GBT14506.28-1993硅酸盐岩石化学分析方法X射线荧光光谱法测定主、次元素量.pdf 7页

'免费标准网(www.freebz.net)UDC549D53疡臀中华人民共和国国家标准GB/"r14506.1.14506.28-93硅酸盐岩石化学分析方法Methadsforchemicalanalysisofsilicaterocks1993一06一19发布1994一02一01实施国家技术监督局发布免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载 免费标准网(www.freebz.net)中华人民共和国国家标准硅酸盐岩石化学分析方法X射线荧光光谱法测定主、次元素量GB/T14506.28一93Silicaterocks-Determinationofcontentsofmajorandminorelements-X-rayfluorescencespectrometricmethod主题内容与适用范围本标准规定了硅酸盐岩石中主、次成分的测定方法。本标准适用于包括超基性岩在内的硅酸盐岩石中二氧化硅、三氧化二铝、全铁(以Fe刀3表示)、氧化镁、氧化钙、氧化钠、氧化钾、二氧化钦、氧化锰、五氧化二磷、氧化钡、三氧化二铬、镍、铜、银和铅的测定，也适用于粘土、土壤、水系沉积物等地质样品中上述成分的测定。测定范围见表1,表1测定范围%组分测定范围一测定范围Na,O0.3^-7}Cr,O,0.005-1.5MgO0.2-41}MnO0.02^-0.32A1,0,0.3-36}Fe,0,0.3^-24SiO219^-98一BaO0.02^-0.21P,O,0.01^-0.95一0.002^0.25K,O0.1-7.4}0.002^0.12CaO0.1^-20}0.005^-0.12Ti0,0.02-7.5}0.009^0.15本标准遵守GB/T14505的规定。2引用标准GB/T14505岩石和矿石化学分析方法总则及一般规定GB/T14506.1硅酸盐岩石化学分析方法重量法测定吸咐水量方法提要试样用无水四硼酸锉熔融，以硝酸按为氧化剂，加氟化铿和少量澳化锉作助熔剂和脱模剂。试样与国家技术监督局1993一06一19批准1994一02一01实施免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载 免费标准网(www.freebz.net)GB/T14506.28一93熔剂的重量比为1:8。在熔样机上于1150-1250"C熔融，制成玻璃样片。用x射线荧光光谱仪进行测量。除镍、铜、银和钻用康普顿散射线作内标校正基体效应外，其余各分析元素均用理论a系数校正元素间的吸收一增强效应。4试剂4.1无水四硼酸锉:在700"C灼烧2h,4.2氟化锉:在105,C烘2-4h,4.3硝酸钱:在1050C烘2-4h,4.4澳化铿溶液:15g/L,5仪器5.1铂一金合金增涡(95%Pt+5%Au)。规格:30mL,若试样在增竭中熔融后直接成型，则要求柑祸底面内壁平整光滑。规格:上端内径45mm，下端内径33mm，高25mm,5.2铂一金合金铸模(95%Pt+5%Au)。规格:上端内径34mm，下端内径32mm，高3mm,铸模材料厚度约lmm，使其不易变形。铸模定期用粒度为14Km的金钢砂软膏抛光，使玻璃片易从铸模中剥离而不破裂。5-3熔样机自动火焰熔徉机或高频电感熔样机。若用其他类型熔样机，温度不得低于11500C,5.4波长色散x射线荧光光谱仪:端窗锗把x射线管(功率3kw),6试样6.1试样粒度应小于74pm,6.2试样应在105℃预干燥2-4h，置于干燥器中，冷却至室温。6.3对易吸水的岩石，应取空气干燥试样，在称样的同时按GB/T14506.1进行吸附水的测定。最终以干态计算结果。了分析步骤7.1测定数量同一试样，在同一实验室，应由同一操作者在不同时间内进行2-3次测定。了.2试样称取0.700Og试样，精确至0.0001g.7.3校正试验随同试样分析同类型的标准试样。7.4测定7-4-，试样片的制备7.4-1.1混合将试样(7.2)置于25mL瓷增竭中，加人5.200士0.OOlg无水四硼酸铿(4.1),0.400士0.OOlg氟化锉(4-2)和0.3。士0.Olg硝酸按(4-3)搅拌均匀，移入铂一金合金增涡中。7.4.1.2烘干加入1mL澳化铿溶液(4-4)。将柑锅置于电热板上烘干。7.4.1.3熔融将柑竭置于自动火焰熔样机上，盖上增锅盖，以丙烷气为燃气，氧气助燃，于1150^-12500C熔融免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载 免费标准网(www.freebz.net)GB/T1450628一9310-15min.熔融过程中要转动柑祸，使粘在增竭壁上的小熔珠和样品进人熔融体中。每隔一定时间，熔样机自动摇动柑祸，将气泡赶尽，并使熔融物混匀。7.4.1.4浇铸二在铸模中浇铸成型。熔样机自动将增塌内熔融物倾入已加热至800℃的铸模中。移离火焰，通压缩空气冷却。已成型的玻璃圆片与铸模剥离。b.在增竭内直接成型。熔融物也可在增竭内冷却直接成型。玻璃样片与增塌自然剥离。7.4.1.5样片的保存取出样片，贴上标签，放于干燥器内保存，防止吸潮和污染。测量时，只能拿样片的边缘，避免x射线测量面的沽污。7.4.2标准化样片的制备选择某些分析元素含量适中的国家级标样作为标准化试样，以下按第7.4.1.1-7.4.1.5条步骤制备成样片。7.4.3x射线荧光光谱分析7.4-3.1测量条件在x射线管电压为5okV，电流为50mA，粗狭缝，视野光栏直径为30mm条件下，各分析元素的测量条件见表2。表2测量条件分析20角(度)计数时间，5干扰元素分析线探测器PHA"衰减器谱线晶体峰值幻背景峰值背景NaK.TAP55.1558.5010040F-PC"7^-351MgK.TAP45.174810020F-PC7^351CaK.IAIK.PET144.701402010F-PC7^-351SiK.Sbln144.661402010F-PC10-351/3PK.G.(111)0141.151444010F-PC10^351KK.LiF(200)136.701402010F-PC10^301CaK.LiF(200)113.151102010F-PC10^-351/3TiK.LiF(200)86.1988.504010F一PC10^-301V.,K.LiF(200)77784020F-PC5^351TiKa,CrK.LiF(200)69.4070.504020F-PC5^-351VKmMnK.LiF(200)63.0164.504020F-PC5^351CrKp,FeX。LiF(200)57.52552010SCs,7^-351/3BaL.,LiF(200)87.23884020F-PC10^-301TiK.NiK.LiF(200)48.6649.704020SC7^351CuK.LiF(200)45.02474020SC7^-351SrX。LiF(200)25.1325.704020SC7^-351ZrK.LiF(200)22.5423.204020SC7^-351Sr愉RhK.,LiF(200)18.8410SC7^-351注:1)对PK。线推荐采用不反射二级线的Ge(lll晶体，若用PET晶体，应扣除CaKe,I线对PK,线干扰。2)脉冲高度分析器的下限和上限。3)流气正比计数器。免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载 免费标准网(www.freebz.net)GB/T1450628一934)用于校正钒对铬的谱线重叠干扰。5)闪烁计数器.6)峰值是指实测值而非理论值.7.4-3.2背景校正采用一点法扣背景。计算公式为:IN=Ip-几···”·”··.··········”·””····”·········”·⋯(1)式中:IN—扣除背景的分析线强度;几—峰值强度;Ip—背景强度。7.4-3.3仪器漂移校正通过标准化测量校正仪器漂移。7.4.4工作曲线的绘制7.4-4.，标准样片的制备选用硅酸盐岩石、超基性岩石、砂岩、粘土、土壤和水系沉积物国家级标样作为标准样品绘制工作曲线。每个元素都应有一个具有足够的含量范围又有一定梯度的标准系列。如上述标样不能完全满足时，应加配适当人工混合标准补充之。工作曲线范围见表3,表3工作曲线范围%组分含量范围一组分含量范围1组分含量范围Na,O0.06-7.16}0.07-20.51Ni0.0002^0.25Mg00.08-41.03{0.01^-7.69}0.0004-0.12A1,0,0.21^36.74一0.002-0.32{0.0025-0.12Sio,18-98-98-51}0.0003-1.56Zr0.0029^-0.15P,O,0.004^-0.95}0.09-24.75K,O0.01-7.48一BaO0.005-0.21}标准样片的制备，按第7.4.1.1^7.4.1.5条步骤进行。7.4.4.2校准与校正校准、基体效应校正和谱线重叠干扰校正采用数学方法进行回归。计算公式为:W=(aI"+bl十c)(1TYa,,W,)+FMAW}..............................(2)式中:W;—标准样品中分析元素i的推荐值(或未知样品中分析元素2基体校正后的含量);a,b,c—分析元素i的校准曲线常数;r;—标准样品(或未知样品)中分析元素i的x射线强度(或内标强度比);a;;—元素i对分析元素i的影响系数(理论a系数);W—共存元素j的含量;尽，—干扰元素k对分析元素i的谱线重叠干扰校正系数;W,—干扰元素k的含量(或x射线强度)。标准样品分析元素i的推荐值经理论a系数校正基体效应得表观含量。分析元素的测量强度和表观含量，用公式(2)回归计算求得校准曲线常数a,b,ca镍、铜、银和错四元素则以强度与RhK。线康普顿散射强度之比值与推荐值回归分析进行校准。对有谱线重叠干扰的元素，则须进行谱线重叠干扰校正。当试样与熔剂之比为1:8时，消去烧失量的理论a系数计算值见表4,免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载 免费标准网(www.freebz.net)Ga/T1450628一93表4消去烧失量的理论a系数l拨Na,OMg0A1,03Sio,P,03K,OCaOTiO,v,03,)Cr,O,MnOFe,O,SaoNa,O0.0740.0950.1100.1210.1310.1600.1820.2200.2380.2860.3380.3590.373Mg00.3500.1070.1170.1310.1410.1630.1840.2230.2410.2890.3430.3630.528A1,030.3530.3870.1380.1430.1550.1650.1870.2250.2450.2940.3480.3690.628Siop0.3540.3880.4300.1710.1730.1690.1900.2280.2470.2960.3520.3740.651P20,0.3550.3900.4320.4710.2110.1710.1910.2290.2480.2990.3560.3770.672K,00.3520.3880.4320.4720.5250.3370.2100.1950.1980.2250.2650.2870.797cao0.3500.3860.4300.4710.5251.5840.3930.2130.2080.2350.2730.2910.848TiO,0.3500.3850.4310.4720.5271.6031.5960.4750.4410.2430.2680.2761.181V"O"D0.3510.3870.4320.4730.5301.6151.6090.4870.5170.5660.2730.2731.316Cr,O,0.3440.3810.4260.4680.5241.6121.6071.7400.5170.6640.6860.2662.894MnO0.3370.3750.4200.4620.5181.6091.6031.7391.8240.6630.8120.7013.759FeA0.3420.3790.4250.4670.5241.6231.6181.7561.8422.4670.8200.8384.322BaO0.3460.3840.4280.4690.5241.5991.5Q90.4390.4470.3270.2890.2611.193!--一{注:1)仪器参数:入射角630，出射角400,X射线管靶角900,X射线管的被窗厚度1274m,锗靶:50kV,2)用于校正钒对铬的谱线重盈千扰。7-4-5测量7.4-5.1输入分析元素的有关参数输入分析元素测量条件，理论a系数和标样中各元素的含量(推荐值)。7.4-5.2测量标准化样品输入标准化样品名称，测量标准化样品的元素分析线强度。7.4-5.3测量标准样品输入标准样品名称，测量标准样品的元素分析线强度。7.4-5.4回归分析测得一系列标准样片各分析元素的强度，利用数学校正模式进行回归分析，求得校准曲线常数a、b、‘和谱线重叠干扰校正系数B;。存人计算机软件。7.4.5.5测量未知样品输人未知样品名称。先测量标准化样片，然后测量未知样片元素分析线的强度。8分析结果的计算测得未知样片分析元素的强度，由计算机软件按公式(z)计算含量并自动打印出分析结果。129免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载 免费标准网(www.freebz.net)Gs/T1450628一939精密度表5精密度表%组分(元素)水平范围重复性r再现性RSio,32^90-0.3147+0.0020mR=0.5029+0.0032mA120,0.30^-21-0.0667+0.0099mR=0.1037+0.0146mFe,O,0.31^-24-0.0590+0.0069mR=O.0855+0.0165mMg00.20^-40-0.0574+0.0073mR=0.0836+0.0171-Ca00.10^-10-0.0527m""a,aR=O.0616+0.0240mNa200.30-7.1r=0.0963+0.0168mR=O.1044+0.0476-K200.10-7.4-0.0115+0.0117mR=O.0213+0.0188mTiO,0.02-7.5-0.0076+0.010OmR=0.0085+0.0173mMnO0.02^-0.21-0.0020+0.037Cl.R=O.0040+0.0444mP,O,0.01^0.95-0.0055+0.0166mR=0.0071+0.0295mBa00.02-0.2-0-0050+0.0772mR=O.0100+0.0615mCrA0.005-1.3r=0.0164m"0"R=0.037W"e``Ni0.002^0.25-0.0010十0.0435-R=0.0328."""eCu0.002^-0.006r=0.0007+0.2141mR=O.0008+0.3932mSr0.0050.12-0.0011+0.0194mR=O.0017+0.0613m.Zr0.009^0.15r=0.0037_13111R=O.0019+0.0519-本精密度数据是在1990年，由六个实验室对28个试样所做的实验中确定的。附加说明:本标准由中华人民共和国地质矿产部提出。本标准由地质矿产部岩矿测试技术研究所归口。本标准由地质矿产部岩矿测试技术研究所、地质矿产部地球物理地球化学勘查研究所负责起草。本标准主要起草人李国会、颜茂弘、梁国立。130免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载'