GBT22094-2008电子数显测高仪.pdf 7页

'ICS17．040．30J42a国中华人民共和国国家标准GB／T22094--2008电子数显测Ej同仪Heightmeasuringinstrumentwithelectronicdigitaldisplay2008-06-25发布2009—01-01实施丰瞀粥紫瓣警雠瞥星发布中国国家标准化管理委员会“”’ 刖置本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC／TC132)归口。本标准起草单位：成都工具研究所、马尔精密量仪(苏州)有限公司。本标准主要起草人：李维国、姜志刚、唐以杰、何东星、王春。GB／T22094--2008 电子数显测高仪GB／T22094—20081范围本标准规定了电子数显测高仪的术语和定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。本标准适用于分辨力为0．1pm、0．2pm、0．5pm和1pm，量程不超过1000mm的电子数显测高仪(以下简称“测高仪”)。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB／T2423．3—2006电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验(IEC600682—78：2001，IDT)GB／T2423．22—2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化(IEC60068—2—14：1984，IDT)GB4208--2008外壳防护等级(IP代码)(eqvIEC529：1989)GB／T17163几何量测量器具术语基本术语GB／T17626．22006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC61000—4—2：2001，IDT)GB／T17626．3—2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC61000—4—3：2002，IDT)3术语和定义GB／T17163中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3．1电子数显测高仪heightmeasuringinstrumentwithelectronicdigitaldisplay利用传感技术和电子技术进行测量的立式数字化几何量测量仪器。用来测量平行平面之间距离、孔和轴直径、中心距以及相关的形位误差等。3．2正面垂直度frontalperpendicularity测高仪测头安装面与底座的垂直度为正面垂直度。4型式与基本参数4．1测高仪的型式见图1所示。图示仅供图解说明，不表示详细结构。 GB／T22094--2008图1测高仪型式示意图4．2测高仪分辨力和测量范围见表l的规定。表1分辨力／pm测量范围／mm0．1≤400o．2≤6000．51．0≤10005要求5．1外观测高仪不应有锈迹、碰伤、划痕以及其他影响使用性能的外部缺陷。5．2相互作用5．2．1测高仪在正常使用状态下，测头上下移动平稳，无阻滞，可停稳在量程内任意位置。5．2．2对于含有气泵托浮功能的测高仪，启动气泵后，可在光滑平板上轻松移动。5．2．3电气部分的开关、按键应灵敏可靠，工作正常。5．3控制器5．3．1功能键测高仪控制器的功能键应灵活、可靠；标注的符号或图文应清晰且含义准确。5．8．2数字显示屏测高仪控制器数字显示屏的数字显示应清晰、完整、无闪跳现象。5．3．3数值漂移测高仪控制器数字显示屏的数值漂移不应大于其分辨力。5．8．4通讯接口测高仪控制器宜设置通讯接口；制造商应能够提供控制器与其他设备之间的通讯电缆和通讯软件。2 GB／"r22094—20085．3．5防护等级(iP)测高仪控制器应具有防水、防尘能力，其防护等级不得低于IP40(见GB42082008)。5．3．6工作环境测高仪控制器应能在环境温度10℃～40℃，相对湿度不大于65％的条件下，进行正常工作。测高仪储存环境温度为--40℃～60℃。5．3．7抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力测高仪控制器抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力均不应低于1级(见GB／T17626．21998、GB／T17626．31998)。5．4测量力测高仪的测量力范围和测量力变化见表2的规定。表2重复性／分辨力／测量范围／测量力范围／测量力变化／正面垂直度误差／最大允许误差／N“m平面曲面0．1≤40060．2≤600o．5～1．8O．28士(2+L／300)1．01．50．5≤100010≤400101≤600O．5～2．10．515土(5+L／300)2．03．O≤100025l≤7000．5～2．1O．525土83．05．05．5正面垂直度误差测高仪正面垂直度误差不应大于表2的规定。5．6最大允许误差在满足检验环境要求，并使用出厂附带的标准测头条件下，测高仪示值误差不应大于表2的规定。5．7重复性测高仪重复性不应大于表2的规定。5．8最大响应速度测高仪的最大响应速度不应小于300mm／s。5．9底座测高仪底座表面粗糙度不应大于Ra0．4；平面度不应大于5pm，中间不应凸起。6试验方法6．1防水、防尘试验测高仪的防水、防尘试验应符合GB4208—6．2温度变化试验测高仪的温度变化试验应符合GB／T24236．3湿热试验2008的规定。22—2002的规定。测高仪的湿热试验应符合GB／T2423．31993的规定。6．4抗静电干扰试验测高仪控制器的抗静电干扰试验应符合GB／T17626．2—1998的规定。 GB／T22094--20086．5抗电磁干扰试验测高仪控制器的抗电磁干扰试验应符合GB／T17626．31998的规定。7检验方法7．1外观目力观察。7．2相互作用7．2．1上下移动滑块，要求顺畅无阻滞，并能停稳在任一位置，保持平衡。7．2．2启动气泵，移动测高仪是否平稳。7．2．3检查电气部分的开关、按键，要求灵敏可靠；控制器应工作正常。7．3数值漂移测头停在任意位置下，观察控制器数字显示屏数值在1h内的变化。7．4测量力使用分辨力小于0．01N的电子测力计，在量程范围内上下位置各测量5次测量力，取5次测量数据的平均值作为测量力；取5次测量数据的极差值作为测量力变化。要求测量力及测量力变化符合表2的规定。7．5垂直度误差将被检测高仪和垂直度小于0．006mm的直角尺放置于0级平板上，根据直角尺的检定数据对其修正；再将最大允许误差小于0．001mm的指示类仪器安装在测高仪上，使测头与直角尺正面接触，上下移动测头，取其最大变化值作为测高仪的垂直度，误差不应超过表2的规定。注：带电子补偿功能的测高仪，经过电子修正后，满足表2中垂直度误差要求，也视作垂直度合格。7．6示值误差在温度为20℃±0．5℃、温度变化小于0．3℃／h，湿度为50％～60％的检验条件下使用出厂附带的标准测头进行检验。将被检测高仪和0级量块或同等精度的其他长度标准器同时置于平面度小于2×(1-FL／1000)pm的岩石平板上，要求等温时间不小于24h。在每一检测点测量3次(取其平均值为测得值)，测得值与标准实际值代数差为示值误差，示值误差不应大于表2中最大允许误差要求。推荐检测点见表3。注：在测量范围内的任意位置，示值误差都应不大于表2中最大允许误差值。表3单位为毫米测量范围推荐检测点(量块尺寸)≤4001．02，1．04，1．06，1．08，1．1，1．3，1．5，1．7，1．9，20，60，100，200，300，350，400≤6001．02，1．04，1．06，1．08，1．1，1．3，1．5，1．7，1．9，20，60，100，200，300，400，500，6001．02，1．04，1．06，1．08，1．1，i．3，1．5，1．7，1．9，20，60，i00，200，300，400，500，600，700，800，≤i000900，10007．7重复性平面测量重复性：在测量范围内，重复测量同一平面同一点5次，所得的最大值与最小值之差为平面测量重复性，其误差不应超过表2的要求。曲面测量重复性：在测量范围内，重复测量同一衄面同一点5次，所得的最大值与最小值之差为曲面测量重复性，其误差不应超过表2的要求。7．8最大响应速度上下移动测头，在速度为300mm／s的情况下，测高仪能正常工作。4 8标志与包装GB／T22094--20088．1测高仪上至少应标志：a)制造厂厂名或注册商标；b)测量范围；c)分辨力；d)产品序号；e)防护等级高于IP40时，宜标有防护等级标志。8．2测高仪包装盒上至少应标志：a)制造厂厂名或注册商标；b)产品名称；c)测量范围。8．3测高仪在包装前应经防锈处理并妥善包装，不得因包装不善而在运输过程中损坏产品。8．4测高仪应附有产品使用说明书及标准附件。8．5测高仪经检验符合本标准要求的应附有产品合格证，产品合格证上应标有本标准的标准号、产品序号和出厂日期。'