GB 12085.6-1989 光学和光学仪器环境试验方法 砂尘.pdf 6页

'UDC翻1.7.08N30中华人民共和国国家标准GB12085.1~12085.14-89光学和光学仪器环境试验方法Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods1989一12一29发布1990一08一01实施国家技术监督局发布 中华人民共和国国家标准光学和光学仪器环境试验方法GB12085.6-89砂尘Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Dust1主题内容与适用范围本标准规定了砂尘试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本标准适用于二光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。2试验目的研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受到砂尘影响的变化程度，特别是研究运动部件(如滑动面、轴承、接触器、控制装置、齿轮)的故障或不能允许的表面磨损。本试验不用来确定对粗粒砂尘的耐磨性。3引用标准GB12085.1光学和光学仪器环境试验方法术语、试验范围4试验条件暴露期间，光学表面应用各种措施防止砂尘的影响，如防尘Wo若试样在暴露时光Y表面不必罩炭，则应在有关标准中加以说明。试验箱(室)应具有一定的空间以保证试样的占有面积不大于试验箱(室)横截面积(与空气流动方向垂直的面积)的50%，体积不超过试验箱(室)有效体积的50%-矿物砂尘应由边缘锐利的微粒组成，其中Si02按重量应不少于970,o。微粒尺寸分布和分析用的kf!"A丝筛网应符合表1的规定。表1Ivitifb尘"R+ifiv:尺于分布按玉嗽的白分比，%(允许偏差上20o)TO粉尺、卜mm筛网网格，泛、卜Pm20.1-0.1414080.071-0.1100150.045-0.0717175、0.04545每次试验应使用新的砂尘。试样应尽可能放在试验箱(室)III心附近，如多个试样同时试验时，国家技术监督局1989一12--29批准1990一08一01实施 GB12085.6-89试样的位置均应与空气流动方向垂直，并且试样之间以及试样与试验箱(室)壁的距离均大于100mm,试样的安置应使最易损表面朝着喷尘。在试验期间试样的位置可重新定位，以便将各个不同的表面暴露于空气流，在有关标准中应规趁对空气流暴露的试样表面蒯立置和数量，暴露周期应均匀分酉do每暴露面。5条件试验条件试验方法52:喷尘条件试验方法52喷尘的严酷等级按表2。表2严酷等级0102v033)温度，℃18-2818一2818-28相对湿度，%_<25<25<25步骤1空气速度，m/，8-108-108-10砂粒密度，9/m“5"155-155-15暴露时间，卜666温度，℃55-65一相对湿度，%<25步骤2"空气速度，m厂51~3暴露时间，h16温度，℃35-4555一65相对湿度，%<25<25少IN3空气速度，m/s8-108一10砂粒密度，9了m35一155-15暴露时间，h661一作状态I或2注:1)砂粒的进出是断续的。2)步骏1试验后立即进人步骤303)步骤1至步骤3应紧接着进行。 Gs12085..一.白.试脸程序:I预处理预处理未作规定时，试样应清洁和干澡.8.2恢复除有关标准另有规定外，沈积的砂尘应通过摇动或攘刷的办法去除，不得将砂尘枯到试样上，也不用吹或吸的清洗方法除去砂尘。T环境试脸标记例.选用本标准中的条件试脸方法":f喷尘、严酷等级。1.工作状态2的标记为:GB12086.6一62-01一2.有关标准应包括的内容.环境试脸标记.七.试样数量.c.未经保护的侍暴庵光学表面.d.预处理.二初始检测的内容和范围.t.暴露于空气流的试样表面的位置和数量.5.工作状态2工作周期的确定.h.工作状态2中间检测的内容和范围，:恢复.，.最后检测的内容和范围，.评价判据sI二试脸报告的内容和范围。 GB12085.8-89附录A试验箱结构的示意圈(参考件)图A1试验箱结构的示意图1一包括计量器和除湿装置的进尘装置，2一风扇.3一气流矫直器.4一加热元件，‘一温度传感器.。一温度ifo，一气流控制阀1一YEqllfoTW度计:。一除湿《冷却，器.10一易窗室.1一栅格板t1Y-砂T.排除口“3一反向传1814=光电0尘w度计11‘一暴礴窒的门I1.一风a电机.17-标准光旅，1e=温度传感器，19-42* GB12085.6-89附加说明:本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出。本标准由上海光学仪器研究所归口。本标准由上海光学仪器研究所和贵阳光电技术研究所共同负责起草。'