GBT 4585-2004 交流系统用高压绝缘子的人工污秽试验.pdf 23页

'ICS29.080.10K48I0中华人民共和国国家标准GB/T4585-2004/IEC60507:1991代替GB/T4585.1-1984,GB/T4585.2-1991交流系统用高压绝缘子的人工污秽试验Artificialpollutiontestsonhigh-voltageinsulatorstobeusedona.c.systemsGEC60507:1991，IDT)2004-05-14发布2005-02-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会 GB/T4585-2004/IEC60507:1991目次月J舀······························。································。。······················。。········。···············⋯⋯班第一节总则1范围··············································································································⋯⋯12目的···············································································································⋯⋯13定义··············································································································⋯⋯1第二节一般试验要求4试验方法·······································································································⋯⋯25被试绝缘子的准备···········································⋯⋯，..·········...........................⋯⋯36对试验设备要求··························································.....········...................⋯⋯3第三节盐雾法7盐溶液···········································································································⋯⋯48喷雾系统········································································································一59试验开始前的条件·····················.........··......................................................⋯⋯610预处理过程··················································································..···⋯⋯，...·⋯⋯611耐受试验·······································································································⋯⋯612耐受试验的接收准则·······························································........···............⋯⋯6第四节固体层法1勺1曰污液的组成····································································································⋯⋯61d.惰性材料的主要特性································································..·········..........⋯⋯8，尸10污层的涂覆··············，······················································································⋯⋯8，﹄b1被试绝缘子污秽度的测定········，································，·········......⋯⋯，...........⋯⋯‘.917es尸污层湿润的一般要求····················，···················，，··················.....······.............⋯⋯10，we卜乙试验程序··········································································..·····⋯⋯，.········.·⋯⋯10，0土目耐受试验和接收准则(对程序A和B都通用的........................................................⋯11附录A(资料性附录)评定试验设备是否要求的补充资料·..................................................14附录B(资料性附录)绝缘子耐受特性的测定···，·············，··········································⋯⋯15附录C(资料性附录)检验污层均匀性的污层电导率的测量···············，···················.....··⋯⋯17附录D(资料性附录)与固体层法程序有关的补充推荐············，····················，······.······⋯⋯19 GB/T4585-2004/IEC60507:199191舀本标准等同采用IEC60507:1991《交流系统用高压绝缘子的人工污秽试验》(英文版)。为便于使用，本标准做了下列编辑性修改:a)用小数点“’，代替作为小数点的逗号“，”;b)删除IEC60507:1991的前言。本标准代替GB/T4585.1-1984《交流系统用高压绝缘子人工污秽试验方法盐雾法》和GB/T4585.2-1991《交流系统用高压绝缘子人工污秽试验方法固体层法》本标准与GB/T4585.1-1984和GB/T4585.2-1991相比主要变化如下:—对试验设备的短路电流要求不同。GB/T4585.1和GB/T4585.2规定短路电流不小于10A,而本标准规定短路电流与被试绝缘子爬电比距有关，当爬电比距在16mm/kV至25mm/kV之间变化时，最小短路电流应在6A至15A之间变化才能满足要求;—本标准规定绝缘子盐雾法试验时应进行预处理(本标准的第10章)，而GB/T4585.1无此规定。—GB/T4585.2规定的染污方法包括有定量涂刷法，而本标准未规定此方法。—GB/T4585.2规定染污的污液有两种，其中的惰性材料一为硅藻土，另一为硅藻土和高度分散的二氧化硅本标准规定的染污污液有两种，其中一种与GB/T4585.2相同，所含惰性材料为硅藻土和高度分散二氧化硅，另一种所含惰性材料为高岭土(或砒石粉)。本标准的附录A、附录B、附录C、附录D均为资料性附录。本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国绝缘子标准化技术委员会归口。本标准起草单位:西安电瓷研究所、武汉高压研究所、重庆大学。本标准主要起草人:李大楠、吴光亚、蒋兴良、丘志贤。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:—GB/T4585.1-1984,GB/T4585.2-1991. GB/T4585-2004/IEC60507:1991交流系统用高压绝缘子的人工污秽试验第一节总则范围本标准适用于系统最高电压1kV-765kV范围内的交流系统用户外和暴露在污秽大气中的瓷和玻璃绝缘子的工频耐受特性的测定。这些试验不能直接应用于涂油绝缘子和特殊型式的绝缘子(具有半导电釉的绝缘子或覆盖有任何有机绝缘材料的绝缘子)。2目的本标准的目的是规定适用于架空线路、变电站、牵引线路绝缘子以及套管的人工污秽试验程序。定义为本标准的目的，规定了下列定义。3.1试验电压testvoltage在整个试验期间连续地施加到绝缘子上的电压的方均根值。3.2试验设备的短路电流(人)short-circuitcurrent(人)ofthetestingplant试品在试验电压下短路时由试验设备所供给的电流的方均根值。3.3绝缘子的爬电比距(Ls)specificcreepagedistance(Ls)ofaninsulator绝缘子的总爬电距离L除以试验电压与万的积;它通常以mm/kV来表示。3.4绝缘子的形状因数(F)formfactorofaninsulator(F)形状因数是由绝缘子尺寸确定的。为了图解估算此形状因数，应将绝缘子圆周的倒数值(1/P)对从绝缘子一端到所考虑点的局部爬电距离Z画出。形状因数由这个曲线下的面积给出并按下式计算:七产F一!﹄0盐度(民)salinity(凡)盐在自来水中的溶液的浓度，它由盐量除以溶液体积来表达;它通常以k郊mz来表示。3.6污秽层pollutionlayer由盐和惰性材料组成的绝缘子表面上的导电电解层。在绝缘子上污秽层的电导按16.1条测量。 GB/T4585-2004/IEC60507:19913.7污层电导率(K)layerconductivity污层的电导与形状因数的乘积;它通常以t}S表示。3.8附盐密度(SDD)saltdepositdensity(SDD)沉积在绝缘子一给定表面(金属部分和胶合材料不计人此表面)上的盐量除以该表面的面积(见16.2);它通常以mg/Cm,表示。3.9污秽度degreeofpollution表征施加在被试绝缘子上的人工污秽的量(盐度、污层电导率、附盐密度)的值3.10基准盐度referencesalinity表征某一试验所使用的盐度值。3.11基准污层电导率referencelayerconductivity表征某一试验所使用的污层电导率的数值;它定义为仅仅在进行电导测量时才带电的一绝缘子的潮湿污层的电导率的最大值3.12基准附盐密度referencesaltdepositdensity表征某一试验所使用的附盐密度的数值:它定义为从进行任一试验前污染了的绝缘子中选取的几个绝缘子(或它的几个部分)上测得的附盐密度的平均值。3.13规定的耐受污秽度specifiedwithstanddegreeofpollution绝缘子在相关的第11章或第19章规定的条件下，四次试验中至少有三次试验能耐受住规定试验电压的绝缘子的基准污秽度。3.14最大耐受污秽度maximumwithstanddegreeofpollution在相关的第11章或第19章规定的条件下，在规定的试验电压下四次试验中至少有三次试验能耐受住的最高污秽度3.15规定耐受电压specifiedwithstandvoltage施加到绝缘子上的试验电压，绝缘子在此试验电压和相关的第11章或第19章规定的条件下，四次试验中至少有三次试验能耐受住规定的污秽度3.16最大耐受电压maximumwithstandvoltage在相关的第11章或第19章规定的条件下，四次试验中至少有三次试验能耐受住规定污秽度的最高试验电压。第二节一般试验要求试验方法下列两种类型的污秽试验方法推荐为标准试验法:—盐雾法(第三节)，使用此法时绝缘子遭受到一确定的环境污染; GB/T4585-2004/IEC60507:1991—固体层法(第四节)，使用此法时在绝缘子表面上覆盖有一规定的固体污秽物，覆盖层相当均匀注:在这些试验方法中，电压在至少为几分钟的一段时间内保持不变。电压连续升高至闪络的方法不作为标准化的方法，但可以应用于特殊目的5被试绝缘子的准备5.1试验布置绝缘子应直立于试验室内，并完整地装上固定装在其上的金属附件。通常推荐采用垂直位置以比较不同型式的绝缘子。模拟实际运行条件的其他位置(倾斜、水平)条件下的试验经供需双方协议也可以进行。当有特殊的原因不应在垂直位置试验绝缘子(例如穿墙套管和电力断路器的纵向绝缘)时，最好考虑运行位置。除绝缘子的支持结构物以及喷嘴柱(当用时)以外，绝缘子的任一部件与任何接地物体之间的最小间距为每100kV试验电压不应小于0.5m，并且在任何情况下不应小于1.5m.支持结构以及带电金属部件的布置，至少在绝缘子的最小间距内应模拟运行中的预计情况。喷嘴的安排以及它的结构在第8章中叙述。至于电容效应对试验结果的影响，根据有效的经验可作如下考虑:—可认为附件不会明显影响试验结果，至少对450kV及以下试验电压时是如此;—内部的大电容对表面性能会有某些影响，特别是用固体层法试验时是如此。5.2绝缘子的清洗绝缘子应仔细地清洗以除去所有污物和油脂的痕迹。清洗后，手不应触及绝缘子的绝缘部件。注:如有必要，金属部件和胶合材料可以涂以抗盐水涂料以保证试验期间不致将锈蚀生成物洗落在绝缘表面上应使用加有磷酸三钠或其他清洗剂的水(最好将其加热到500C)进行清洗，然后将绝缘子用自来水彻底冲洗。如果看到了大片连续的湿表面就可以认为绝缘子表面已充分清洁并没有任何油脂了以后每次染污前，仅需用自来水对绝缘子再次进行彻底的清洗，以除去污秽物的所有痕迹。6对试验设备要求6.，试验电压试验电压的频率应在48Hz至62H:间。通常要求试验电压应与绝缘子在正常运行条件下能耐受住的最高电压(相对地值)相一致。对于设备，该值等于Um/，其中U}是设备的最高电压(见IEC60071-1《绝缘配合第1部分:术语、定义、原理和规则)}。当试验相对相配置或中性点绝缘的系统用绝缘子时，试验电压可高于此值。6.2最小短路电流人工污秽试验时要求试验设备应比其他型式的绝缘子的试验有较高的短路电流(I-)。这意味着此I,应具有随试验条件而变的一最低值;此外，对试验设备的其他参数也有要求。I-最低值(1-1.)以试验中的绝缘子的表面电应力的函数的形式给出在图1，此表面电应力以爬电比距L，来表达。除了I--的上述要求值以外，试验设备还应满足下面两个条件:电阻/电抗比(R/X)等于或高于。.1;电容电流/短路电流比(Idi)在。.001-0.1范围内。评定是否符合上述要求的判据的更详细的资料列于附录A,虽然试验设备的人值高于6A，但仍不能满足在图1中给出的极限值，污秽绝缘子规定耐受特性的检验(见第11和18章)或它的最大耐受特性的测定(见附录B)也还可以进行，只要电源的有效性能已用下面的检验方法直接确认 GB/T4585-2004/IEC60507:1991在该项研究的每个单独试验中应记录其最高泄漏电流脉冲的幅值，并从在耐受条件下能耐受住的三次试验结果中确定它的最大值(Ihm..)a此Ihm。值应符合下面的表达式:Isc/Ihm。二)11式中Isc是方均根值，而Ihm.是峰值。更进一步的细节见附录A.由于泄漏电流可用来解释试验结果，推荐配备适宜的装置以记录人工污秽试验期间泄漏电流。第三节盐雾法盐溶液盐溶液应由商业纯氯化钠(NaCl)和自来水配制。注:高硬自来水，例如等值Caco。含量高于350g/m"的自来水，可能会在绝缘子表面产生石灰石沉积物，此时推荐使用去离子水制备盐溶液。自来水的硬度以等值Caco,含量来测定.。盐度应从下列数值中选用:2.5,3.5,5,7,10,14,20,28,40,56,80,112,160和224kg/m".盐度最大允许误差为规定值的士5%.盐度推荐使用测量其电导率或密度并经温度校正的方法来测定。表1给出了温度20℃时，溶液的盐度、体积电导率和密度值间的对应关系。当溶液温度不是20℃时，电导率和密度值应校正。盐溶液的温度应介于(5^-30)℃之间，因为还没有经验来证明在这个溶液温度范围以外进行的试验的有效性。表1盐雾法:温度20℃时溶液的盐度、体积电导率和密度值间的对应关系盐度体积电导率密度S,/气o/么no/kg/m"S/mkg/耐2.50.433.50.6050.8371.15101.6142.2203.0284.11018.0405.61025.9567.61037.380101052.7112131074.6160171104.5224201140.0依据由G.Hawley修订的简明化学辞典—化学百科全书;VanNostrandReinhold公司。纽约(美国),1971, GB/T4585-2004八EC60507;1991电导率的校正可使用下列公式:。1=a,[1一b叨一20)]式中:0溶液温度，单位为度(℃);ao-温度0℃时的体积电导率，单位为西门子每米(S/m);6,o-温度20℃时的体积电导率，单位为西门子每米(S/m);b—取决于温度0的系数，给出于下:B/0Cb50.03156100.02817200.02277300.01905注:在5"C--30℃范围内的其他温度值，系数b可用内插法得到。密度校正应使用下列公式:△。="I"[1+(200+1.3Se)(0一20)X10-s]式中:0溶液温度，单位为摄氏度(℃);△。—温度0℃时的密度，单位为千克每立方米(kg/m");△。。—温度20℃时的密度，单位为千克每立方米(kg/m");S.盐度，单位为千克每立方米(kg/m").该校正公式仅对超过20k刃m“的盐度是有效的。8喷雾系统雾在实验室中由规定数量的喷雾器产生，它通过垂直吹向溶液喷嘴的压缩空气气流使溶液雾化。喷嘴由耐蚀管制成，空气喷嘴内径为1.2mm士。.02mm，而溶液喷嘴的内径为2.0mm士。.02mm。两种喷嘴的外径均为3.0mm士0.05mm，并且喷嘴的末端应切成直角并抛光。溶液喷嘴的末端应装在空气喷嘴轴线上，偏差在士0.05mm内。压缩空气喷嘴的末端和溶液喷嘴中心线间的距离应为3.0mm士0.05mm。两个喷嘴的轴线应位于同一平面上，偏差在士。.05mm内。图2示出了喷雾器喷嘴的一典型结构。喷雾器应排成两纵列，平行于绝缘子并排在其两侧，绝缘子的轴线在两纵列所构成的同一平面内，即对垂直的绝缘子试验时应排成垂直的两纵列，而对水平的绝缘子试验时排成水平的两纵列。在倾斜的绝缘子情况下(见图3)，包含绝缘子和两纵列的平面与水平面的交线应垂直于绝缘子的轴线;在此情况下，溶液喷嘴的轴线应是垂直的。溶液喷嘴和绝缘子轴线间的距离应为3.0m士。.05m.两个喷雾器间应相隔0.6m的间隔，每一喷雾器应与该纵列轴线的方向相垂直并朝向另一纵列的相应喷雾器，与喷雾器平面夹角在1“以内。对垂直的喷雾器是否符合此要求可这样核对;将溶液喷嘴降低，通水经空气喷嘴喷出，调节方向与对面喷来的方向一致，然后将溶液喷嘴升回至工作位置。绝缘子的中点最为与两纵列喷雾器的中点在一条直线上。两纵列应超出绝缘子每端至少。.6mo对于长度为H(以米计)的绝缘子，每一纵列喷雾器的最小数量N应为: GB/T4585-2004八EC60507:1991HIN=6.6十3应供给喷雾器相对压力为700kPa士35kPa的过滤无油空气试验期间每一喷雾器的溶液流量应为。.5dm"/min士。.05dm"/min，并且全部喷雾器的总流量允差应为标称值的士5%。9试验开始前的条件当绝缘子按5.2清洗后还完全潮湿时试验即应开始。试验开始时绝缘子应与试验室空气处于热平衡。另外，周围温度既不应低于5℃也不应高于40"C,并且它与水溶液的温差不应超过15K.将绝缘子加上电压，开动盐溶液泵和空气压缩机，一旦喷嘴处压缩空气达到正常操作压力时试验就可以开始10预处理过程对按正常方法准备好的绝缘子在基准盐度下施加试验电压持续20min或直至绝缘子闪络;如果绝缘子不发生闪络，则把电压每隔5min按10%试验电压逐级升高直至闪络。闪络后，重新施加电压并尽可能快地升高至先前得到的闪络电压的9000，然后每隔5min按初始闪络电压的5%逐级升高直至闪络。最后升压过程应再重复6次，每次都是将电压迅速升高至上次得到的闪络电压90%，然后每隔5min以5%的级差逐级升高至闪络经8次闪络后，去雾，用自来水清洗绝缘子，然后尽快开始进行耐受试验(见第11章)。预处理过程时电源的特性应不低于耐受试验时基准值(见第6章)。如果在基准盐度下执行预处理过程，要求有极高的电压时，允许使用较高的盐度值进行预处理。如果用这个方法所要求的电压还太高，则允许将绝缘子分成较短的部分用合适的方法分别进行预处理，以避免内绝缘(如果有的话，如在避雷器或套管的情况下)受到过电压。11耐受试验本试验的目的是验证绝缘子在规定试验电压下的规定耐受盐度。当试验绝缘子和试验室条件满足了第9章规定的要求并按第10章对绝缘子进行预处理后，试验就应开始。在规定试验电压下使用符合第7章的规定试验盐度的盐溶液对绝缘子进行一个系列的试验。如在这段时间内不出现闪络的话，每一次试验的持续时间应为1卜。每次试验前都应用自来水对绝缘子进行仔细的清洗12耐受试验的接收准则如按第11条规定的方法进行一个系列的三次连续试验期间没有出现闪络，则认为绝缘子满足了本标准。如果仅出现了一次闪络，则应进行第4次试验，并且如不再出现闪络则认为绝缘子通过了本试验。注:为了研究的目的，可以测定绝缘子的耐受特性。评定或检验该特性的作法列于附录B。第四节固体层法13污液的组成污液应按下面的两种混合物之一制备 GB/T4585-2004/IEC60507:199113.1硅藻土混合物其组成为:-100g硅藻土，见第14章;-10g高度分散的二氧化硅，颗粒大小21cm-v20pm;一一1000g自来水;—适量的商业纯NaCl当自来水的体积电导率高于0.05S/m时，推荐使用软化水。为了使试验时的绝缘子上达到其基准污秽度并符合规定偏差士15%要求，可以将所提交试验的绝缘子本身(或它的一部分)作初步的试验性的染污以确定所要制备的污液的体积电导率的适宜值所期望的体积电导率可通过调整污液中的盐量来达到。作为一个近似的参考值，后面的表2给出了绝缘子基准污秽度与温度20℃时污液的体积电导率间的近似对应关系。表2硅藻土混合物:绝缘子上基准污秽度和温度20℃时污液体积电导率间近似的对应关系硅藻土混合物的基准污秽度污液的体积电导率附盐密度污层电导率气/SDD/K,,/1,S(S/m)(m只/cm2)0.01760.025:，::0.0353::弓n0.050︺::八内既巧0.0705‘内20q口0.1lR匕0.141卜O己02口一:13.2高岭土(或硫石粉)混合物其组成为:—40g高岭土(或砒石粉)，见第14章;—1000g自来水;—适量的商业纯NaClo当自来水的体积电导率高于。.05S/m时，推荐使用软化水为了使试验时在绝缘子上达到其基准污秽度并符合规定偏差士15%要求，可以将所提交试验的绝缘子本身(或它的一部分)作初步的试验性的染污以确定所要制备的污液的体积电导率的适宜值所期望的体积电导率可通过调整污液中的盐量来达到。作为一个近似的参考，后面的表3给出了正常的周围条件下对标准盘形绝缘子垂直染污时的绝缘子基准污秽度与温度20℃时污液的体积电导率间的近似对应关系对其他绝缘子所要求的体积电导率可能与表3中给出值不同。 GB/T4585-2004/IEC60507:1991表3高岭土(或砾石粉)混合物:绝缘子上的基准污秽度与温度20℃时污液体积电导率间近似的对应关系高岭土混合物的基准污秽度污液的体积附盐密度电导率污层电导率SDD/叽。/K,,/1,5m"/gym5厂m0250350.050.070.1414.5n2811_214惰性材料的主要特性制备污液用的典型的硅藻土、高岭土和砒石粉的主要特性值范围给出在下面的表4,其他名称的惰性材料，只要其特性能与上面提到材料型式之一的范围相同，就可以用来代替那种型式材料表4固体层污液用惰性材料的主要特性颗粒分析重量组成/体积电导率(累积分布)/惰性材料%aZ。/产工们1的型式Sio,Al,O,FezO,H,O16%50%84硅藻土70-905一250.5一67-140.1^0.20.4-12-100.0015-0.02高岭土40-5030-400.3-27-140.1-0.20.4-12-100.0015--0.02砒石粉60^7010^-204^80.8--1.53-58-150.002^-0.01注1:颗粒分布表示的值是表列总质量百分数值的颗粒能通过的筛孔直径(p-).注2:惰性材料特性中的体积电导率是使用软化水测得的。15污层的涂覆将用第13章规定的混合物之一制备好的污液采用喷射或浇流的方法涂覆到预先按第5.2条清洗 GB/T4585-2004/IEC60507:1991过的干的绝缘子上，以得到一适当均匀的表层。也可以将绝缘子浸在污液中，只要其尺寸能适应其操作。注1:当目测检查均匀性不满意时，建议使用一种探头(见附录C)来检验此湿层。注2:人工污层可以经商业型式的喷枪的一个或两个喷嘴把制备的污液喷到绝缘子表面上来进行涂覆。喷雾器喷嘴的方向应调整得使整个绝缘子表面有一适当均匀的污层喷雾器喷嘴口与绝缘子伞缘间的距离约20cm-40cm时，可得到满意的结果。污液需要保持不断搅拌。所要求的绝缘子污秽度可通过反复地涂覆来得到注3:涂覆时间可因绝缘子的预先加热而减少。此时，染好的绝缘子应与试验开始时试验室空气处于热平衡。涂覆时间也可因在两次连续的涂覆中对污层进行烘干而缩短也可以使用其他的适当的涂覆方法。例如，当使用高岭土或砒石粉混合物时，可将准备好的污液浇流在绝缘子表面上直至它流出的作法(“浇染”技术)，这特别适用于大型的或很长的绝缘子.注4:对盐雾试验规定的预处理过程对固体层法是不需要的。详见D.1条。将绝缘子送去试验前应使污层干燥。详见D.2e16被试绝缘子污秽度的测定被试绝缘子的污秽度由污层电导率或附盐密度表示，它们按下面的方法测定。16.1污层电导率(K)正如已经提到的，污层电导率可通过在不带电绝缘子上测得的表层电导与它的形状因数的乘积算得。污层电导的测量在绝缘子湿润期间应反复进行，其目地是确定最大值是否达到。污层电导的每一次测量都由对该绝缘子施加按总爬电距离计每米不低于700V(r.m.s.)的电压和测量流过湿污层的电流两部分所组成。’施加电压的时间只需维持至能读出仪表读数即可。当施加较高值电压时，测量时间应缩短至足以避免由于污层的发热或干燥而引起严重的误差。为了这个目的应该校检脉冲波的频度及波幅，使其变化都不应影响到被测电流的波形。污层电导率应按下式换算至基准温度200CK2。一Ke[I一b(0一20门式中:0一绝缘子表面的温度(℃);K,-温度0℃时的污层电导率(IS);K20-温度20℃时的污层电导率(PS);b—在第7章已经定义过的因数。16.2附盐密度(SDD)沉积物应从与被试绝缘子相同的并按相同方法染污的一单独的绝缘子(或它的一部分)上取下，并仔细地收集起来。为了这个目的，应对该绝缘子的整个表面，或是上表面和下表面分别地清洗，但金属部件除外。详见D.6条当仅有一个可供试验用的圆柱形绝缘子时，附盐密度的测量可在它的几个伞上进行。测量后应对清洗过的表面用再涂覆污层的方法予以复原。选作SDD测量用的绝缘子(或它的一部分)在染污操作以后在污层干燥前应仔细地除去污滴，这样就可以避免由于污秽度评定对试验带来实际影响的误差然后将沉积物溶解在已知量的水中，最好使用软化水。得到的污液在温度e(0C)下测最体积电导率a,(S/m)前应至少保持搅动2min。然后按与第7章相同的关系式从ae求得a2。的值。当ai。在(0.004^-0.4)S/m范围内时污液的盐度S.(kg/ms)可按下式求得: GB/T4585-2004八EC60507:19915。=(5.7a,)然后按下式算得附盐密度SDD(m对cm"):S=·VSDO=式中:V—污液的体积(cm");A清洗表面的面积(cmz)o17污层湿润的一般要求应通过雾发生器来湿润试品，此雾发生器应能沿试品的整个长度和围绕试品提供均匀分布的雾。湿润开始时试品的温度与试验室内周围温度的差应在士ZK内。可用围绕试品的一个塑料帐篷来限定试验室的体积。在试验室中，雾发生器应保持一恒定的均匀的流速直至一次单个的试验结束。当污层达到一定的湿润程度以后，水分开始从绝缘子伞缘滴落;这样某些污秽就从污层中除去并预料会逐渐地冲洗试品18试验程序建议了两个供选择的程序，其根本的差别在于当试验电压施加于试品上的瞬间试品的污层状况不同，一个是湿的，一个是干的。关于这两个试验程序的主要规则给出于后。18.1程序A—带电前和带电期间湿润对于本程序，绝缘子使用硅藻土混合物(见13.1)或高岭土(或砒石粉)混合物(见13.2)染污。污秽度通常用污层电导率来表示，但也可以使用附盐密度。雾发生器起动时，将按第15章为本试验准备好的绝缘子置于试验室它的位置上。最好应使用蒸汽雾来湿润污层作为一个例子，图4示出了一种蒸汽雾发生器，它由带有等距离隔开的喷嘴的一个分配管构成。注:代替蒸汽雾也允许使用喷射热水或冷水的喷嘴(作为这个装置的一个例子见图2)产生的雾。只要那种雾能给出所推荐的均匀湿润当使用这种喷雾方式时，开始试验前使试品冷却可能是有利的。为了计算污层电导率，应按16.1测量被试绝缘子污层电导在正常周围温度下，输人雾室中的雾的流速应足够高，以使污层电导率在起雾开始后20min-40min内达到它的最大值口试验时测得的污层电导率的最大值作为基准污层电导率。然后瞬时地或在不超过5s的时间内对试品加上试验电压并维持至闪络.如不出现闪络则维持15min然后将绝缘子从雾室中取出并让它干燥。将这个试品第二次放人雾室中，由雾再次湿润直至污层电导率达到它的最大值;如果此时污层电导率不低于上面提到的基准值的90，可以再一次施加试验电压直至闪络，如果不出现闪络则维持15min边口果低于90%，则应按第15章对该绝缘子重新染污。同一污层的一个绝缘子可以进行不多于两次的连续试验18.2程序B—带电后湿润对于本程序，绝缘子使用高岭土(或砒石粉)混合物(见13.2)染污。污秽度通常用附盐密度(见16.2)来表示。注:通常不要求测量污层电导。经供需双方协议，也可以对与被试缘子(或是它的一部分)相同的并用相同方式染t口 GB/T4585-2004/IEC60507:1991污的一个单独的不带电的绝缘子在湿润期间测量其污层电导将按第15章为本试验准备好的绝缘子放人雾室中置于它的试验位置处，此时污层还是干的污层湿润应使用蒸汽雾雾发生器应在试品的下面并尽可能接近地面在所有情况下，它离试品应至少1m，并且雾的流动不应直接朝向试品。试验电压施加前，雾室中蒸汽雾输人速率应为零，施加试验电压后此速率应保持恒定。在正常周围温度下，蒸汽雾的输人速率应在(0.05士。.01)kg/h每立方米试验室体积范围内在特殊试验条件下，通过D.3中叙述的方法直接检验雾的湿润效应，这个值可能需要作某些调整。试验电压应维持至出现闪络。否则应从试验开始算起维持100min，或是直至其电流峰值(如果测量电流的话)持续下降至低于记录到的最大峰值的70%0详见D.4和D.5a对于本程序，污层仅能使用一次。19耐受试验和接收准则(对程序A和B都通用的)本试验的目的是检验在规定试验电压下的该规定耐受污秽度如果按18.1程序A或18.2程序B进行的三次连续的试验期间未发生闪络，则认为该绝缘子符合本标准。如仅出现一次闪络，则应进行第四次试验，如果不发生闪络，则认为该绝缘子符合本标准。注:为了研究的目的可以测定绝缘子的耐受特性。评定或检验这些特性的作法列于附录Bo占试/-1[1才瑞甚绪盛伶啊爬电比距L八mm/kV)图1对试验设备要求的最小短路电流人。。与被试验绝缘子爬电比距L，的关系(现有经验不足以给出对爬电比距高于25mm/kV时试验用的人‘.值) GB/T4585-2004/IEC60507:1991尺寸以毫米表示图2喷雾器喷嘴的典型结构 GB/T4585-2004/IEC60507;1991a—倾斜角图3倾斜绝缘子的试验布置1—低压锅炉容积约20L;2—电加热器12个加热线圈，每个3kW;3—给水调整器阀;4—压力补偿管;5—锅炉给水泵,50L/h,10`Pa;6—软水连接管;7—压缩空气连接管;8—可调式压缩空气减压闭;9—压力表。--5X105Pa;10—压缩空气阀，电气遥控;11-喷气嘴;7.5/16mm直径;12—多部件喷嘴管。三个喷嘴管，每个1.5m长，一个没有喷嘴的中间管，作升高装置用。离地总高11m;下面的管子内径120.-;管内径逐级地减小到上部管子的50mm;13-喷嘴，内径1.6mm;相邻喷嘴间距离30mm;14-塑料帐篷;15—试品。图4蒸汽雾发生器的典型布里 GB/T4585-2004/IEC60507;1991附录A(资料性附录)评定试验设备是否要求的补充资料研究了许多试验室提供的污秽绝缘子在耐受条件下(见附录B)所有单个耐受试验的整个期间出现的最高泄漏电流脉冲值Ih。下表给出了各种表面电应力水平和该试验设备规定的条件(第6章)下在任何试验位置和所有型式绝缘子上记录到的I、最大值(I-)。爬电比距"L.,/I,二a(峰值)/(mm/kV)A160.55200.85251.351)爬电距离除以试验电压与万的积。注:在比上面提到的条件更苛刻的条件，例如当闪络概率比耐受条件下一次耐受试验相应的闪络概率高的条件下试验绝缘子时，该Inma值可能会被超过在考虑I./,、比值时(I,的定义见6.2)，发现在该比值超过某极限值时，试验结果(即耐受电压或耐受污秽度，见附录B)就不再受该比值影响，这就可以在现有的试验室经验基础上确定该极限值在上表给出的表面电应力范围内这个极限值估计等于ii.至于比值I}/I,}，其规定极限一些试验设备通常都能符合。特别是其下限，会由于等值电源电容、集中电容(套管和电压分压器)以及回路中的杂散电容加在一起而达到 GB/T4585-2004/IEC60507:1991附录B(资料性附录)绝缘子耐受特性的测定第二、三和四节都涉及到在规定试验电压下规定耐受污秽度的检验问题。但是，一个绝缘子的特性也可以在一个电压范围内或者换句话说可以在绝缘子本身的一个爬电比距范围内进行测定。为了达到此目的，就应在不同电压水平下测量最大耐受污秽度，或者在一些另外的情况下要在各种基准污秽度值下测定最大耐受电压或50%耐受电压。这样一些评定方法的例子叙述于下。如有要求检验人工污秽试验室设备时，B.3给予了指导。B.1在一给定试验电压时最大耐受盐度的测定绝缘子应在一给定试验电压和按第7章列出的不同盐度下进行多次试验。试验应按第n章进行。这些试验可按任何顺序进行，只要:a)如任一盐度下的闪络总数达到2，就不应在相同的或较高的盐度下作进一步的试验;b)如耐受总次数达到3,就不应在相同的或较低的盐度作进一步的试验测定最大耐受盐度前，对绝缘子应进行预处理(见第10章)。注:当要做长时间的试验系列的试验时，每当绝缘子状况有需要时，可能有必要对绝缘子按5.2推荐的方法清洗并随后作预处理如果在盐度224kg/m"下记录到了四次耐受，那么就认为最大耐受盐度等于或大于224kg/m",如果在224kg/m"盐度下记录到一次闪络和三闪耐受，那么此盐度就应考虑作为最大耐受盐度。B.2在一给定基准污层电导率或一给定基准附盐密度下最大耐受电压或50耐受电压的测定B.2.1最大耐受电压对具有一给定基准污层电导率或基准附盐密度的绝缘子应进行一系列的试验。每次试验应在几个电压水平中取任一水平进行。这些电压水平中的每一个应大约为下面一个较低值的1.05倍。每次试验都应按第18章进行。试验可以按任何顺序进行，只要:a)如在任一电压下的闪络总次数达到2，就不应在相同的或较高的电压水平下作进一步的试验。b)如任一电压下的耐受总次数达到3,就不应在相同的或较低的电压水平下作进一步的试验。B.2.250%耐受电压绝缘子应在一给定基准污秽度下经受至少为10次的“有效的”试验，试验应按18.2进行。每一次试验时的施加电压水平应按升降法来改变。电压级差应约为预期的50%耐受电压的1000,与先前一些试验产生的效果不同的第一个试验应被选作第一个“有效的”试验。只有这一次试验和随后的至少9次试验才算作为有效的试验，并用它们来确定50%耐受电压。50%耐受电压应按下式计算:名(n,XU)U%N式中:以某一施加的电压水平;纵在相同施加电压水平U，下进行的试验的次数。N—有效试验次数有关升降法的进一步的细节以及该相关结果的处理见IEC60060-1(高电压试验技术第1部分:一般定义和试验要求》。注50%耐受电压常写成“50%闪络电压”。15 GB/T4585-2004/IEC60507:1991B.3参考悬垂式绝缘子的耐受值为了简化现有的或新的人工污秽试验室设备的检验，表B.1给出了几种参考悬垂式绝缘子的耐受特性值范围，这些值是基于海拔1000m以下地区的几个试验室的结果。这些结果是按本标准给出的推荐获得的。注给出在表B.I中的参考悬垂式绝缘子不能被看作它们的各自等级的代表品种。选取它们并不意味着对它们有好评或设想它们可能在试验中或在运行条件下会比其他类似型式有更好的性能刚开始进行人工污秽试验的试验室或是地处海拔超过1000m的试验室或是通常不使用前面提到的某一种试验方法的试验室，其相关结果可能会与表B.1给出的数值范围有某些差别。注:出版物IEC60060-1指出湿度校正不适用于人工污秽试验，并告知对那些试验的空气密度校正正在考虑中表B.1参考悬垂式绝缘子在人工污秽试验时的耐受特性值范围单串垂直布置 GB/T4585-2004/IEC60507:1991附录C(资料性附录)检验污层均匀性的污层电导率的测t测量绝缘子表面上湿层的污层电导率(K)装置主要由一个探头和一个仪表所组成。作为一个提示，下面叙述了这样一个装置的一种可能的结构。—探头(图C.1)两个球形的不锈钢电极，直径5mm，中心距14mm。这两个球从探头上伸出，用手把它们压向绝缘子表面。借助于一个能产生大约9N的力的弹簧机构来得到一个不变的表面压力。—仪表(图C.2)由6.8V齐纳二极管稳压的电压源供应电流通过两电极以及其间的表面，偏转满程为50IA的测量仪由并联的一个二级管保护。对于污层电导率为50KS薄膜，电极间的电阻假定为32.7kd2;对于100us和500[IS污层电导率的相应值为16.35k。和3.27kf1。这些电阻的每一个都与试验电池相连，并与两电极并联地插接。选择开关用来选择对各个测量范围的满表盘偏转。污层电导率的上述测量应在绝缘子表面的各不同点上进行。极化效应可以由快速按动仪表按钮来加以注意当测量值的每一个和它的平均值间的差，以平均值的百分率的表示不超过士30%范围时，则认为污层的均匀性是可以接受的。图C.1探头电极的布置(所有尺寸mm表示) GB/T4585-2004/IEC60507:1991肛︹1获洲量仪200盈r卜L口名0000卜2370人改6.8V探头电极200033001|100Q|oS一h/|﹂测量范围选择器测量仪充电率50pA内阻1.5kn图C.2仪表的回路图t8 GB/T4585-2004/IEC60507:1991附录D(资料性附录)与固体层法程序有关的补充推荐下面给出的补充推荐对固体层法的操作作了更深人的规定，提供了试验期间辅助控制的准则，防止在这方面还不熟练的专家可能出现的不准确的应用D.1和D.2是总则，剩下的D.3-D.6主要是对固体层法程序B的。D.1染污操作当使用喷涂或浇染法时，可以将绝缘子放人雾室置于它的试验位置上进行。当使用浸染法时绝缘子应在装人雾室前染污。如果绝缘子是多个元件串接组成的，其每个元件可以分开浸染。然后，在污染滴流期间使其轴线保持垂直，直到污层完全干燥为止。如果染污操作后发现在绝缘子上有污渍层，则应将其表面洗去并再次按5.2清洁。然后进行一次或多次的试验性染污，每次都应适当清洗，直到在绝缘子上得到一连续层。这时即可以对这个绝缘子进行试验。经验表明，通常几次重复操作足以使绝缘子表面满意地染污，而无需进行任何的预处理。D.2污层的干燥只要时间足够长(6h-8h)，绝缘子周围的相对湿度保持不高于700o，绝缘子的污层自然干燥就可以满足了。相对湿度比这个水平低时可以缩短干燥时间如果使用热空气加速污层的干燥，产生热空气的方法不应使在材料沉积方面影响绝缘子表面的受潮和污染程度。例如，某些火焰燃烧可以产生油物质，它可以阻止绝缘子表面的受潮。最后，热空气流的速度也应控制，以防止绝缘子表面的任何污层物质被带走D.3雾湿润效果的检查在户外温度很高或很低的情况下，特别是雾室热绝缘很差时，在高海拔地区或雾室中存在有湍流时，要求对被试绝缘子表面的湿润效果进行直接检查。为了实现这个目的，由表B.1标准盘形绝缘子至少2个元件构成的串作为一个模拟绝缘子，将其染污至SDD值等于。.07mg/cm，不带电地置于试验雾室中代替被试绝缘子，与其离地应具有相同的平均高度。使雾发生器象实际试验中一样喷雾，按16.1给出的方法测量经模拟绝缘子湿层流过的电流。及时监测污层电导的增大并与图D.1的参照曲线比较。如果需要的话，应重新调整雾的输人速率以保证测得曲线与参照曲线一致D.4试验室雾的输入雾应由敞开的水箱中沸腾水产生的蒸汽生成或由经大直径喷雾器喷嘴低速喷进的蒸汽来生成雾室中雾的输人仅在所产生的蒸汽达到它的稳定速率后才可进行。因此，当蒸汽是由水箱产生时，应加盖直至水内部达到沸腾点为止。放置绝缘子应使它周围的可见雾能尽可能地均匀。试验终结时在试品高度处测得的雾室温升不应超过15K.D.5耐受试验的最少持续时间一次最终认为是耐受试验的试验最短时间的直接评定可能在某些情况下可以使得时间短于18.2的规定。为此，在试验期间应在带电绝缘子上测量其电流波峰值。在达到最大峰值以后，由于受19 GB/T4585-2004/IEC60507:1991潮过程中污层受到冲洗电流脉冲减小。当电流峰值减少到持续地低于所记录到的最大峰值70%时，则认为该绝缘子耐受住了并且试验可以停止。D.6基准附盐密度(SDD)的测定应将污层从所选取的绝缘子面积上完全清除下来。为此应对那个表面擦洗至少连续三次。作为一个指导，为了溶解所收集到的沉积物，每平方米清沽表面可使用2L^-4L软化水。擦洗工作是否有效可用残余沉积物的测量来检验。每次浇污操作可使得绝缘子上表面与下表面分别测得的SDD值有某些差别。那样的差别是由于绝缘子形状和污液的种类(见第13章)两者所引起的。建议检验SDD的某一局部测量值和在绝缘子整个表面上的值间的比是否位于0.7-1.3范围内。爬电距离292-︵;:橄巾招划拭喂︶饰接收范围155气一q570甚迎灯试验时间/min图D.1蒸汽雾湿润效果的控制;在试验期间在所选取的模拟绝缘子(表B.1标准型)上记录污层电导'