GBT17554.7-2010识别卡测试方法邻近式卡.pdf 25页

'lCS35．240．15L64圆雪中华人民共和国国家标准GB／T17554．7—20102010—12—01发布识别卡测试方法第7部分：邻近式卡Identificationcards——TestmethOds——Part7：Vicinitycards(ISO／IEC10373—7：2008，MOD)2011—04—01实施宰瞀徽紫瓣警糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会议1” 标准分享网www.bzfxw.com免费下载GB／T17554．7—2010目次前言····⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯’’⋯⋯⋯⋯1范围⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯·⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯··“2规范性引用文件⋯⋯⋯⋯⋯⋯·⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯·3术语和定义、缩略语和符号⋯⋯⋯⋯⋯···⋯⋯⋯⋯⋯··4适用于测试方法的默认条款⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯·⋯⋯-5静电测试⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯·⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯····6测试装置和测试电路⋯⋯⋯⋯·····⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯7VIcc的功能测试⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯··⋯⋯⋯⋯⋯⋯8VcD的功能测试⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯·-9VICC的工作场强测试·⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯·附录A(规范性附录)测试VCD天线⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯··附录B(资料性附录)测试VCD天线调谐⋯⋯⋯⋯⋯附录c(规范性附录)传感线圈⋯⋯⋯·⋯⋯⋯⋯⋯⋯一附录D(规范性附录)用于VcD功率测试的参考VIcc附录E(资料性附录)用于负载调制测试的参考VIcc附录F(资料性附录)频谱计算程序···⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯I1236789u”¨"¨ www.bzfxw.com刖置GB／T17554．7—2010GB／T17554在《识别卡测试方法》总标题下，目前分为如下7个部分：——第1部分：一般特性测试；——第2部分：磁条卡；——第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备；——第4部分：无触点集成电路卡；——第5部分：光记忆卡；——第6部分：接近式卡；——第7部分：邻近式卡。本部分为GB／T17554的第7部分。本部分使用重新起草法，修改采用国际标准Is0／IEc10373—7：2008《识别卡测试方法第7部分：邻近式卡》(英文版)。本部分与Iso／IEc10373—7：2008相比，增加和修改了下列内容，并在相应条款的外侧页边空白处用单垂线标示：a)为了使标准更加清晰易懂，增加了缩略语PcB；b)为了便于引用，8．1．2做了编辑性修改；c)为了避免实际应用中可能出现在规定的工作区域内VIcc不能正常工作的情况，增加第9章工作场强测试。本部分的附录A、附录c和附录D是规范性附录。本部分的附录B、附录E和附录F是资料性附录。本部分由全国信息技术标准化技术委员会(sAc／Tc28)提出并归口。本部分起草单位：中国电子技术标准化研究所、东信和平智能卡股份有限公司。本部分主要起草人：冯敬、高林、袁理、金倩、黄小鹏、耿力、赵子渊。 www.bzfxw.com标准分享网www.bzfxw.com免费下载1范围识别卡测试方法第7部分：邻近式卡GB／T17554．7—2010GB／T17554规定了符合GB／T14916识别卡特性的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准，这些基础标准可以是GB／T14916或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。注l：接收准则不包含在本部分中，而是在以上提及的国家标准中。注2：GB／T17554描述的若干测试方法可单独实施。规定的卡不要求顺序地通过所有测试。GB／T17554的本部分规定了无触点集成电路卡技术(邻近式卡)的测试方法。第1部分规定了为一种或多种卡技术所共用的测试方法；其他部分则规定了各个专项技术的测试方法。除非另有规定，本部分中的测试仅适用于GB／T22351．1和GB／T22351．2中定义的邻近式卡。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB／T17554的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB／T14916识别卡物理特性(GB／T149162006，ISO／IEc7810：2003，IDT)GB／T17626．2电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(GB／T17626．2—2006，IEC6100042：2001，IDT)GB／T22351．1识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第1部分：物理特性(GB／T22351．1～2008，ISO／IEC15693—1：2000，IDT)GB／T22351．2—2010识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第2部分：空中接口和初始化(ISO／IEC15693—2：2000，IDT)GB／T22351．3识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第3部分：防冲突和传输协议(GB／T22351．32008，IS0／IEC15693—3：2001，IDT)IsBN92—67—10188—9对度量不确定性表达的指南，ISO，1993版3术语和定义、缩略语和符号3．1术语和定义下列术语和定义适用于本部分。3．1．1基础标准basest蛆dard利用测试方法验证所要符合的标准。3．1．2预期操作operate嬲intended经受了某些潜在破坏性影响作用后，卡上的任何集成电路仍然继续保持了符合GB／T22351．3基础标准的操作和响应1。注：若同一张卡上存在其他的技术，则这些技术根据各自的标准也应具有可预期的操作。1本部分并不定义集成电路卡的完整功能测试。这些测试方法仅要求验证最小功能。在适合的情况下，可以进步补充应用特定功能准则，这些准则在一般情况下是用不到的。 www.bzfxw.comGB／T17554．7—20103．1．3测试方法testmethod为了验证识别卡符合标准而对其特征进行测试的方法。3．2缩略语和符号DuT被测设备EsD静电放电，。工作场频率，一^副载波频率H。。最大VCD场强H。。最小VCD场强VcD邻近式耦合设备vIcc邻近式卡PCB印制电路板4适用于测试方法的默认条款4．1测试环境除非另有规定，测试应在温度为23℃士3℃和相对湿度为40％～60％的环境下进行。4．2预处理若测试方法要求预处理，在测试前应将待测试的识别卡在测试环境中放置24h。4．3默认容差除非另有规定，默认容差为士5％应适用于所给出的量值，以规定测试设备的特性(例如，线性尺寸)和测试方法规程(例如，测试设备校准)。4．4寄生电感电阻器和电容器具有可以忽略的电感。4．5总度量的不确定性测试方法所决定的每个量的总度量不确定性应在测试报告中予以说明。IsBN92—67—10188—9，Is0，1993版中给出了对度量不确定性表达的基本信息。5静电测试本测试的目的是检验经过EsD(静电放电)测试后VIcc的行为。被测vIcc经受模拟的EsD(人体模型)，基本操作如图1所示。mm厚的绝缘村垫图1EsD测试电路木桌上水平放置耦合导电平板木桌高度为o8m．并与地面平行 www.bzfxw.com标准分享网www.bzfxw.com免费下载GB／T17554．7—20105．1仪器见GB／T17626．2。a)ESD发生器的主要规格：——储能电容器：150pF士10％；——放电电阻器：330n士10％；——充电电阻器：50Mn～100M0之问；——上升时间：O．7ns～1ns。b)选定任选项的规范：——设备的类型：台式设备；——放电方法：直接空气放电到被测设备；——EsD发生器放电极：直径8mm的圆头探针(避免弄破卡的表面标记层)。5．2规程按照GB／T17626．2的规定连接测试装置。将仪器的接地插针连接到放置VIcc的导电平板上。以正极性对如图2所示的20个测试区的各个区依次放电。再以相反的极性重复此过程。允许至少10s的连续脉冲问的冷却周期。警告：如果vIcc带有触点，则该触点的正面朝上并且触点所在的区应不被放电。测试结束后检验VICC能否按预期操作。顶部基准边，，、156161920L图2vICC上ESD测试区5．3测试报告测试报告应说明VIcc是否可以按预期操作。6测试装置和测试电路6．0综述本章定义了测试装置和测试电路，以便按照GB／T22351．2验证vICC或者VcD的操作。测试装置包括：a)校准线圈(见6．1)； www.bzfxw.comGB／T17554．7—2010b)测试VCD装置(见6．2)；c)参考VIcc(见6．3)；d)数字示波器(见6．4)。6．1校准线圈本条定义了校准线圈的尺寸、厚度和特性。6．1．1校准线圈卡的尺寸校准线圈卡应由具有GB／T14916定义的IDl型卡高度和宽度构成的一个区域组成，并包含了与卡轮廓线同轴的单匝线圈(见图3)。GB仃14916ID．1型轮廓线连接图3校准线圈6．1．2校准线圈卡的厚度和材料校准线圈卡的厚度应为o．76mm±10％，它应采用一种适合的绝缘材料。6．1．3线圈特性校准线圈卡上的线圈应有1匝。线圈的外尺寸应为72mm×42mm，转角半径为5mm。相对尺寸容差应为土2％。注1：线圈面积大约3000mm2。该线圈在PcB上制作成印制线圈，铜线厚度为35“m。印制线宽度应为500“m，相对容差为士20％。连接焊点尺寸应为1．5mm×1．5mm。注2：在13．56MHz条件下，电感近似为200nH，电阻近似为o．250。高阻抗示波器探针(如：>1M0，<14pF)用来测量线圈上的感应电压(开路)(校准线圈、连接导线和示波器探针的谐振频率应在60MHz以上)。注3：一个小于35pF的探针寄生电容通常可保证大于60MHz的谐振频率。线圈的开路校准因子为o．32v(rms)A／m(rms)[相当于900mV(峰峰值)每A／m(rms)]。6．2测试VCD装置负载调制测试用的仪器应由150mm直径的VcD天线和两个平行的传感线圈组成：线圈a和线圈b，如图4所示。连接时，使得一个线圈的感应信号与另一个线圈的感应信号相位相反。当传感线圈不被vIcc或者任何磁性耦合电路加载时，10n电位器P1用来微调平衡点。探针的电容负载(包括它的寄生电容)应不超过14pF。 www.bzfxw.com标准分享网www.bzfxw.com免费下载GB／T17554．7—2010图4测试装置考虑比Is0／IEc10373—6更宽的传感线圈间隔，双绞线的最大长度应不超过150mm。为了避免装置不对称而额外带来的调谐不准的现象出现，电位器Pl的调谐范围为lo0。如果lOn的电位器P1不能补偿装置这一缺陷，那么应对整个装置的对称性进行校对。为了达到很好的再现性，接触点和示波器探针的电容应保持在最小。高阻抗示波器探针的接地线应小于20mm或者同轴连接。6．2．1测试vCD天线测试VcD天线直径为150mm，其结构应符合附录A中的所有图示。天线调谐可由附录B给出的规程完成。6．2．2传感线圈传感线圈的尺寸应为100mm×70mm。传感线圈的结构应符合附录c中的所有图示。6．2．3测试VcD装置传感线圈和测试VcD天线应平行地进行组合，同时传感线圈和天线线圈同轴，并且使得两个起作用的导体之间的距离为100mm，如图5所示。DuT线圈和校准线圈到测试VcD天线线圈的距离应相等。一J一——t，工作导体l，—／。；多多／＼．／、空隙校准线圈传感线圈3vcD天线传感线圈b注：10。mm的距离反映了较大的读取距离，3mm空隙避免了如近距离去谐或者不明原因引起的噪声所带来的寄生影响以及其他环境的影响。图5测试VCD装置5 www.bzfxw.comGB／T17554．7—20106．3参考VICC定义参考VIcc用来测试：a)VCD产生的H一和H～(在vICC加载的状态下)；b)VcD把功率供给VIcc的能力；c)检测来自VIcc的最小负载调制信号。6．3．1用于VcD功率测试的参考VIcc用于VcD功率测试的参考VIcc示意图在附录D中示出，功耗可分别由电阻器R。、R：设置，按照8．1．2中定义测量H～和H⋯谐振频率可用c。来调整。6．3．2用于负载调制测试的参考vIcc负载调制测试的示意图在附录E中示出。负载调制可被选择为阻性调制或者容性调制。通过使用测试VcD装置来校准参考VIcc，如下：参考VIcc放置在DuT的位置上。用7．2所述方法，测量负载调制信号幅值，这个幅值应符合基础标准规定的与场强值对应的最小幅值。6．3．3参考vIcc的尺寸参考VIcc应包含有线圈的区域，该区域具有GB／T14916为Inl型卡而定义的高度和宽度。该区域外部的一个区域包含了模拟VIcc功能需要的电路，外部区域应该用下面所描述的测试装置来实现，从而对测试不引起干扰。尺寸如图6所示。GB，T14916【D．1的轮廓姥。线圈电路图6参考VIcc尺寸6．3．4参考vIcc板的厚度参考VIcc板的线圈区域厚度应为o．76mm土10％。6．3．5线圈特性参考VIcc线圈应有4匝，并且应与区域轮廓线同轴。线圈的外尺寸应是72mm×42mm，相对尺寸容差为±2％。该线圈在PcB上制作成印制线圈，铜线厚度为35“m。印制线宽度和间距应为500“m，相对容差为土20％。注：在13．56MHz条件下，电感近似为3．5“H，电阻近似为ln。6．4数字取样示波器数字取样示波器应能在最佳定标处至少有每秒100M取样的速率，并具有至少8位的分辨率。该示波器应具有把所取样的数据作为文本文件来输出的能力，以便完成数学运算和其他操作，诸如使用外部软件程序显示数据(参见附录F)。7vlcc的功能测试7．1目的本测试的目的是在GB／T22351．2—2010中6．2规定的工作区域[H～，H～]内确定vIcc负载调制信号的幅度，以及在GB／T22351．22010中图1、图2定义的不同调制情况下测试vIcc的功能。7．2测试规程步骤1：使用图4的负载调制测试电路和图5的测试VcD装置。6 www.bzfxw.com标准分享网www.bzfxw.com免费下载GB／T17554．7—2010通过调整信号发生器使得传送到测试VcD天线的RF功率达到所需要的场强和调制波形，在没有任何VIcc条件下，使用校准线圈测量所需要的场强和调制波形，按图4把负载调制测试电路的输出连接到一个数字取样示波器。通过调整P1可调电位器，尽可能减小残留载波。与短路一个传感线圈后测得的信号相比，残留载波信号应至少衰减40dB。步骤2：被测vIcc应放置在DuT位置，并与传感线圈a同轴。通过调整信号发生器使得传送到测试VCD天线的RF功率达到所需要的场强。注：注意在低幅度负载调制测量时使用适当的同步方法。对两个周期的副载波调制信号准确地进行傅立叶变换，在离散傅立叶变换时应取纯正弦信号的峰值。为了使瞬态效应减到最小，要避免副载波周期直接紧跟在一个非调制周期后面。在双副载波的情况下，测试过程应重复用于第2个副载波频率。所得到的^+凡，，e+．如，^一^和，c一凡频率点上的上、下边带的幅值应大于GB／T22351．2—2010中8．1所定义的值。通过测试VcD发送GB／T22351．3中定义的合适的命令序列，可以获得VIcc信号或负载调制响应。7．3测试报告测试报告应给出在给定的场强和调制下所测得的在，c+^。、，c+凡、，c一，s-和，。一^z处的上、下边带的幅值。8vcD的功能测试8．1vcD场强和功率传输8．1．1目的本测试用于测量具有特定天线的vcD在其工作区域内的场强，其中天线的工作区域与基础标准一致。8．1．2的测试规程也用于确定具有特定天线的vcD产生的场强不高于GB／T22351．1中规定。测试使用附录D中定义的参考VIcc，以确定被测试的VcD能给处于工作区域中任何位置的vIcc提供一定的能量。8．1．2测试规程8．1．2．1H⋯测试的规程：a)把跳线儿切换到a，激活R1；b)调谐参考vIcc到13．56MHz；注：参考vIcc的谐振频率，可以使用连接了校准线圈的阻抗分析仪或者LcR_表进行测量。测试VIcc的线圈应放置在校准线圈3mm(士10％)处，两个线圈在同一轴线上。测量到阻抗电抗部分最大时的频率即为谐振频率。c)把跳线儿切换到b，激活Rz；d)将测试vcD装置设置为产生H⋯的工作条件，通过调节如校准参考VIcc，使得VDc一3V；e)将参考VIcc放置在被测VcD定义的工作范围内；f)用一只高阻抗电压表所测得的R。两端的直流电压VDc应不超过3V。8．1．2．2H⋯测试的规程：a)把跳线J1切换到a，激活R，；b)调谐参考VICC到13．56MHz；c)将测试VcD装置设置为产生H。。的工作条件，通过调节R-校准参考VIcc，使得VDc一3V；d)将参考VIcc放置在被测VcD定义的工作范围内；e)用一只高阻抗电压表测量电阻器R。两端的直流电压(yDc)应超过3V。7 www.bzfxw.comGB／T17554．7—20108．1．3测试报告测试报告应给出在规定的状态下H⋯和H一处所测得的vDc值。8．2调制指数和波形8．2．1目的本测试是用来确定VcD场的调制指数，以及其在GB／T22351-2—2010中图1和图2定义的上升时间值、下降时间值及过冲值。8．2．2测试规程校准线圈放置在规定的工作区域中的任何地方，调制指数和波形特性根据示波器上所显示的感应电压来确定。8．2．3测试报告测试报告应给出vcD场的调制指数测量值，以及其在GB／T22351．2—20lo图1和图2定义的上升时间值、下降时间值及过冲值。8．3负载调制接收本测试可用来验证VcD是否能正确地检测到符合基础标准的VIcc的负载调制。假定VcD能示出已正确接收到测试VIcc产生的副载波。附录E所示的连接测试仪器的电路用于测试在定义的工作区域中VcD的负载调制接收灵敏度。9VIcc的工作场强测试9．1目的本测试的目的是检验VIcc在GB／T22351．2—2010中6．2规定的工作区域(H⋯H～)内是否能正常进行预期操作。9．2测试过程采用图5的装置，将被测试的VIcc放置在DuT位置。VcD输出到vIcc位置的场强从H。。～H一范围内VcD发出命令，检验VICC是否有正确的响应。再将场强从H一～H⋯范围内VcD发出命令，检验VIcc是否有正确的响应。9．3测试报告测试报告VIcc在规定的工作场强范围内是否能正常进行预期操作。 www.bzfxw.com标准分享网www.bzfxw.com免费下载附录A(规范性附录)测试vCD天线A．1包括了阻抗匹配网络的测试vcD天线布局阻抗匹配网络的测试VcD天线布局如图A．1和图A．2所示。GB／T17554．7—2010单位为mm(绘图未按比例)天线线圈印制线宽度为1．8mm(除过孔)。从阻抗匹配网络开始，每隔45。有交迭。PcB：1．6mm厚的FR4材料，双面35“m镀铜。图A．1包括阻抗匹配网的测试VcD天线版图(正视图)注：阻抗匹配网络布局可采取其他形式。阻抗匹配网络9 GB／T17554．7—2010A．2阻抗匹配网络图A．2天线版图(反视图)天线阻抗与信号发生器输出阻抗(50n)通过匹配电路来适配(见图A．3)。电容器c。，cz和cs均有固定的值。输入阻抗相位可使用可变电容器ct来调整。注1：应保证最大电压和最大功耗在各元器件的规定范围内。线性低失真可调50n功率驱动器应能够发出适宜的信号序列。调制度应在10％～30％和95％～100％的范围内。调节输出功率使场强达到150mA／m～12A／m。当超过上限5A／m，则应注意其操作。调节c。使其输出电阻为(50土5)n，相角为(o土5)。。注2：元器件表给出了主要元器件的典型值，为达到更精确的效果可以对其进行微调。10元件表值单位C147pFC2180pFC333pFC42～27pF5×4．7R酬n(并联)图A．3阻抗匹配网络 标准分享网www.bzfxw.com免费下载附录B(资料性附录)测试VCD天线调谐GB／T17554．7—2010图B．1和图B．2示出了相位调谐规程的步骤，以匹配天线阻抗与驱动发生器阻抗。调谐后的信号发生器将直接连接到天线用于测试。步骤1：把高精度50n电阻器(例如，50nBNc电阻器)插入信号发生器输出和天线连接器之间的信号线上。把示波器的两探针连接到此串联参考电阻器两端，设置为ⅪY扫描时，则示波器显示李萨茹图(Lissajousfigure)。把信号发生器置为：波形：正弦；频率：13．56MHz；幅度：2V(rms)～5V(rms)。输出采用另外一个50n的高精度电阻器。并联连接到输出端的探针应该具有很小的寄生电容c，。n。当c。m—cp一，与参考电阻器并联的校准电容器电容c。z补偿了探针电容。当李萨茹图完全闭合时，则探针电容得到补偿。图B．1校准装置(步骤1)注：探针必须靠近地线，以避免磁场所引起的感应电压。步骤2：把匹配电路连接到天线输出。在天线板上的电容器c。用来将相位调谐到o。应的角度校准电阻器50o GB／T17554．7—201012厂图B．2校准装置(步骤2) 标准分享网www.bzfxw.com免费下载c．1传感线圈版图传感线圈的版图如图C．1所示。附录C(规范性附录)传感线圈GB／T17554．7—2010单位为mm(绘图未按比例)印制线宽度o．5mm，相对容差士20％(除过孔)。线圈的尺寸系指外尺寸。PcB：1．6mm厚的FR4材料，双面35“m镀铜。图c．1传感线圈版图c．2传感线圈组件传感线圈组件如图c．2所示。13 图c2传感线圈组件 标准分享网www.bzfxw.com免费下载附录D(规范性附录)用于VcD功率测试的参考VIccGB／T17554．7—2010参考VIcc的电路如图D．1所示，表D．1示出了图D．1中D1、D：、D。和D。的基本特性。C元器件清单b：最大局强元器件值L(线圈)见6．3．5C1寄生电容<5pFC22⋯10pFC327DFC410nFDl、D2、D3、D4性质见表D．1(BAR43或等价)Rl11knR291nR3100k0图D．1参考vIcc的电路图注：元器件清单给出了R-和Rz的典型值，为达到更精确的效果可以对其进行微调(见8．1．2)。表D．1D，、D2、D3、D。的基本特性测试条件符号类型最大值单位Z一25℃yFI。一2mAO．33VCVR一1V，7pFF一1MHz15‰ GB／T17554．7—2010表D．1(续)测试条件符号类型最大值单位z一25℃fⅡfF一10mA，5k—10mA，f。一1mAVr：正向压降yn；反向压降fr：正向电流Jn：反向电流f。：反向恢复时间j。：反向恢复电流t：结温F：频率C：结电容16 标准分享网www.bzfxw.com免费下载附录E(资料性附录)用于负载调制测试的参考VIcc用于负载调制测试的参考vICc电路如图E．1所示。GB／T17554．7—2010为了要求的仿真可调整下列元器件元器件功能值c2调整谐振点2pF～10pFC“1，C。“电容性调制3．0pF～120pFRⅢR。n电阻性调制1000～2．7kn元器件清单元器件值Rl11knR291nR3100knD1、D2、D3、D4同附录D中的表n1L见6．3．5Cl寄生电容<5pFc327pFc‘10nFN。，N。NMOs低寄生电容晶体管图E．1用于负载调制测试的参考VIcc电路图17 GB／T17554．7—201018附录F(资料性附录)频谱计算程序下面给出一个用c语言编写的频谱计算程序示例：／★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★／／★★★Thlsprogramcalculatesthefourlercoefficlents★★★／／★★★。floadmodulatedvoltageofaVIccaccordl“g★★★／／★★★theIs0／IEc10373—7TestⅢethods★★★／／★★★Thecoefficlentarecalculatedforthefreq"lency★★★／／★★★carrier：135600MHz★★★／／★★★Subcarrler：42375kHz／484286kHz★★★／／★★★see#defineNFsuB：3228★★★／／★★★Uppersidebarld13．9838删z／14．0443MHz★★★／／★★★Lowersideband：131363MHz／13．0757衄z★★★／／★★★★★★★★★击★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★女女★女／／★★★Input；★★★／／★★★FileincsVForⅢatcontainingatableoftwo★★★／／★★★colu叽s(timeandtestVcDoutputvoltagevd，clause7)★★★／}女女★★★t}／★★★datafo功atofinput-file：★★★／|★★★⋯一⋯★★★}／★★★一onedata_pointperline：★★★／／★★★{time[sec。nds]，sense_coil_v。ltage[volts])★★★／／★★★一contents1nAscII，noheaders★★★／／★★★一da协pointsshallbeequldistanttime★★★／／★★★一minlmuⅢsaⅢplingrate：100Msamples／sec。nd★★★／／★★★一modulationwaveformcentred★★★／／★★★(maX．tolerance：halfo￡subc缸rlercycle)★★★／{★★★★★{{／女士★”screemshotofcentredⅢodulatior-waveform★★★／／★★★with8subcarriercycles”：★★★／}卡卡★★★★{／★★★珏珏】()[xXxX蕊职H珏珏强】D亡盘xxj。口0000。【★★★／／★★★珏j。(xxxxXx】口【Ⅺ【Ⅱ】口【鼯珏)口【】口【xxⅨ珏)。。。c★★★／／★★★xxxxxxKxxx∞ooao口日口ooo口口口口口口口口口口口口口口口ooDoD【x)。0∞000。【★★★／／★★★xx】。。【xxxxⅪno口口oo口口。口口口口口口口口口口口口oo口ooooDoⅨ)。0000000。【★★★／／★★★xxxxxxxxxx)口口口ooooooo日口口口。口口。口口口口口口口口口oo口ⅨⅪ00000∞。(★★★／／★★★)。Ⅸxxxx：。Ⅸ】口。口ooD口日口口口口口口口口口。口口口口口Ⅸ船口ooo口d0。【x船000。【★★★／／★★★)。()。c)。【xx蕊珏珏】。【强】0【瓢职Ⅱ】。c)00蚴★★★／／★★★戤)。【珏黝xx蹦】口【】q【HⅡ盈H珏)。【踊。(职★★★／／★★★卜⋯一⋯⋯⋯⋯cc⋯⋯⋯⋯⋯⋯l★★★／／★★★examplefor8preadsheetfile(startinn呲line)：★★★／／★★★(time)(voltage)★★★／／★★★300000e-06．100★★★／／★★★300200e_06，101★★★／}★★★．★★★7／★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★／／★★★RUN：Modtst7[file咖el[csv]filename[csv]]★★★／／★★★★★★★★★去★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★女★★★★★★★★★★★／#include#1nclude#1nclude 标准分享网www.bzfxw.com免费下载#include#deflneMAxsAMPLEs5000#defineLFs叩32oF／★sldebands：139838MHz／131363衄z★／／★#defineNFs皿280F／★sidebands：140443MHz／130757皿z★／floatpi；／★口1=314．★／／★Ar。rayfortimeandsensec01lvoltagevd★／fl。atnlme[MA】(一sA髓LEs]；／★tiⅢearray★／floatvd[MA)【一sA髓比s]；／★Ar‘ayfordiffereIltc。llvoltage★／GB／T17554．7—2010／★★★★士★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★／／★★★ReadcsvFileFunction★★★／}★★★女★卡}／★★★Descrlption：★★★／／★★★Thisfuncti叽readsthetableoftlmeandsensecoil★★★／／★★★∞ltagefromaFileincsvFo珊at★★★／i*★★*★★i／★★★Inp吐：filename★★★／{★★★丧★★i／★★★Retllrn；NumberofsaⅢples(samplecount)★★★／／★★★O1fanerroroccurred★★★／{÷女★女★★{／★★★D25plapstatistlcs：★★★／}★★★七★★{／★★★F1lename，samplecount，Samplerate，Ma)【／Minvoltage★★★／／★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★士★★★★★★★★★★★★★★★★★★／intreadcsv(ch盯★fname){floata．b：floatmaxVd，mln—vd；Intl：FILE★宕卸pl电一flle；／★★★★士★★★★★★★OpenF1le★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★／if(!strchr(fn锄e，，_，))strcat(fname，”csv”)；if((samph_file=fopen(frlaⅢe，”r”))==NuIL){Printf(”cannot。peninputfile％s＼n”，fname)；return0：)／★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★古★★★★★★女★★★★★★★★★★★★★★★★女★★★★★★★★★／／★ReadcsVFlle★／／★★★★士★★★★★★★★★★★★★★★★★★★女★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★／makvd=一l争9F；min—vd_-maxvd；i=0：while(!feof(s8Ⅲple_file)){if(1>；MAXsAmL∞)prIntf(”warni“g：Filetruncated!!!＼n”)；pr=Lntf(”Tomuchsampleslnfile％s＼b＼n”，fr】ame)；break：)fscanf(sample—file，”％f，％f＼n”，＆a，＆b)；vti巾e[1]=a；vd[i]=bi1f(vd[i]>m8x-vd)m8x_”d=vd[i]；19 GB／T17554．7—201020if(vd[1]