离。e）最终校准当检测系统的试验完成以后，并且部件仍然处于护罩之中，在经校准的泄漏关闭的情况下，测定仪器输出读数M3。然后应再次将经校准的泄漏向所试验的系统开启，仪器输出增大至M4。按下式计算最终的系统灵敏度S2：CL3S2=Pa•m/sM4−M3/每刻度…………………………（B4）如果最终灵敏度S2减小到初始灵敏度S1的35%以下，仪器应进行清洗或修理，重新校准，部件或系统重新试验。f）测得的泄漏率测得的部件泄漏率Q1应按下述确定：Q=S(M−M)Pa•m3/s1232……………………………（B5）g）实际泄漏率实际泄漏率Q2的计算（对所使用示踪气体浓度的校正）：Q1×1003Q1=Pa•m/s%He………………………………（B6）B5.3试验B5.3.1示踪探头法B5.3.1.1扫查速率最大的扫查速率应按B5.2.3.1a）确定。B5.3.1.2扫查方向试验扫查应从被检测设备部件的最上部分开始，渐次向下扫查。B5.3.1.3扫查距离示踪探头应在试验表面扫过。扫查时探头与试验表面的距离应保持在6mm以内。如果在校准系统时采用较短的距离，则试验扫查时应不超过该距离。B5.3.1.4泄漏检出泄漏的显示和检出应按照B5.2.1.1。B5.3.2护罩法B5.3.2.1护罩对于单壁部件或零件，护罩（套袋）容器可用如塑料等材料制成。B5.3.2.2护罩中充以示踪气体在按B5.2.3.2d）完成初始校准以后，部件外表面与护罩之间的空间，在部件被抽空以后应充以氦气。B5.3.2.3估计或测定护罩内示踪气体浓度测定或估计出充在护罩中的示踪气体浓度。B5.4试验评定B5.4.1示踪探头法73 63除非有关设计规范有规定，若检出的漏率不超过1×10Pa·m/s的允许泄漏率，则所试验的部位可以验收。B5.4.2护罩法73除非有关设计规范有规定，若对于实际泄漏率Q2等于或小于1×10Pa·m/s，则被试验的部件可以验收。B5.4.2.1当实际泄漏率超过允许值时，所有的焊缝或其它可疑的部位应使用示踪探头法重新检验。所有泄漏处应作出标记，并作临时性的密封，以使示踪探头完成重新探测。临时性的密封应在试验完成后易于完成除掉。B5.4.2.2然后将部件通风并按有关设计规范的要求对泄漏处进行返修。返修以后，返修的部位按照本附录的要求重新试验。B6压力变化检验B6.1适用范围该试验方法叙述了测定密封容器或系统的分界面的特定的压力或真空下的泄漏率的方法。当规定采用压力变化试验作为测定泄漏率的方法时，可以采用诸如压力控制、绝对压力、压力保持、压力丧失、压力衰减、压力升高和真空保持等方法。这些检验规定了在单位时间内的压力、体积百分比的最大允许变化，或单位时间内的质量变化。B6.2一般要求每一种试验应对密闭部件进行气体加压或抽至一定的压力或真空，按规定的时间周期记录温度、压力或真空度。分析相应的泄漏率或单位时间内压力改变的数据来决定部件或系统是否可验收。B6.2.1试验设备B6.2.1.1压力测量仪表a）压力计量程刻度指示和记录型压力计应符合第20.1.5.1a）的要求。液体压力计或石英鲍登（Bourdon）管压力计的整个量程可以使用。b）压力计位置压力计的位置应按第20.1.5.1b）的规定。c）压力计类型压力变化试验中可采用常规或绝对压力计。当需更高的精度时，可采用石英鲍登管压力计或液体压力计。使用的压力计应具有与验收标准相适应的精度、分辨力和重复性。B6.2.1.2温度测量仪当采用干球或露点温度测量仪时，应具有与泄漏验收标准相适应的精度、重复性和分辨力。B6.2.2压力表B6.2.2.1校准所有刻度指示、记录型和石英鲍登管压力计应按第20.1.6.1b）校准。液体压力计的刻度，应由已经国家标准校准的标准来校准（如果有这样的国家标准）。B6.2.2.2温度测量仪干球和露点温度测量仪应由已经国家标准校准的标准来校准（如果有这样的国家标准）。B6.3试验B6.3.1试验规程B6.3.1.1压力施加部件需在高于大气压力的情况下试验时，应按第20.1.4.4加压。B6.3.1.2抽空74 部件需在真空情况下试验时，至少抽空至大气压以下13.8kPa或按照设计规范有关要求。B6.3.1.3试验持续时间保持试验压力（或真空）的持续时间应按有关设计规范的规定。如果没有规定，则应确定部件或系统的泄漏率、且在设计规范所要求的精度或可靠的限度以内。对于很小的部件或系统，几分钟的持续时间可能已经足够；但对于大部件或系统，需要作出温度和水蒸气校正、则可能要求若干小时的持续时间。B6.3.1.4小的加压系统对于很小的加压系统，例如密封垫空隙，仅能测量其系统（金属）的温度。为达到温度稳定，在加压完成以后、开始试验以前，应至少有15min的持续时间。B6.3.1.5大的加压系统对于大的加压系统的温度稳定，其内部气体温度是在加压完成后测量的。在试验之前应测定内部气体的温度是否已经稳定。B6.3.1.6试验开始检验开始时应记录最初的温度和压力（或真空），然后每隔一定的时间（不超过60min），均作出记录，直到规定的检验时间结束。B6.3.1.7主要变数a）当要求对大气压的变化进行补偿时，应采用绝对压力表或常规压力表和气压计作试验压力的测量。b）当有关设计规范有要求时，或水蒸气压力的变化显然影响试验结果时，应测量内部的露点或相对湿度。B6.4评定B6.4.1验收标准B6.4.1.1可验收的试验若压力变化或泄漏率等于或小于有关设计规范的规定，则该试验可以验收。B6.4.1.2应拒收的试验若压力变化或泄漏率超过有关设计规范的规定，则试验的结果应拒收，并可以用本附录上所述的其它方法来确定泄漏的位置。在确定过度的压力变化或泄漏率的原因，并按有关设计规范进行返修之后，应重新进行原先的试验。B7增补的泄漏试验公式符号B7.1采用本章中的公式计算的泄漏率。B7.2下述定义的符号用于相应附录中的公式：a）系统灵敏度计算：3S1——初始的灵敏度（灵敏度的计算），Pa·m/s/每刻度。3S2——最终的灵敏度（灵敏度的计算），Pa·m/s/每刻度。b）测得泄漏率的计算：3Q1——测得部件的泄漏率（实际泄漏的计算由S2减去本底而确定），Pa·m/s。c）实际泄漏率（校正至100%氦）：3Q2——实际泄漏率（用于示踪气体浓度校正），Pa·m/s。d）氦或卤素浓度：百分数/100。e）校准的标准：3CL——已校准漏孔的泄漏率，Pa·m/s。f）仪器读数顺序：75 M1——在试验之前，打开已校准的进入部件的漏孔时表的读数（刻度）。M2——在试验之前，关闭已校准的进入部件的漏孔时表的读数（刻度）（系统本底噪声读数）。M3——已校准的漏孔关闭时表的读数（记录部件泄漏）（刻度）（试验完成后）。M4——已校准的漏孔开启时表的读数（记录部件泄漏）（刻度）（试验完成后）。附录C（提示的附录）无损检测名词术语C1超声波检测名词术语术语定义耦合介质施加于探头和工件表面之间，使超声波能量传入工件的液态介质液浸法将探头和工件浸入液体中的探伤方法，如液体为水，则称为水浸法纵波声波在介质中传播时，介质质点振动方向和波的传播方向相同的波横波声波在介质中传播时，介质质点振动方向和波的传播方向相互垂直的波直射波探头发射的超声波束与工件表面的法线呈平行的探头斜射波探头发射的超声波束与工件表面的法线呈斜向的探头波型转换在异质介面上通过折射或反射将某种波型转换成另一种波型的过程标称频率由探头制造商标定的名义频率压电晶片能将声能转换成电能，也能将电能转换成声能的元器件用于调整探伤灵敏度或比较缺陷大小的参考标准，一般采用与被检材料特性相似的材料对比试块制成校准试块用于探伤系统性能测试或灵敏度校正，该试块的形状、材质和尺寸都经主管机关检定声束入射点在斜射探伤中，超声束中的中心入射于探伤面的一点跨距在斜射探伤中，入射点和波束经一次反射后与工件检测面交点间的距离时基线校准通过调正在示波器屏幕上显示的时间和超声波在工件中传播的距离的比例来实现灵敏度调整检测仪器的放大倍数得到控制的调正，使具有检测规定大小缺陷的能力在示波屏上出现一系列“稻草波”，其产生于声束在工件内散射和放大器中电子元件内本底噪声载流子无规则的移动底面回波由被检工件底面反射的回波接触法检测探头直接接触工件的探伤方法图中角1入射角反射角图中角2折射角图中角3脉冲发生器探伤仪的一部分，能重复产生幅度和宽度不变的电脉冲分贝两个功率值之比取常用对数值称“贝尔”，再扩大10倍即成“分贝”C2射线照相检验名词术语术语定义76 电子感应加速器（电子一种能将电子沿圆形轨道加速后轰击到靶上产生X射线的发生器。该设备能产生回旋加速器）高能射线遮挡板放在暗盒后面用以吸收背面散射线的铅板一种不透光的包装物，面向被检件的一面，易透入射线，用以放置一张或多张射暗盒（袋）线照相胶片，它可带或不带增感屏黑度计测量射线照相底片光密度的一种仪器显影（手动或自动）处理曝光后的射线照相胶片，主要是将潜象转变成可见图象，再经定影液定影采用或不采用准直器曝光，在曝光过程中只采用一小部分射线束。可采用一只暗单向辐射盒曝光（个别曝光）；将射线源置于中间时，也可采用多只暗盒在周围曝光（全景曝光）。见图C1和图C2边缘效应由平行于射线束的被透照体侧面散射线产生的附加干扰影响（射线照相）胶片通常在片基两面涂有感光乳化剂的胶片观片灯带有能检查射线照相底片的反光装置的仪器焦点（X光机和加速器）靶（热焦点）或射线源在垂直于X射线末轴线平面上的正投影区（见图C4）由于曝光的几何条件（射线源或焦点尺寸、源与胶片之间的距离等）造成射线照几何不清晰度相图象边缘模糊程度导源管从侧面将射线引入两端无法进入的管子内对焊缝进行检验的导向装置增感屏贴附在射线照相胶片上的金属箔，用以通过电子发射增强一次射线的效应光密度（黑度）射线照相底片的黑化程度直线加速器一种能将电子沿直线轨道加速后轰击到靶上产生X射线的发生器进行部分或全景曝光时，暗盒围绕射线源几乎是等距离排列。这种曝光可达到使多向辐射用射线源的大部分或全部有效体积（见图C3）象质计用以确定射线照相图象质量的一种器件-1伦琴测量曝光量的常用单位（新单位：库伦/千克）lmR=0.258Ckg（射线）源能发射电离辐射的任何装置或物质计算几何不清晰度时，以高度h（mm）为射线源d（mm）的尺寸（辐射源轴线平行于胶片平面）图C1计算几何不清晰度时，以直径Φ（mm）为射线源d（mm）的尺寸（辐射源轴线垂直于胶片平面）图C277 计算几何不清晰度时，以Φ或h（mm）中的较大值为射线源d（mm）的尺寸图C3方形焦点：d=a长方形焦点和椭圆形焦点：a+bd=2圆形焦点：d图C4C3渗透探伤名词术语术语定义乳化剂一种液体，当其与油性渗透剂放在一起时，能使渗透剂用水冲洗掉。乳化剂有亲78 水性和亲油性两类亲水性乳化剂一种不能与渗透剂混合的乳化剂，但能通过润湿其表面而容易被水冲洗掉亲油性乳化剂一种与渗透剂混合而使其易于被水冲洗掉的乳化剂一种能渗入表面开口缺陷，并能被显示剂吸出的液体。渗透剂分着色（一般为红渗透剂色）和荧光（含有在紫外线下发出可见光的示踪剂）两类水洗型渗透剂不使用乳化剂就能直接用水冲掉的渗透剂后乳化型渗透剂需另加乳化剂才能用水冲洗掉的渗透剂清洗剂在施加渗透剂前和（或）渗透探伤后用以清洗被检件表面的溶剂紫外线辐射用以激发荧光，辐射波长在3500~4000A范围内能吸出渗入表面开口缺陷的渗透剂。并能提供背景反差的白色物质。显示剂有干显示剂（显象剂）式（粉末）和湿式（悬乳液）两类溶剂用以清洗掉多余渗透剂的液体渗透时间液态渗透剂与被检表面相互接触的持续时间C4磁粉探伤名词术语术语定义磁场有磁力作用的空间施于被检表面用以提高反差的物品或涂料（一般为白色）。反差增强剂在磁化前反差增强剂施加退磁减少铁磁性零件中剩磁的操作感应磁场由导体（可以是被检件）中的电流产生的磁场缓蚀剂加在磁粉探伤液中，能避免被检件表面发生腐蚀的一种物质黑光辐射波长在3500~4000A范围内用以激发荧光物质的发光通磁磁化通过电磁铁或间接感应，使整个零件或零件局部建立磁场通电磁化对整个零件或零件局部通以交流电，脉动直流或直流电来建立磁场剩磁磁化后保留在零件中的磁性润滑剂用以减小磁悬液表面张力的试剂磁导率材料或零件的磁化能力荧光色素包在荧光磁粉（探伤用磁粉）外面的物质（见荧光显示剂）磁粉参见“干粉”一词将铁磁微粒悬浮于载液中所形成的悬浮液。使用荧光显示剂时，微粒外包有在紫磁悬液外线辐射下能发出荧光的色素干粉由铁磁性微粒组成的粉末磁场指示器用以评定磁化条件，带有已知人造缺陷的试片C5涡流检测名词术语术语定义由下述因素造成的假信号：本底噪声——管材的冶金因素或尺寸上的变化所造成，与缺陷无关；——探头相对于管材的速度或位置等检验参数的变化所造成涡流置于交流电磁场内的导体感生的电流鉴相器用以测量相对于参比信号相位的和测量电桥不平衡交变信号幅度的设备差动式能比较被检管两个邻近区域的测量电桥的连接形式穿透深度在与探头接触的管材表面下方，涡流强度为其表面涡流强度的0.37倍时的深度测量电桥与交变电流发生器相接的电路，用以比较未知测量阻抗与已知阻抗受到磁场作用时的铁磁性管材，其磁导率达到1（磁导率等于磁通密度与感应磁磁饱和场强度之比）时的动态____________________79'