GBT22093-2008电子数显内径千分尺.pdf 11页

'ICS17．040．30J42a目中华人民共和国国家标准GB／T22093--2008电子数显内径千分尺Internalmicrometerwithelectronicdigitaldisplay2008—06-25发布2009—01一01实施宰瞀髁紫瓣警襻瞥鐾发布中国国家标准化管理委员会“”。 刖昌本标准的附录A、附录B均为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC／TC132)归口。本标准负责起草单位：苏州麦克龙测量技术有限公司。本标准参加起草单位：成都工具研究所。本标准主要起草人：黄晓宾、张洪玲、姜志刚。GB／T22093--2008 电子数显内径千分尺GB／T22093--20081范围本标准规定了电子数显内径千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。本标准适用于分辨力高于或等于0．001mm，量程小于或等于100mm，测量范围上限至500mm的电子数显内径千分尺。测量范围500mm～6000mm的电子数显内径千分尺参见附录B。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB／T1216—2004外径千分尺GB／T1800．4—1999极限与配合标准公差等级和孔、轴的极限偏差表(eqvISO286—2；1988)GB／T2423．3～2006电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验(IEC600682—78：2001，IDT)GB／T2423．22—2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化(IEC60068—2—14：1984，IDT)GB42082008外壳防护等级(IP代码)GB／T17163几何量测量器具术语基本术语GB／T17164几何量测量器具术语产品术语GB／T17626．2—2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC61000—4—2：2001，IDT)GB／T17626．3—2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC61000-4-3：2002，IDT)3术语和定义GB／T17163、GB／T17164中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3．1电子数显千分尺数显装置electronicdigitalindicatingdevicesformicrometer利用角度传感器、电子和数字显示技术，计算并显示电子数显千分尺的螺旋副位移的装置。以下简称“电子数显装置”。3．2最大允许误差(MPE)maximumpermissibleerror由技术规范、规则等对电子数显内径千分尺规定的误差极限值。4型式与基本参数4．1型式电子数显内径千分尺的型式见图1、图2。图示仅供图解说明，不表示详细结构。 GB／T22093--20082测量面电子煎显装置锁紧装置微分筒测量面A1型涮量面长度接杆电子教显装置锁紧装霹微分筒测量面A2型A型：电子数显2点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线和测量面的位移同轴澍量面镪紧装置a)电子数显装置微分筒测力装置B型：电子数显2点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移平行测量面测头b)电子数显装置测力装置C型：电子数显2点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移垂直c)图1电子数显2点内径千分尺的型式示意图 GB／T22093--2008D型：电子数显3点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移垂直a)E型：电子数显3点内径千分尺，溺檄螺杆轴线与测量面的位移同轴，与角度传感器的轴线垂直b)图2电子数显3点内径千分尺的型式示意图4．2基本参数4．2．1电子数显内径千分尺测微螺杆的螺距宜为0．5mm或1mm。4．2．2A型、B型电子数显内径千分尺的量程宜为25nlExl，测量范围的下限宜为5mm或25mm的整数倍。4．2．3C型、D型、E型电子数显内径千分尺的{财量范围的下限宜为整数。5要求5．1外观5．1．1电子数显内径千分尺表面不应有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。5．1．2电子数显内径千分尺表面的镀、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。5．1．3电子数显装置的数字显示屏应透明、清洁，无划痕、气泡等影响读数的缺陷。5．2材料测微螺杆应选择合金工具钢、不锈钢或其他性能类似的材料制造；测量面宜镶硬质合金或其他耐磨材料。5．3相互作用5．3．1测微螺杆和螺母之问在全量程范围内应充分啮合，配合良好，不应出现卡滞和明显窜动。5．3．2D型、E型电子数显内径千分尺的量爪与槽或孔之间的配合应良好，且移动自如，不应出现卡滞，沿测量面轴线方向不应有明显摆动。5．4锁紧装置A型电子数显内径千分尺应具有锁紧装置。锁紧装置应能有效地锁紧测微螺杆。锁紧前后，两测量面间距离变化应不大于2pm。5．5测力装置B型、c型、D型、E型电子数显内径千分尺应具有测力装置。通过测力装置作用到测量面的测量3 GB／T22093--2008力应一致，测量力变化不应大于30％，同一生产厂的同一规格千分尺的测量力差别不应大于50％。5．6测量面5．6．1电子数显内径千分尺测量面宜为球形或圆柱形表面，其半径应小于测量范围下限的i／2。5．6．2测量面也可以是其他形状，以适合特殊测量任务的要求。5．6．3合金工具钢测量面的硬度不应小于760HVl(或61．8HRC)；不锈钢测量面的硬度不应小于575HV(或53HRC)。5．7测头和量爪c型、D型、E型电子数显内径千分尺可以配备数个测头或量爪，通过更换测头或量爪扩大测量范围。5．8长度接杆5．8。1A型电子数显内径千分尺可配备数个长度接杆以扩大测量范围。5．8．2长度接杆的基准面应一端为平面，另一端为球面。5．8．3长度接杆基准面的硬度不应小于760HVI(或61．8HRC)。5．8．4长度接杆基准尺寸的偏差不应大于js2(见GB／T1800．4--1999)。5．9深度接杆D型、E型电子数显内径千分尺宜配备深度接杆以扩大测量深度。接上深度接杆后需要重新校对。5．10校对装置5．10．1电子数显内径千分尺应提供校对环规或校对卡规。5．10．2校对环规或校对卡规基准面的硬度不应小于760HVl(或61．8HRC)。5．10．3校对环规或校对卡规上的标注尺寸的不确定度和圆柱度或平行度不应大于表1的规定。表1单位为毫米公称尺寸D标注尺寸的不确定度圆柱度或平行度1≤D<10士0．0013o．001lO≤D