GBT25633-2010电火花加工机床电磁兼容性试验规范.pdf 8页

'ICS25．080．99J59雷雪中华人民共和国国家标准GB／T25633—2010电火花加工机床电磁兼容性试验规范Electro-dischargemachines—TestspecificationI-0relectromagneticcompatibility2010一12一01发布2011一03一01实施宰瞀徽紫瓣警糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会促1” 标准分享网www.bzfxw.com免费下载刖昌GB／T25633—2010请注意本标准的某些内容有可能涉及专利。本标准的发布机构不应承担识别这些专利的责任。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国特种加工机床标准化技术委员会(sAc／Tc161)归口。本标准起草单位：苏州电加工机床研究所。本标准主要起草人：于志三、徐明、傅初森、王应。 www.bzfxw.com电火花加工机床电磁兼容性试验规范GB／T25633—20101范围本标准引用GB4824—2004、GB／T6113．201～2008、GB／T6113．203—2008规定了对电火花加工机床进行电磁骚扰限值测量的要求和方法。本标准规定了电火花加工机床抗扰度试验方法。本标准适用于电火花加工机床(包括电火花成形机床、单向及往复走丝型电火花线切割机床、电火花小孔高速加工机床及其他电火花加工机床)的电磁骚扰限值测量试验和抗扰度试验。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB／T4365—2003电工术语电磁兼容[IEc60050(161)：1990，IDT]GB48242004工业、科学和医疗(IsM)射频设备电磁骚扰特性限值和测量方法(cISPR11：2003，IDT)GB／T6113．201—2008无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第2—1部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法传导骚扰测量(cIsPR16—2—1：2003，IDT)GB／T6113．2032008无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第2—3部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法辐射骚扰测量(cIsPR16—2—3：2003，IDT)GB／T14896．1特种加工机床术语第1部分：基本术语GB／T14896．2特种加工机床术语第2部分：电火花加工机床GB，7T17626．2—2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEc6looo一4—2：2001，IDT)GB／T17626．3—2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEc61000一4—3：2002，IDT)GB／T17626．4—2008电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(IEc61000一4—4：2004，IDT)GB／T17626．5—2008电磁兼容试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度试验(IEC61000一4—5：2005，IDT)GB／T17626．8—2006电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验(IEc61000一4—8：2001，IDT)GB／T17626．11—2008电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验(IEC61000一4—11：2004，IDT)3术语和定义GB／T43652003和GB／T14896．1、GB／T14896．2确立的术语和定义适用于本标准。】 www.bzfxw.com标准分享网www.bzfxw.com免费下载GB／T25633—20104抽样和试验规则4．1抽样4．1．1成批生产的电火花加工机床设备，应从产品检验批中抽取样品进行测量。4．1．2可以抽取单个样品，也可抽取多个样品。4．1．3产品检验批由同时具备下列条件的产品构成：a)符合产品标准或技术规范其他要求；b)系列相同；c)电磁兼容性防护措施相同。4．1．4试制样机、单个生产的设备可直接进行测量。4．2试验规则4．2．1本标准所规定的所有试验均应用于型式检验。4．2．2试验按整机进行。5电磁骚扰限值的测量匪＼压H雏 www.bzfxw.com咤：卜惰GB／T25633—2010图2电磁辐射骚扰电压限值测量布置图5．3．2．2近距离测量时，被测机床和天线之间不应有其他测量仪器设备。被测机床的布置应尽可能与正常使用时一致。5．3．2．3测量天线符合GB4824—2004中6．2．4的测量要求，应按有关标准要求选用和布置各个测量波段的测量天线。5．3．3测量距离测量时机床与接收天线之间的距离为10m。5．4测量结果及评定5．4．1评定指标5．4．1．1端子骚扰电压限值应符合GB4824—2004中表2a的规定值。5．4．1．2电磁辐射骚扰电压限值应符合GB4824—2004中表5b的规定值。5．4．2合格评定规则5．4．2．1被测机床的合格评定按GB4824—2004中第11章的规定。5．4．2．2对于预制产品和试制样机，测得的端子骚扰和电磁辐射骚扰各频段骚扰电压值应不大于规定的允许值，才可评定为合格。5．4．2．3测量的值在某一频段内超过标准规定的允许值，则评定为不合格。6抗扰度试验6．1概述6．1．1电火花加工机床的抗扰度试验包括：静电放电抗扰度试验、射频电磁场辐射抗扰度试验、电快速瞬变脉冲群抗扰度试验、浪涌(冲击)抗扰度试验、工频磁场抗扰度试验及电压暂降、暂时中断和电压变化的抗扰度试验。6．1．2各抗扰度试验应按相应国家标准进行，同时应结合本标准所做的选择实施。6．1．3各抗扰度试验均在机床正常加工状态下进行。6．2静电放电抗扰度试验6．2．1试验电平试验电平如下：——对于接触放电：4kv；——对于空气放电：8kv。6．2．2试验设备试验设备采用静电放电发生器。6．2．3试验配置6．2．3．1一般应选用在实验室进行的型式(适应性)试验。鉴定试验或样机试验可采用在最终安装条件下对设备进行的安装后试验。6．2．3．2试验配置按GB／T17626．2—2006中7．1和7．2的规定。3 www.bzfxw.com标准分享网www.bzfxw.com免费下载GB／T25633—20106．2．4试验程序试验程序按GB／T17626．2～2006中第8章的规定。6．3射频电磁场辐射抗扰度试验6．3．1试验电平试验电平为10V／m。6．3．2试验设备试验设备推荐采用：——等效于电波暗室条件的试验场；——电磁干扰(EMI)滤波器；——射频信号发生器；——功率放大器；——发射天线；——记录功率电平的辅助设备。6．3．3试验布置6．3．3．1试验一般应在被测机床的实际工作状态下进行，布线按机床制造商的产品说明书的规定进行。6．3．3．2试验布置按GB／T17626．3—2006中第7章的规定。6．3．4试验程序试验程序按GB／T17626．3—2006中第8章的规定。6．4电快速瞬变脉冲群抗扰度试验6．4．1试验电平试验电平如下：——对电源端：2kV；——对信号端：1kV。注：电源端指由导体或电缆输送电器与其相连的并联设备运行所需主要电能的接口。信号端指由导体或电缆传送与设备相连的数据或信号等信息的端口。可应用端口在产品标准中规定。6．4．2试验设备试验设备推荐采用：——接地参考平面；——耦舍装置(网络或耦舍夹)；——去耦网络；——电快速瞬变脉冲群发生器，包括校准和测量装置。6．4．3试验布置6．4．3．1优先选用在实验室进行的型式试验。鉴定试验或样机试验可采用在最终安装条件下对设备进行的安装后试验。6．4．3．2应按照制造商的产品使用说明书布置被测机床。6．4．3．3试验布置按GB／T17626．4—2008中第7章的规定。6．4．4试验程序试验程序按GB／T17626．4～2008中第8章的规定。6．5浪涌(冲击)抗扰度试验6．5．1试验电平试验电平如下：——线对地：2kV；4 www.bzfxw.com——线对线：1kV。6．5．2试验设备试验设备推荐采用：——信号发生器；——辅助设备；——电缆；——耦合／去耦网络及保护装置。6．5．3试验布置根据试验项目按GB／T17626．52008中第7章的规定进行布置。6．5．4试验程序试验程序按GB／T17626．5—2008中第8章的规定。6．6工频磁场抗扰度试验6．6．1试验电平试验电平为30A／m。6．6．2试验设备试验设备推荐采用：——试验发生器；——感应线圈和辅助试验仪器。6．6．3试验布置6．6．3．1试验应在被测机床的正常加工状态下进行。6．6．3．2试验布置应按GB／T17626．8—2006中第7章的规定进行。6．6．4试验程序试验程序按GB／T17626．8—2006中第8章的规定。6．7电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验6．7．1试验要求6．7．1．1电压暂降试验要求见表1。GB／T25633—2010表1电压暂降试验优先采用的试验等级和持续时间(50Hz／60Hz)试验等级0％O％40％70％80％50Hz60Hz50Hz60Hz50Hz60Hz持续时间O．5周期1周期10周期12周期25周期30周期250周期300周期l6．7．1．2短时中断试验要求见表2。表2短时中断试验优先采用的试验等级和持续时间(50Hz／60IIz)试验等级0％50Hz60Hz持续时间250周期300周期6．7．2试验设备试验设备推荐采用：——试验发生器；——电流监视器；——电源。6．7．3试验布置6．7．3．1布线按机床制造商的产品说明书的规定进行。 www.bzfxw.com标准分享网www.bzfxw.com免费下载GB／T25633—20106．7．3．2包括以下两类试验：——电压暂降和短时中断；——额定电压和变化后的电压之间有过渡过程的电压变化(供选择)。6．7．4试验程序试验程序按GB／T17626．11—2008中第8章的规定。6．8试验结果和试验报告6．8．1试验结果按被测机床的运行条件和功能规范进行如下分类：a)在技术要求的限值内的性能正常；b)功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复；c)功能或性能暂时降低或丧失，但需操作人员干预或系统复位才能恢复；d)因设备(元件)或软件的损坏或数据的丢失而造成不能自行恢复至正常状态的功能降低或丧失。6．8．2设备不应由于进行本试验而出现危险或不安全的后果。6．8．3如机床在整个试验期间显示符合其抗扰度要求，且在试验结束后满足技术规范中的功能要求，则表明试验合格。6．8．4试验报告应包含能够重复测试的所有必要的信息。特别要记录以下信息：——试验程序要求的、在测试项目中规定的项目；——被测设备和任何有关设备的标识，例如，商标名称、产品型号、序列号；——被测设备的尺寸；——被测设备具有代表性的工作条件；——内连接电缆的类型，包括电缆的长度和连接在被测设备上的界面端口；——任何对于使用的特定条件，例如电缆的长度和类型，屏蔽或接地，或被测设备运行状况等；——如果必要，提供被测设备的恢复时间；——所使用的测试设备的类型，以及被测设备、辅助设备、耦合和去耦网络的位置；——测试设备的标识，包括商标名称、产品型号、序列号；——每根电缆上所使用的耦合和去耦装置，及它们之间电缆的长度；——对于每个注入端口，标明哪些去耦装置由50n阻抗端接；——描述被测设备的运行方式；——任何必要的、能够使测试运行的特殊条件；——测试的频率范围；——所采用的测试等级；——有制造商、需求方和买方定义的性能水平；——所采用的性能判据；——在测试干扰施加过程中或之后，被测设备上观察到的任何效应和该效应持续的时间；——合格／不合格判定的基本原理(基于安全标准、其他通用标准、产品标准中规定的性能判据，或制造商与买方之间的共识)。'